[發(fā)明專利]一種檢測(cè)器的時(shí)間定時(shí)校正方法及裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201710493862.6
• 申請(qǐng)日: 2017-06-26
• 公開（公告）號(hào): CN107422364B
• 公開（公告）日: 2019-06-25
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 趙健;吳國(guó)城;王希;徐保偉;梁國(guó)棟;李楠
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 東軟醫(yī)療系統(tǒng)股份有限公司
• 主分類號(hào): G01T7/00
• 分類號(hào): G01T7/00;G01T1/29;A61B6/03
• 代理公司: 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227
• 代理人: 趙曉榮;王寶筠

1.一種檢測(cè)器的時(shí)間定時(shí)校正方法，其特征在于，包括：

由光量子信號(hào)的實(shí)際甄別時(shí)刻以及光量子信號(hào)上升沿的電壓獲得對(duì)應(yīng)的上升沿斜率；

根據(jù)所述上升沿斜率與時(shí)間漂移的線性關(guān)系獲得對(duì)應(yīng)的時(shí)間漂移；

由所述實(shí)際甄別時(shí)刻和所述時(shí)間漂移獲得真實(shí)甄別時(shí)刻。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測(cè)器的時(shí)間定時(shí)校正方法，其特征在于，由光量子信號(hào)的實(shí)際甄別時(shí)刻以及光量子信號(hào)上升沿的電壓獲得對(duì)應(yīng)的上升沿斜率，具體包括：

分別在兩個(gè)不同時(shí)間獲得所述光量子信號(hào)的上升沿過程中的電壓信號(hào)；

將兩個(gè)不同時(shí)間獲得的電壓信號(hào)做差獲得電壓差，并獲得所述兩個(gè)不同時(shí)間的時(shí)間差；

將所述電壓差與時(shí)間差的比值作為所述上升沿斜率。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測(cè)器的時(shí)間定時(shí)校正方法，其特征在于，還包括預(yù)先獲得所述上升沿斜率與時(shí)間漂移的線性關(guān)系，具體為：

獲得第一比較器翻轉(zhuǎn)的第一時(shí)間T_1-i，獲得第二比較器翻轉(zhuǎn)的第二時(shí)間T_2-i；所述第一比較器的第一端連接第一閾值電壓Th₁，所述第一比較器的第二端連接試驗(yàn)光量子信號(hào)；所述第二比較器的第一端連接第二閾值電壓Th₂，所述第二比較器的第二端連接所述試驗(yàn)光量子信號(hào)；其中|Th₁|＜|Th₂|；由所述T_1-i、T_2-i、Th₁和Th₂獲得上升沿斜率Ri＝|(Th₂-Th₁)/(T_2-i-T_1-i)|；i為事件標(biāo)識(shí)；

由所述試驗(yàn)光量子信號(hào)的實(shí)際甄別時(shí)刻和基準(zhǔn)源獲得的所述試驗(yàn)光量子信號(hào)的真實(shí)甄別時(shí)刻獲得時(shí)間漂移Tpiao＝|Tz-Ts|，其中Tz為真實(shí)甄別時(shí)刻，Ts為實(shí)際甄別時(shí)刻；所述T_1-i作為所述實(shí)際甄別時(shí)刻；

由至少兩組所述時(shí)間漂移和所述上升沿斜率通過擬合獲得所述線性關(guān)系的表達(dá)式。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的檢測(cè)器的時(shí)間定時(shí)校正方法，其特征在于，所述第一比較器翻轉(zhuǎn)的第一時(shí)間和第二比較器翻轉(zhuǎn)的第二時(shí)間由時(shí)間數(shù)字轉(zhuǎn)換器或現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列獲得。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測(cè)器的時(shí)間定時(shí)校正方法，其特征在于，預(yù)先獲得所述上升沿斜率與時(shí)間漂移的線性關(guān)系，具體包括：

獲得第三比較器的翻轉(zhuǎn)時(shí)間Ti，所述第三比較器翻轉(zhuǎn)時(shí)觸發(fā)模數(shù)轉(zhuǎn)換器采集所述光量子信號(hào)；所述第三比較器的第一端連接試驗(yàn)光量子信號(hào)，所述第三比較器的第二端連接第三閾值電壓；i為事件標(biāo)識(shí)；

Ri＝|(V₁-V₂)/T|，或其中，V₁和V₂為所述模數(shù)轉(zhuǎn)換器分別在第一采樣周期和第二采樣周期采集的所述試驗(yàn)光量子信號(hào)的電壓；V_i和V_i+1為所述模數(shù)轉(zhuǎn)換器分別在相鄰的兩個(gè)采樣周期采集的所述試驗(yàn)光量子信號(hào)的電壓；T為所述模數(shù)轉(zhuǎn)換器的采樣周期；

由所述試驗(yàn)光量子信號(hào)的實(shí)際甄別時(shí)刻和由基準(zhǔn)源獲得的所述試驗(yàn)光量子信號(hào)的真實(shí)甄別時(shí)刻獲得時(shí)間漂移Tpiao＝|Tz-Ts|，其中Tz為真實(shí)甄別時(shí)刻，Ts為實(shí)際甄別時(shí)刻；所述Ti作為所述實(shí)際甄別時(shí)刻；

由至少兩組所述時(shí)間漂移和所述上升沿斜率通過擬合獲得所述線性關(guān)系的表達(dá)式。

6.一種檢測(cè)器的時(shí)間定時(shí)校正裝置，其特征在于，包括：上升沿斜率獲得單元、時(shí)間漂移獲得單元和校正單元；

所述上升沿斜率獲得單元，用于由光量子信號(hào)的實(shí)際甄別時(shí)刻以及光量子信號(hào)上升沿的電壓獲得對(duì)應(yīng)的上升沿斜率；

所述時(shí)間漂移獲得單元，用于根據(jù)所述上升沿斜率與時(shí)間漂移的線性關(guān)系獲得對(duì)應(yīng)的時(shí)間漂移；

所述校正單元，用于由所述實(shí)際甄別時(shí)刻和所述時(shí)間漂移獲得真實(shí)甄別時(shí)刻。