[發明專利]對電容性感測測量結果進行歸一化以降低低接地質量和噪聲的影響

有效

• 申請號: 201710492585.7
• 申請日: 2017-06-26
• 公開（公告）號: CN107562253B
• 公開（公告）日: 2023-01-06
• 發明（設計）人: K.哈澤尼;J.K.雷諾
• 申請（專利權）人: 辛納普蒂克斯公司
• 主分類號: G06F3/041
• 分類號: G06F3/041;G06F3/044
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 李湘;鄭冀之

1.一種輸入設備，其包括：

輸入設備的感測區中的多個傳感器電極；以及

耦合至該多個傳感器電極的處理系統，該處理系統被配置成：

將第一多個電容性感測信號并行驅動到第一組多個傳感器電極上；

響應于驅動第一多個電容性感測信號來生成與第一組多個傳感器電極相對應的第一多個電容性測量結果；

使用第一多個電容性測量結果的組合來對與第一組中的多個傳感器電極之一相對應的第一電容性測量結果進行歸一化；以及

基于經過歸一化的第一電容性測量結果來確定輸入對象的位置，

其中該第一多個電容性測量結果的組合是與第一組多個傳感器電極相對應的所有第一多個電容性測量結果的總和。

2.根據權利要求1所述的輸入設備，其中該處理系統被配置成：

使用第一多個電容性測量結果的組合來對與第一組中的多個傳感器電極的第二傳感器電極相對應的第二電容性測量結果進行歸一化；以及

基于經過歸一化的第二電容性測量結果來確定輸入對象的位置。

3.根據權利要求2所述的輸入設備，其中基于第一和第二電容性測量結果來確定輸入對象的位置包括：

基于經過歸一化的第一和第二電容性測量結果來檢測電容的變化。

4.根據權利要求1所述的輸入設備，其中該處理系統被配置成執行絕對電容性感測以便為第一組多個傳感器電極生成第一多個電容性測量結果，并且其中第一多個電容性測量結果包括從將由模擬前端生成的輸出信號與基線測量結果進行比較而導出的增量信號。

5.根據權利要求1所述的輸入設備，其中以共用面板上的矩形陣列來布置該多個傳感器電極。

6.根據權利要求1所述的輸入設備，其中該處理系統被配置成：

將第二多個電容性感測信號并行驅動到第二組多個傳感器電極上，其中該第二組多個傳感器電極在感測區中；

生成通過驅動第二多個電容性感測信號而引起的與第二組多個傳感器電極相對應的第二多個電容性測量結果；

使用第二多個電容性測量結果的組合來對與第二組中的多個傳感器電極之一相對應的第二電容性測量結果進行歸一化；以及

基于經過歸一化的第二電容性測量結果來確定輸入對象的位置。

7.一種處理系統，其包括：

傳感器模塊，其被配置成將第一多個電容性感測信號并行驅動到第一組多個傳感器電極上；

確定模塊，其被配置成:

響應于驅動第一多個電容性感測信號來生成與第一組多個傳感器電極相對應的第一多個電容性測量結果；

使用第一多個電容性測量結果的組合來對與第一組中的多個傳感器電極之一相對應的第一電容性測量結果進行歸一化；以及

基于經過歸一化的第一電容性測量結果來確定輸入對象的位置，

其中該第一多個電容性測量結果的組合是與第一組多個傳感器電極相對應的所有第一多個電容性測量結果的總和。

8.根據權利要求7所述的處理系統，其中該確定模塊被配置成：

使用第一多個電容性測量結果的組合來對與第一組中的多個傳感器電極的第二傳感器電極相對應的第二電容性測量結果進行歸一化；以及

基于經過歸一化的第二電容性測量結果來確定輸入對象的位置。

9.根據權利要求8所述的處理系統，其中基于第一和第二電容性測量結果來確定輸入對象的位置包括：

基于經過歸一化的第一和第二電容性測量結果來檢測電容的變化。

10.根據權利要求7所述的處理系統，其中該確定模塊被配置成執行絕對電容性感測以便為第一組多個傳感器電極生成第一多個電容性測量結果。

11.根據權利要求7所述的處理系統，其中確定輸入對象的位置包括：

確定輸入對象在由多個傳感器電極建立的感測區內的位置。