[發明專利]一種用于檢測金屬孔中心的PCB渦流探頭及檢測方法

在審

• 申請號: 201710483428.X
• 申請日: 2017-06-22
• 公開（公告）號: CN107389785A
• 公開（公告）日: 2017-11-24
• 發明（設計）人: 徐春明;劉強;趙建平;張樂君;鐘貽兵;趙旭;潘力平
• 申請（專利權）人: 山東航天電子技術研究所
• 主分類號: G01N27/90
• 分類號: G01N27/90
• 代理公司: 北京理工大學專利中心11120
• 代理人: 郭德忠,李愛英

1.一種用于檢測金屬孔中心的PCB渦流探頭，其特征在于，包括電感探頭和檢測電路；

所述電感探頭為至少2層的PCB電路板，其中每層PCB電路板上設有2個并排且相互串聯的螺旋線圈，同時2個螺旋線圈的結構相同但繞向相反；層與層之間對應的螺旋線圈共軸，并通過過孔連接，使得所有層PCB電路板上的螺旋線圈均串接在一起，首末兩個端頭分別與檢測電路連接；

所述檢測電路為電感探頭提供交變電流，使電感探頭產生交變磁場。

2.如權利要求1所述的一種用于檢測金屬孔中心的PCB渦流探頭，其特征在于，所述檢測電路還包括電容，其中電容與電感探頭形成LC諧振電路。

3.如權利要求2所述的一種用于檢測金屬孔中心的PCB渦流探頭，其特征在于，所述檢測電路還包括指示燈，LC諧振電路的頻率與頻率理論最小值的差值小于設定閾值t時指示燈亮。

4.如權利要求1所述的一種用于檢測金屬孔中心的PCB渦流探頭，其特征在于，所述螺旋線圈為圓形。

5.如權利要求1所述的一種用于檢測金屬孔中心的PCB渦流探頭，其特征在于，每層PCB電路板上的螺旋線圈銅厚不小于1oz。

6.如權利要求1所述的一種用于檢測金屬孔中心的PCB渦流探頭，其特征在于，每層PCB電路板上的兩個螺旋線圈邊緣之間的間距尺寸最小值與被測金屬孔直徑的比例系數K1為0.2～0.3。

7.如權利要求1所述的一種用于檢測金屬孔中心的PCB渦流探頭，其特征在于，每層PCB電路板上的單個螺旋線圈的直徑與被測金屬孔直徑的比例系數K2為0.8～1.2。

8.一種基于權利要求2所述的用于檢測金屬孔中心的PCB渦流探頭的檢測方法，其特征在于，在電感探頭滑過被測金屬孔的過程中，通過檢測LC諧振電路的頻率，判斷電感探頭是否檢測到被測金屬孔中心；具體的，如果LC諧振電路的頻率與頻率理論最小值的差值小于設定閾值t，則此時2個螺旋線圈中心之間的間距中點為被測金屬孔中心，否則電感探頭沒有檢測到被測金屬孔中心。

9.一種如權利要求8所述的用于檢測金屬孔中心的PCB渦流探頭的檢測方法，其特征在于，在電感探頭上設置指示燈，當LC諧振電路的頻率與頻率理論最小值的差值小于設定閾值t時指示燈點亮。

10.如權利要求8或9所述的一種用于檢測金屬孔中心的PCB渦流探頭的檢測方法，其特征在于，電感探頭與被測金屬孔之間的檢測垂直距離不大于單個螺旋線圈直徑的1/3。