[發(fā)明專利]半導(dǎo)體裝置以及半導(dǎo)體裝置的制造方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710485853.2 | 申請(qǐng)日: | 2017-06-23 |
| 公開(公告)號(hào): | CN107768422B | 公開(公告)日: | 2022-02-22 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 立道秀平;竹野入俊司 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 富士電機(jī)株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào): | H01L29/06 | 分類號(hào): | H01L29/06;H01L29/78;H01L21/265;H01L21/336 |
| 代理公司: | 北京銘碩知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11286 | 代理人: | 金玉蘭;王穎 |
| 地址: | 日本神奈*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體 裝置 以及 制造 方法 | ||
1.一種半導(dǎo)體裝置,其特征在于,在第1導(dǎo)電型半導(dǎo)體層的第1主面上具備并列pn層,該并列pn層沿與所述第1導(dǎo)電型半導(dǎo)體層的表面平行的方向交替地反復(fù)配置有第1導(dǎo)電型半導(dǎo)體區(qū)域和第2導(dǎo)電型半導(dǎo)體區(qū)域,
所述半導(dǎo)體裝置具備僅在所述第2導(dǎo)電型半導(dǎo)體區(qū)域?qū)氲?8族元素而成的第1區(qū)域。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體裝置,其特征在于,所述第1區(qū)域在從所述第1導(dǎo)電型半導(dǎo)體層的所述第1主面朝向第2主面的深度方向上以預(yù)定的第1間隔配置有多個(gè)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體裝置,其特征在于,所述第1區(qū)域設(shè)置在所述第2導(dǎo)電型半導(dǎo)體區(qū)域的內(nèi)部。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的半導(dǎo)體裝置,其特征在于,具備第2區(qū)域,該第2區(qū)域通過在所述第1導(dǎo)電型半導(dǎo)體區(qū)域?qū)氲?8族元素而成,
所述第2區(qū)域在所述深度方向上以預(yù)定的第2間隔配置有多個(gè)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的半導(dǎo)體裝置,其特征在于,所述第2區(qū)域設(shè)置在所述第1導(dǎo)電型半導(dǎo)體區(qū)域的內(nèi)部。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的半導(dǎo)體裝置,其特征在于,所述第2間隔大于所述第1間隔。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的半導(dǎo)體裝置,其特征在于,所述第2間隔大于所述第1間隔。
8.根據(jù)權(quán)利要求4所述的半導(dǎo)體裝置,其特征在于,所述第2間隔等于所述第1間隔。
9.根據(jù)權(quán)利要求5所述的半導(dǎo)體裝置,其特征在于,所述第2間隔等于所述第1間隔。
10.根據(jù)權(quán)利要求2所述的半導(dǎo)體裝置,其特征在于,1個(gè)以上的所述第1區(qū)域沿與所述第1導(dǎo)電型半導(dǎo)體層的表面平行的方向延伸,并且到達(dá)所述第2導(dǎo)電型半導(dǎo)體區(qū)域與所述第1導(dǎo)電型半導(dǎo)體區(qū)域的邊界。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的半導(dǎo)體裝置,其特征在于,1個(gè)以上的所述第1區(qū)域沿與所述第1導(dǎo)電型半導(dǎo)體層的表面平行的方向,以從所述第2導(dǎo)電型半導(dǎo)體區(qū)域遍及到所述第1導(dǎo)電型半導(dǎo)體區(qū)域的方式延伸。
12.根據(jù)權(quán)利要求4所述的半導(dǎo)體裝置,其特征在于,僅配置在所述第2導(dǎo)電型半導(dǎo)體區(qū)域的內(nèi)部的所述第1區(qū)域與沿與所述第1導(dǎo)電型半導(dǎo)體層的表面平行的方向以從所述第1導(dǎo)電型半導(dǎo)體區(qū)域遍及到所述第2導(dǎo)電型半導(dǎo)體區(qū)域的方式延伸的所述第2區(qū)域在深度方向上交替地反復(fù)配置。
13.根據(jù)權(quán)利要求1~12中任意一項(xiàng)所述的半導(dǎo)體裝置,其特征在于,還具備設(shè)置在所述第1導(dǎo)電型半導(dǎo)體層與所述第1導(dǎo)電型半導(dǎo)體區(qū)域之間的第1導(dǎo)電型低濃度半導(dǎo)體層,該第1導(dǎo)電型低濃度半導(dǎo)體層的雜質(zhì)濃度比所述第1導(dǎo)電型半導(dǎo)體區(qū)域的雜質(zhì)濃度低。
14.根據(jù)權(quán)利要求1~12中任意一項(xiàng)所述的半導(dǎo)體裝置,其特征在于,第18族元素是氬。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L29-00 專門適用于整流、放大、振蕩或切換,并具有至少一個(gè)電位躍變勢壘或表面勢壘的半導(dǎo)體器件;具有至少一個(gè)電位躍變勢壘或表面勢壘,例如PN結(jié)耗盡層或載流子集結(jié)層的電容器或電阻器;半導(dǎo)體本體或其電極的零部件
H01L29-02 .按其半導(dǎo)體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導(dǎo)體器件的類型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過對(duì)一個(gè)不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進(jìn)行控制的
H01L29-82 ..通過施加于器件的磁場變化可控的
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