[發明專利]電路裝置、物理量檢測裝置、電子設備和移動體在審
| 申請號: | 201710485286.0 | 申請日: | 2017-06-23 |
| 公開(公告)號: | CN107592114A | 公開(公告)日: | 2018-01-16 |
| 發明(設計)人: | 羽田秀生 | 申請(專利權)人: | 精工愛普生株式會社 |
| 主分類號: | H03M1/46 | 分類號: | H03M1/46 |
| 代理公司: | 北京三友知識產權代理有限公司11127 | 代理人: | 李輝,鄧毅 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 電路 裝置 物理量 檢測 電子設備 移動 | ||
1.一種電路裝置,其對模擬輸入信號進行A/D轉換,其特征在于,所述電路裝置包含:
控制電路,其具有保持逐次比較數據的逐次比較寄存器;
D/A轉換電路,其對來自所述逐次比較寄存器的輸出數據進行D/A轉換;以及
比較電路,其進行所述模擬輸入信號與來自所述D/A轉換電路的輸出信號的比較處理,
所述控制電路具有:上限值寄存器,其保持通過所述模擬輸入信號的A/D轉換而得到的A/D轉換結果數據的轉換范圍的上限值;以及下限值寄存器,其保持所述轉換范圍的下限值,
在逐次比較處理中,在所述比較電路輸出相同的比較結果達到規定次數以上的情況下,所述控制電路進行增大所述上限值的更新和減小所述下限值的更新中的至少一方。
2.根據權利要求1所述的電路裝置,其特征在于,
在所述逐次比較處理中,在所述比較電路從第一次的比較起輸出相同的比較結果達到所述規定次數以上的情況下,所述控制電路進行增大所述上限值的更新和減小所述下限值的更新中的至少一方。
3.根據權利要求1或2所述的電路裝置,其特征在于,
在所述比較電路輸出所述模擬輸入信號的電壓電平為來自所述D/A轉換電路的所述輸出信號的電壓電平以上的比較結果達到所述規定次數以上的情況下,所述控制電路進行增大所述上限值的更新,
在所述比較電路輸出所述模擬輸入信號的電壓電平小于來自所述D/A轉換電路的所述輸出信號的電壓電平的比較結果達到所述規定次數以上的情況下,所述控制電路進行減小所述下限值的更新。
4.根據權利要求1~3中的任意一項所述的電路裝置,其特征在于,
所述控制電路在所述上限值達到所述逐次比較數據的滿量程的上限的情況下將所述上限值更新為所述滿量程的上限,
在所述下限值達到所述逐次比較數據的所述滿量程的下限的情況下,將所述下限值更新為所述滿量程的下限。
5.根據權利要求1~4中的任意一項所述的電路裝置,其特征在于,
所述控制電路進行如下的冗余范圍附加處理:
在所述比較電路輸出所述模擬輸入信號的電壓電平為來自所述D/A轉換電路的所述輸出信號的電壓電平以上的比較結果的情況下,將所述下限值更新為更新前的所述下限值與所述逐次比較數據之間的值,
在所述比較電路輸出所述模擬輸入信號的電壓電平小于來自所述D/A轉換電路的所述輸出信號的電壓電平的比較結果的情況下,將所述上限值更新為更新前的所述上限值與所述逐次比較數據之間的值。
6.根據權利要求5所述的電路裝置,其特征在于,
在所述逐次比較處理中,所述控制電路在所述比較電路輸出相同的比較結果達到所述規定次數以上的情況下跳過所述冗余范圍附加處理。
7.根據權利要求5或6所述的電路裝置,其特征在于,
所述控制電路在由所述上限值和所述下限值設定的所述轉換范圍的大小變得小于規定范圍幅度的情況下跳過所述冗余范圍附加處理。
8.根據權利要求7所述的電路裝置,其特征在于,
所述控制電路在由所述上限值和所述下限值設定的所述轉換范圍變得小于所述范圍幅度的情況下,進行多次比較處理,該多次比較處理是使所述比較電路執行多次所述模擬輸入信號與來自所述D/A轉換電路的所述輸出信號的比較處理。
9.根據權利要求8所述的電路裝置,其特征在于,
所述電路裝置包含微小信號判定電路,該微小信號判定電路判定所述模擬輸入信號的電壓電平與來自所述D/A轉換電路的所述輸出信號的電壓電平之差的大小,
所述控制電路在由所述微小信號判定電路判定為微小信號的情況下進行所述冗余范圍附加處理或所述多次比較處理,
在由所述微小信號判定電路判定為非微小信號的情況下跳過所述冗余范圍附加處理和所述多次比較處理。
10.根據權利要求1~9中的任意一項所述的電路裝置,其特征在于,
所述逐次比較處理開始時的所述轉換范圍是包含上次的A/D轉換結果數據的規定范圍,
所述控制電路將所述規定范圍的上限值設定為所述上限值寄存器的值,將所述規定范圍的下限值設定為所述下限值寄存器的值。
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