[發(fā)明專利]一種晶體管參數(shù)化模塊單元

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201710488909.X
• 申請日: 2017-06-27
• 公開（公告）號: CN109145324A
• 公開（公告）日: 2019-01-04
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 沈立
• 申請（專利權(quán)）人: 上海卓弘微系統(tǒng)科技有限公司
• 主分類號: G06F17/50
• 分類號: G06F17/50
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發(fā)明提供了小尺寸匹配晶體管參數(shù)化模塊單元，以提高繪制版圖的效率，改善版圖的穩(wěn)定性，其中所述的帶參數(shù)的小尺寸匹配晶體管模塊單元，由兩個固定匹配連接關(guān)系的晶體管組成。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及集成電路和功率器件領(lǐng)域，尤其涉及模擬集成電路和功率器件設(shè)計后端。

背景技術(shù)

集成電路設(shè)計包括前端設(shè)計和后端設(shè)計兩個階段，前端設(shè)計負(fù)責(zé)邏輯實現(xiàn)，通常是使用verilog/VHDL之類語言，進(jìn)行行為級的描述。后端設(shè)計是指將前端設(shè)計產(chǎn)生的門級網(wǎng)表通過EDA設(shè)計工具進(jìn)行布局布線和進(jìn)行物理驗證并最終產(chǎn)生供制造用的GDS文件的過程，其主要工作職責(zé)有：芯片物理結(jié)構(gòu)分析、邏輯分析、建立后端設(shè)計流程、版圖布局布線、版圖編輯、版圖物理驗證、聯(lián)絡(luò)晶圓廠并提交生產(chǎn)數(shù)據(jù)。所謂GDS文件，是一種圖形化的文件，是集成電路版圖的一種格式。

隨著混合信號設(shè)計復(fù)雜性的日趨增加，開發(fā)工藝設(shè)計工具包（PDK，ProcessDesign Kit）并建立驗證參考流程對于降低昂貴的設(shè)計反復(fù)所帶來的市場風(fēng)險是非常重要的。一般來說，晶圓廠會根據(jù)工藝技術(shù)的要求定制PDK的設(shè)計組件，每個工藝都會有一套對應(yīng)的PDK。

PDK是為模擬/混合信號IC電路設(shè)計而提供的完整工藝文件集合，是連接IC設(shè)計和IC工藝制造的數(shù)據(jù)平臺。PDK的內(nèi)容包括：

器件模型（Device Model）：由Foundry提供的仿真模型文件；

符號和視圖（Symbols & View）：用于原理圖設(shè)計的符號，參數(shù)化的設(shè)計單元都通過了SPICE仿真的驗證；

組件描述格式（CDF，Component Description Format）和Callback函數(shù)：器件的屬性描述文件，定義了器件類型、器件名稱、器件參數(shù)及參數(shù)調(diào)用關(guān)系函數(shù)集Callback、器件模型、器件的各種視圖格式等；

參數(shù)化單元（Pcell，Parameterized Cell）：它由Cadence的SKILL語言編寫，其對應(yīng)的版圖通過了設(shè)計規(guī)則檢查（DRC，design rule check）和版圖與電路圖（LVS）驗證，方便設(shè)計人員進(jìn)行原理圖驅(qū)動的版圖（Schematic Driven Layout）設(shè)計流程；

技術(shù)文件（Technology File）：用于版圖設(shè)計和驗證的工藝文件，包含GDSII的設(shè)計數(shù)據(jù)層和工藝層的映射關(guān)系定義、設(shè)計數(shù)據(jù)層的屬性定義、在線設(shè)計規(guī)則、電氣規(guī)則、顯示色彩定義和圖形格式定義等；

物理驗證規(guī)則（PV Rule）文件：包含版圖驗證文件DRC/LVS/RC提取，支持Cadence的Diva、Dracula、Assura等。

其中參數(shù)化單元（Pcell）中的參數(shù)指的就是CDF參數(shù)，它們的組合能夠?qū)崿F(xiàn)用戶定制的所有功能，是PDK的核心部分。實際上，PDK的庫就是指所有參數(shù)化單元的合集。具體來說，參數(shù)化單元有以下作用：

（1）可以加速插入版圖的數(shù)據(jù)，避免了單元的重復(fù)創(chuàng)建；

（2）節(jié)省了物理磁盤的空間，相似部分可以被連接到相同的資源；

（3）避免了因為要維護(hù)相同單元的多個版本而發(fā)生的錯誤；

（4）實現(xiàn)了層級的編輯功能，不需要為了改變版圖的設(shè)計而去改變層級結(jié)構(gòu)。

總之，如果擁有了經(jīng)過驗證的參數(shù)化單元結(jié)構(gòu)、符號及規(guī)則等優(yōu)化集合的PDK，IC設(shè)計人員的工作就能從繁瑣易錯的任務(wù)中解脫出來而變得高質(zhì)量且富有效率。