[發(fā)明專利]用于操作坐標(biāo)測量機(jī)的方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201710485296.4
• 申請日: 2017-06-23
• 公開（公告）號: CN107543519A
• 公開（公告）日: 2018-01-05
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: S.E.亨明斯;A.帕茨瓦爾德
• 申請（專利權(quán)）人: 株式會社三豐
• 主分類號: G01B21/04
• 分類號: G01B21/04;G01B11/00
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務(wù)所11105
• 代理人: 張貴東

1.一種用于操作坐標(biāo)測量機(jī)CMM的方法，所述坐標(biāo)測量機(jī)包括CMM控制系統(tǒng)、通過輸出探頭工件測量來測量工件表面的表面掃描探頭、以及探頭測量定時(shí)子系統(tǒng)，該方法包括：

操作CMM控制系統(tǒng)以在可預(yù)測的時(shí)間輸出測量同步觸發(fā)信號；

操作探頭測量定時(shí)子系統(tǒng)以確定所述可預(yù)測的時(shí)間，并確定探頭工件測量采樣周期的當(dāng)前持續(xù)時(shí)間，在探頭工件測量采樣周期期間表面掃描探頭獲取與輸出的探頭工件測量的單個(gè)實(shí)例相關(guān)聯(lián)的測量數(shù)據(jù)；

操作探頭測量定時(shí)子系統(tǒng)以確定預(yù)觸發(fā)提前時(shí)間，所述預(yù)觸發(fā)提前時(shí)間是探頭工件測量采樣周期的當(dāng)前持續(xù)時(shí)間的一部分；

操作探頭測量定時(shí)子系統(tǒng)以在測量同步觸發(fā)信號的下一個(gè)可預(yù)測的時(shí)間之前的預(yù)觸發(fā)提前時(shí)間開始探頭工件測量采樣周期的當(dāng)前實(shí)例，并確定關(guān)聯(lián)的探頭工件測量的當(dāng)前實(shí)例；

操作CMM控制系統(tǒng)以在下一個(gè)可預(yù)測的時(shí)間輸出當(dāng)前的測量同步觸發(fā)信號，并鎖存與當(dāng)前的測量同步觸發(fā)信號相關(guān)聯(lián)的CMM位置坐標(biāo)值的當(dāng)前集合；以及

操作表面掃描探頭以在與當(dāng)前的測量同步觸發(fā)信號相關(guān)聯(lián)的時(shí)間輸出探頭工件測量的當(dāng)前實(shí)例，使得CMM控制系統(tǒng)將探頭工件測量的當(dāng)前實(shí)例與CMM位置坐標(biāo)值的當(dāng)前集合相關(guān)聯(lián)。

2.如權(quán)利要求1所述的方法，其中操作探頭測量定時(shí)子系統(tǒng)以確定預(yù)觸發(fā)提前時(shí)間包括：確定預(yù)觸發(fā)提前時(shí)間，其大約是探頭工件測量采樣周期的當(dāng)前持續(xù)時(shí)間的一半。

3.如權(quán)利要求1所述的方法，其中CMM控制系統(tǒng)以觸發(fā)頻率輸出重復(fù)的測量同步觸發(fā)信號，并且操作探頭測量定時(shí)子系統(tǒng)以確定可預(yù)測的時(shí)間包括：以觸發(fā)頻率輸入重復(fù)的測量同步觸發(fā)信號到探頭測量定時(shí)子系統(tǒng)，并確定重復(fù)的測量同步觸發(fā)信號的定時(shí)。

4.如權(quán)利要求3所述的方法，其中操作探頭測量定時(shí)子系統(tǒng)以在測量同步觸發(fā)信號的下一個(gè)可預(yù)測的時(shí)間之前的預(yù)觸發(fā)提前時(shí)間開始探頭測量采樣周期的當(dāng)前實(shí)例包括：在之前的測量同步觸發(fā)信號之后的時(shí)間開始探頭測量采樣周期的當(dāng)前實(shí)例，所述之前的測量同步觸發(fā)信號對應(yīng)于測量同步觸發(fā)信號的下一個(gè)可預(yù)測的時(shí)間之前的預(yù)觸發(fā)提前時(shí)間。

5.如權(quán)利要求1所述的方法，其中探頭測量定時(shí)子系統(tǒng)位于表面掃描探頭中。

6.如權(quán)利要求1所述的方法，其中探頭測量定時(shí)子系統(tǒng)位于CMM控制系統(tǒng)中。

7.如權(quán)利要求6所述的方法，其中探頭測量定時(shí)子系統(tǒng)位于CMM控制系統(tǒng)中的可互換的卡片中。

8.如權(quán)利要求7所述的方法，其中所述可互換的卡片具體地與特別是表面掃描探頭的模型或特別是表面掃描探頭的至少一個(gè)相關(guān)聯(lián)。

9.如權(quán)利要求1所述的方法，其中表面掃描探頭是接觸型表面掃描探頭，其感測觸針的偏移的變化量。

10.如權(quán)利要求1所述的方法，其中：

通過在測量同步觸發(fā)信號的下一個(gè)可預(yù)測的時(shí)間之前的預(yù)觸發(fā)提前時(shí)間t_lead輸出預(yù)觸發(fā)信號到表面掃描探頭，探頭測量定時(shí)子系統(tǒng)開始探頭工件測量采樣周期的當(dāng)前實(shí)例；

在單個(gè)探頭工件測量采樣周期期間，表面掃描探頭以采樣定時(shí)間隔t_cyc獲取n個(gè)樣本；

CMM控制系統(tǒng)以總系統(tǒng)延時(shí)t_lat接收來自表面掃描探頭的數(shù)據(jù)；以及

通過表達(dá)式確定預(yù)觸發(fā)提前時(shí)間t_presynch：

tlead=((n2)-1)tcyc+tlat+(tcyc2).]]>