[發(fā)明專利]一種平度檢具及采用該檢具的平度測量方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201710486201.0
• 申請日: 2017-06-23
• 公開（公告）號: CN107504890B
• 公開（公告）日: 2020-05-08
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 唐國鑫;袁世軍;婁心永;崔日凱;晉五九;楊林;許雪萍
• 申請（專利權(quán)）人: 奇瑞汽車股份有限公司
• 主分類號: G01B5/28
• 分類號: G01B5/28
• 代理公司: 廣州中瀚專利商標(biāo)事務(wù)所 44239
• 代理人: 黃洋;蓋軍

1.一種平度檢具，其特征在于包括圓柱形基體，所述基體的一端沿基體中軸線安裝有突出的圓柱形探針，基體的另一端設(shè)有環(huán)形的限位擋塊，所述限位擋塊突出于基體，且限位擋塊朝向探針一側(cè)的側(cè)面垂直于基體的中軸線；所述基體內(nèi)部設(shè)有貫穿的通孔，所述通孔朝向探針的一端為錐形孔；所述通孔內(nèi)安裝有對中緊固環(huán)，所述對中緊固環(huán)的一端為若干個夾爪，另一端的端面為平面，所述探針夾設(shè)于所述若干個夾爪中間；所述通孔還設(shè)有內(nèi)螺紋，并通過螺紋配合安裝有緊固螺栓，所述緊固螺栓與對中緊固環(huán)相抵，從而將對中緊固環(huán)向錐形孔的方向推動，并將對中緊固環(huán)固定于通孔內(nèi)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的平度檢具，其特征在于所述夾爪的內(nèi)側(cè)面設(shè)有防滑紋。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的平度檢具，其特征在于所述基體在探針的一側(cè)可拆卸地安裝有保護蓋。

4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的平度檢具，其特征在于所述基體表面設(shè)有防滑紋。

5.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的平度檢具，其特征在于所述基體與限位擋塊為分體結(jié)構(gòu)，所述限位擋塊通過螺紋配合固定于基體的端部。

6.采用權(quán)利要求1所述平度檢具的平度測量方法，其特征在于包括如下步驟：

A：將長方體狀的基準(zhǔn)塊放置在被測量部件的旁側(cè)，并將基準(zhǔn)塊的頂面調(diào)整至水平狀態(tài)；

B：將檢具放置在基準(zhǔn)塊的頂面，并使檢具的限位擋塊與基準(zhǔn)塊的側(cè)面相抵；

C：將三角間隙尺塞入檢具的探針和被測量部件之間，并使三角間隙尺的底面與被測量部件緊密接觸，使三角間隙尺與探針相抵；被測量部件的測量位置的平度a=D-d，所述D為三角間隙尺與探針接觸部位的數(shù)值，所述d為基體半徑與探針半徑之差。