[發(fā)明專利]一種觸頭參數(shù)檢測(cè)電路在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710491342.1 | 申請(qǐng)日: | 2017-06-26 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN107271816A | 公開(kāi)(公告)日: | 2017-10-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 姜勇 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 樂(lè)清市三江自動(dòng)化設(shè)備有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/00 | 分類號(hào): | G01R31/00 |
| 代理公司: | 暫無(wú)信息 | 代理人: | 暫無(wú)信息 |
| 地址: | 325604 浙*** | 國(guó)省代碼: | 浙江;33 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 參數(shù) 檢測(cè) 電路 | ||
1.一種觸頭參數(shù)檢測(cè)電路,包括線位移傳感器電路(1)、信號(hào)脈沖電路(9)、檢測(cè)采樣電路(11)、線圈吸合繼電器驅(qū)動(dòng)電路(12)、時(shí)鐘震蕩電路(13)和電機(jī)驅(qū)動(dòng)電路(14),其特征在于:所述線位移傳感器電路(1)內(nèi)含有線位移傳感器輸入端口(2)、集成芯片(3)、第一異或門(mén)芯片(4)、第二異或門(mén)芯片(5)、第一與門(mén)芯片(6)和第二與門(mén)芯片(7),所述線位移傳感器輸入端口(2)的三、四號(hào)接線端子分別與集成芯片(3)的引腳2、3連接,所述集成芯片(3)的引腳10、12相連形成回路,集成芯片(3)的引腳11、13分別并聯(lián)接在回路上,所述第一異或門(mén)芯片(4)的輸入端口4和5分別與集成芯片(3)的引腳11和12所連接的電路相連,所述第二異或門(mén)芯片(5)的輸入端口1、2分別與集成芯片(3)的引腳10、13所連接的電路相連,所述第一與門(mén)芯片(6)的輸入端口2與第一異或門(mén)芯片(4)的輸出端口連接,第一與門(mén)芯片(6)的輸入端口1與第二與門(mén)芯片(7)的輸入端口5連接,所述第二與門(mén)芯片(7)的輸入端口4與第二異或門(mén)芯片(5)的輸出端口連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種觸頭參數(shù)檢測(cè)電路,其特征在于:所述信號(hào)脈沖電路(9)包括處理芯片(10),所述處理芯片(10)的引腳16、引腳17分別與第二與門(mén)芯片(7)和第一與門(mén)芯片(6)的輸出端口連接,處理芯片(10)的引腳14和15相連形成回路。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種觸頭參數(shù)檢測(cè)電路,其特征在于:所述檢測(cè)采樣電路(11)由光電耦合器T組成,光電耦合器T由發(fā)光二極管和三極管組成,光電耦合器T共設(shè)置10組。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種觸頭參數(shù)檢測(cè)電路,其特征在于:所述線圈吸合繼電器驅(qū)動(dòng)電路(12)包括發(fā)光二極管D2、三極管Q1和電解電容C1,發(fā)光二極管D2的輸入端與電源VCC電連接,發(fā)光二極管D2的輸出端與三極管Q1的集電極連接,所述電解電容C1的正極與三極管Q1的基級(jí)連接,電解電容C1的負(fù)極與三極管Q1的發(fā)射極連接。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種觸頭參數(shù)檢測(cè)電路,其特征在于:所述時(shí)鐘震蕩電路(13)包括晶振Y1、電容C2和電容C3,晶振Y1與處理芯片(10)的引腳20、21連接,電容C2與電容C3并聯(lián)在晶振Y1的一側(cè)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種觸頭參數(shù)檢測(cè)電路,其特征在于:所述電機(jī)驅(qū)動(dòng)電路(14)包括直流電源DC、三極管Q2和電解電容C4,直流電源DC與三極管Q2的集電極電連接,電解電容C4的正極與三極管Q2的基級(jí)連接,電解電容C4的負(fù)極與三極管Q2的發(fā)射極連接。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種觸頭參數(shù)檢測(cè)電路,其特征在于:所述第一與門(mén)芯片(6)與第二與門(mén)芯片(7)之間還設(shè)置有第三異或門(mén)芯片(8),第三異或門(mén)芯片(8)的輸出端口連接在第一與門(mén)芯片(6)與第二與門(mén)芯片(7)所連接的電路上,第三異或門(mén)芯片(8)的輸入接口9和10分別連接在第一異或門(mén)芯片(4)與第一與門(mén)芯片(6)、第二異或門(mén)芯片(5)與第二與門(mén)芯片(7)所連接的電路上。
8.根據(jù)權(quán)利要求1或7所述的一種觸頭參數(shù)檢測(cè)電路,其特征在于:所述第一與門(mén)芯片(6)和第二與門(mén)芯片(7)均為一種74LS08型號(hào)的芯片。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于樂(lè)清市三江自動(dòng)化設(shè)備有限公司,未經(jīng)樂(lè)清市三江自動(dòng)化設(shè)備有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201710491342.1/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)





