[發明專利]一種識別單顆產品在QFN框架上位置信息的方法

有效

• 申請號: 201710493427.3
• 申請日: 2017-06-20
• 公開（公告）號: CN107221509B
• 公開（公告）日: 2020-10-13
• 發明（設計）人: 王玲;彭林源
• 申請（專利權）人: 南京矽邦半導體有限公司
• 主分類號: H01L21/67
• 分類號: H01L21/67
• 代理公司: 南京蘇高專利商標事務所(普通合伙) 32204
• 代理人: 呂朦

1.一種識別單顆產品在QFN框架上位置信息的方法，其特征在于，包括以下步驟：

S1：將QFN引線框架上的QFN產品進行排列，對每個QFN產品定義一個單顆排列矩陣，同一QFN引線框架上的不同QFN產品的單顆排列矩陣不同；所述單顆排列矩陣的整個矩陣中只有一個元素是蝕刻點；

S2：在單顆QFN產品的芯片基座增加蝕刻的點，得到蝕刻的點的排列矩陣，且蝕刻的點的排列矩陣與步驟S1中單顆FNQ產品的單顆排列矩陣相對應；在單顆QFN產品的芯片基座增加蝕刻的點的方法為干蝕刻或濕蝕刻中的一種；

S3：分別獲取步驟S1中單顆QFN產品在引線框架上單顆排列矩陣的位置信息與步驟S2中單顆QFN產品芯片基座增加蝕刻的點的排列矩陣的位置信息，將分別獲取的兩種位置信息相對應；然后取消待識別的單顆QFN產品在芯片基座相對應位置的蝕刻點；

S4：檢查單顆QFN產品在芯片基座增加蝕刻的點的排列矩陣，獲取檢查結果，獲取單顆QFN產品芯片基座增加蝕刻的點的排列矩陣中缺少的蝕刻點的位置信息，并將所述缺少的蝕刻點的位置信息與QFN框架上的單顆QFN產品的位置信息相對應，得到單顆QFN產品在QFN框架上面的位置。

2.根據權利要求1所述的識別單顆產品在QFN框架上位置信息的方法，其特征在于，所述識別單顆產品在QFN框架上位置信息的方法可實現對有特殊產品位置要求的實驗。

3.根據權利要求1所述的識別單顆產品在QFN框架上位置信息的方法，其特征在于，QFN框架上共有N行M列單顆產品，排列矩陣為N×M的矩陣。