[發(fā)明專利]一種減少開關(guān)電容采樣噪聲的技術(shù)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710490919.7 | 申請(qǐng)日： | 2017-06-27 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN109150189A | 公開（公告）日： | 2019-01-04 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 李高林 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 上海卓弘微系統(tǒng)科技有限公司 |
| 主分類號(hào)： | H03M3/00 | 分類號(hào)： | H03M3/00 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 201399 上海市浦東新區(qū)*** | 國省代碼： | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 開關(guān)電容 采樣技術(shù) 熱噪聲 采樣電容 采樣過程 采樣階段 采樣噪聲 積分階段 開關(guān)電阻 傳統(tǒng)的 電容 引入 電路 瓶頸 | ||
【權(quán)利要求書】：
1.一種基于開關(guān)電容的新型采樣電路，該電路通過在采樣階段引入額外的電容，可以有效地降低由于開關(guān)等效電阻引入的熱噪聲，即大幅度提高采樣精度；同時(shí)在采樣階段斷開該電容與電路的聯(lián)系，使之不會(huì)對(duì)積分電路造成影響，即不會(huì)影響原電路的積分系數(shù)。
2.如權(quán)利要求1，該電路的特征在于額外的采樣電容，該電容與原采樣電容在采樣階段進(jìn)行并聯(lián)。
3.如權(quán)利要求2，該電路的特征在于引入額外的采樣電容降低采樣噪聲，卻在積分階段將其斷開，使該電容不會(huì)在積分階段給電路引入額外負(fù)擔(dān)，也不會(huì)影響電路的積分系數(shù)。
下載完整專利技術(shù)內(nèi)容需要扣除積分，VIP會(huì)員可以免費(fèi)下載。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息，商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于上海卓弘微系統(tǒng)科技有限公司，未經(jīng)上海卓弘微系統(tǒng)科技有限公司許可，擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作，請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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