[發明專利]一種顯示面板的老化測試系統及方法

有效

• 申請號: 201710485956.9
• 申請日: 2017-06-23
• 公開（公告）號: CN107170911B
• 公開（公告）日: 2019-01-04
• 發明（設計）人: 涂愛國;方俊雄;吳聰原;李金川;姜亮;魏鋒
• 申請（專利權）人: 深圳市華星光電技術有限公司
• 主分類號: H01L51/56
• 分類號: H01L51/56;H01L51/00
• 代理公司: 深圳市威世博知識產權代理事務所(普通合伙) 44280
• 代理人: 鐘子敏

本發明公開了一種顯示面板的老化測試系統及方法。該老化測試系統包括真空腔體、點燈機構、至少一個光譜儀和至少一個相機，其中，真空腔體用于老化顯示面板，并且真空腔體設置點燈機構、光譜儀和相機；點燈機構用于點亮顯示面板；光譜儀用于檢測顯示面板的色坐標和亮度；相機用于檢測顯示面板的子像素的暗點缺陷。因此，本發明能夠節約檢測的時長，提高檢測效率，并且簡化了顯示面板的量產線的設計，節省檢測設備，從而降低檢測成本。

技術領域

本發明涉及顯示技術領域，尤其是涉及一種顯示面板的老化測試系統及方法。

背景技術

有機電激發光二極管(OLED)由于同時具備自發光，不需背光源、對比度高、厚度薄、視角廣、反應速度快、可用于撓曲性面板、使用溫度范圍廣、構造及制程較簡單等優異之特性，被認為是下一代的平面顯示器新興應用技術。

OLED器件結構是由陽極、陰極以及夾在陽極和陰極之間的有機功能層構成。其中的有機功能層包括HIL(空穴注入層)、HTL(空穴傳輸層)、EML(發光層)、ETL(電子傳輸層)、EIL(電子注入層)等層構成。

為了擴大有機發光器件的應用范圍并將有機發光器件商業化，已經發展增加該有機發光器件的效率和降低驅動電壓的技術。

OLED已經在中小尺寸得到廣泛應用，大尺寸OLED電視已經開始商品化。和中小尺寸OLED相比，大尺寸OLED電視由于面積大，良率更難提升，生產時容易出現暗點、亮點等缺陷，在低灰階下，暗點引起的mura(不均勻，有斑點)更明顯。為解決上述缺陷，需要在OLED制程中加入在線老化工藝，通過在線老化來減少暗點等缺陷，提高大尺寸OLED面板良率。現有技術中，OLED顯示面板通過在線老化腔體后，再傳入附近的IVL(電流-電壓-亮度)點燈腔體檢測老化效果并進行篩選后進入封裝工序。由此造成所需的檢測時長過長，并且需要分別設置老化腔體和點燈腔體兩個腔體，設備成本高。

發明內容

本發明主要解決的技術問題是提供一種顯示面板的老化測試系統及方法，能夠節約檢測的時長，提高檢測效率，并且可以節省檢測設備，從而降低檢測成本。

為解決上述技術問題，本發明采用的一個技術方案是：提供一種顯示面板的老化測試系統，老化測試系統包括真空腔體、點燈機構、至少一個光譜儀和至少一個相機，其中：

所述真空腔體設置有用于老化所述顯示面板的老化設備，并且所述真空腔體設置所述點燈機構、光譜儀和相機；

所述點燈機構與所述顯示面板電連接，用于點亮所述顯示面板；

所述至少一個光譜儀位于所述顯示面板發出的光的光路上，用于檢測所述顯示面板的色坐標和亮度；

所述至少一個相機位于所述顯示面板發出的光的光路上，用于檢測顯示面板的子像素的暗點缺陷。

為解決上述技術問題，本發明采用的另一個技術方案是：提供一種顯示面板的老化測試方法，所述老化測試方法包括：

點亮所述顯示面板；

對所述顯示面板的色坐標和亮度進行檢測，同時對顯示面板的子像素的暗點缺陷進行檢測。

本發明的有益效果是：區別于現有技術的情況，本發明提供了一種顯示面板的老化測試系統及方法。該老化測試系統包括真空腔體、點燈機構、至少一個光譜儀和至少一個相機，其中，真空腔體設置有用于老化顯示面板的老化設備，并且真空腔體設置點燈機構、光譜儀和相機，點燈機構與顯示面板電連接，用于點亮顯示面板，至少一個光譜儀位于顯示面板發出的光的光路上，用于檢測顯示面板的色坐標和亮度，至少一個相機位于顯示面板發出的光的光路上，用于檢測顯示面板的子像素的暗點缺陷。因此，本發明將點燈機構和光譜儀、相機都設置在真空腔體中，使得可直接在真空腔體中完成老化及檢測老化的效果的工作，由此能夠節約檢測的時長，提高檢測效率，并且簡化了顯示面板的量產線的設計，節省檢測設備，從而降低檢測成本。