[發明專利]一種陶瓷基復合材料的太赫茲無損檢測方法有效
| 申請號： | 201710490924.8 | 申請日： | 2017-06-23 |
| 公開（公告）號： | CN107356599B | 公開（公告）日： | 2020-02-18 |
| 發明（設計）人： | 邵桂芳;李鐵軍 | 申請（專利權）人： | 廈門大學 |
| 主分類號： | G01N21/88 | 分類號： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 廈門市精誠新創知識產權代理有限公司 35218 | 代理人： | 何家富 |
| 地址： | 361000 *** | 國省代碼： | 福建;35 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 陶瓷 復合材料 赫茲 無損 檢測 方法 | ||
1.一種陶瓷基復合材料的太赫茲無損檢測方法，其特征在于，包括下列步驟：
S1、建立穩定的太赫茲無損檢測成像測試系統；
S2、應用步驟S1建立的太赫茲無損檢測成像測試系統對由陶瓷基復合材料制成的試樣進行太赫茲無損檢測成像測試；
S3、對步驟S2得到的試樣太赫茲圖像進行后期處理，包括圖像融合步驟和/或圖像分割步驟，以識別出試樣的缺陷；
所述圖像分割步驟包括OTSU閾值分割方法和邊緣分割方法；
所述OTSU閾值分割方法包括下列步驟：
(1)讀取待分割圖像上每個像素點的灰度值信息；
(2)設圖像有L個灰度級，統計每個灰度級i對應的像素點數，記為N(i)；圖像總像素點數為N＝N(1)+N(2)+…+N(L)，其中，L＝256，灰度級為i的像素，其實際灰度值為(i-1)；
(3)根據式6計算圖像全部像素的灰度平均值，記為M；
(4)按照任意一個灰度級t，將圖像分為前景部分和背景部分，根據式7計算前景和背景兩部分的像素數占總像素數的比例，分別記為PA(t)和PB(t)；
(5)根據式8計算前景和背景兩部分像素的灰度平均值，分別記為MA(t)和MB(t)；
(6)根據式9計算兩部分的類間方差，記為ICV(t)；
ICV(t)＝PA(t)×[MA(t)-M]2+PB(t)×[MB(t)-M]2 (9)
(7)返回步驟(4)，遍歷t的各種取值，找到使類間方差最大時所對應的灰度級T；
(8)以灰度級T作為閾值，將圖像中每個像素點的灰度級與該閾值進行比較，灰度級小于該閾值的像素點設置為1，即黑色，反之設置為0，即白色，并重新進行成像。
2.如權利要求1所述的陶瓷基復合材料的太赫茲無損檢測方法，其特征在于，所述步驟S2包括太赫茲時域模式成像步驟和太赫茲頻域模式成像步驟。
3.如權利要求2所述的陶瓷基復合材料的太赫茲無損檢測方法，其特征在于，所述太赫茲時域模式成像步驟包括下列步驟：
(1)利用所述太赫茲無損檢測成像測試系統中的太赫茲透射型時域光譜系統，獲取樣品每個像素點上的太赫茲時域波形，并保存數據；
(2)讀取樣品某一列像素點的所有行的數據，并存取在矩陣中，矩陣中第一列為時域上的時間，單位為ps；第二列至最后一列依次存取樣品該列像素點在每行的幅值；
(3)對于不同的成像方法，選取相應的參數值作為像素點的灰度值；
(4)重復步驟(2)、(3)，直至獲取樣品中所有像素點的灰度值；
(5)將按照不同方法計算出的像素點灰度值，根據公式1按比例擴展到[0,255]之間，
其中，m為原灰度值，mmin和mmax分別為原灰度值中的最小值和最大值，M為變換后的灰度值，Mmin和Mmax分別為變換后灰度值的最小值和最大值，即Mmin＝0，Mmax＝255；
(6)調用所述太赫茲無損檢測成像測試系統中的MATLAB中的IMSHOW函數進行成像。
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