[發明專利]薄膜晶體管輸出特性模型修正方法有效
| 申請號: | 201710485895.6 | 申請日: | 2017-06-23 |
| 公開(公告)號: | CN107391802B | 公開(公告)日: | 2020-05-15 |
| 發明(設計)人: | 王明湘;韓志遠 | 申請(專利權)人: | 蘇州大學 |
| 主分類號: | G06F30/367 | 分類號: | G06F30/367 |
| 代理公司: | 蘇州市中南偉業知識產權代理事務所(普通合伙) 32257 | 代理人: | 馮瑞 |
| 地址: | 215000 *** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 薄膜晶體管 輸出 特性 模型 修正 方法 | ||
1.一種薄膜晶體管輸出特性模型修正方法,當薄膜晶體管工作在飽和區時,對漏極電流進行修正,其特征在于,所述方法具體包括:
通過將模型計算數據和實驗測量數據進行擬合,以確定適用于薄膜晶體管一組不同柵極電壓Vgs條件下輸出特性的同一擬合常數α;
采用如下修正公式確定修正后的漏極電流,
其中,Vdeff為有效漏極電壓,Vdeff=VD-Vdsat,VD為漏極電壓,Vdsat為過飽和電壓;
Id為適用于線性區的未加修正的漏極電流模型所求得的電流。
2.根據權利要求1所述的薄膜晶體管輸出特性模型修正方法,其特征在于,所述薄膜晶體管包括:非晶硅薄膜晶體管,多晶硅薄膜晶體管,非晶銦鎵鋅氧化物薄膜晶體管,氧化鋅薄膜晶體管,有機物薄膜晶體管。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于蘇州大學,未經蘇州大學許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201710485895.6/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





