[發(fā)明專利]一種調(diào)整國產(chǎn)處理器的內(nèi)存參數(shù)的方法及裝置

在審

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• 申請日: 2017-06-22
• 公開（公告）號: CN107301103A
• 公開（公告）日: 2017-10-27
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 張雁鵬;于曉艷
• 申請（專利權(quán)）人: 濟(jì)南浪潮高新科技投資發(fā)展有限公司
• 主分類號: G06F11/07
• 分類號: G06F11/07
• 代理公司: 濟(jì)南信達(dá)專利事務(wù)所有限公司37100
• 代理人: 李世喆

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及計(jì)算機(jī)技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種調(diào)整國產(chǎn)處理器的內(nèi)存參數(shù)的方法及裝置。

背景技術(shù)

隨著國產(chǎn)處理器的技術(shù)進(jìn)步與行業(yè)發(fā)展加速，目前涉及國產(chǎn)處理器的設(shè)計(jì)研發(fā)廠商越來越多。由于國產(chǎn)處理器的架構(gòu)與X86架構(gòu)的處理器存在較大差異，國產(chǎn)處理器平臺在內(nèi)存子系統(tǒng)方面無法像X86平臺一樣做到即插即用，在硬件調(diào)試完成后，需要進(jìn)行內(nèi)存參數(shù)的調(diào)整工作，并將調(diào)整后的內(nèi)存參數(shù)寫入固件中，才能使內(nèi)存子系統(tǒng)正常工作。

現(xiàn)有技術(shù)中，在進(jìn)行內(nèi)存參數(shù)的調(diào)整適配時(shí)，需要通過人工來實(shí)現(xiàn)，實(shí)現(xiàn)過程比較復(fù)雜。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明實(shí)施例提供了一種調(diào)整國產(chǎn)處理器的內(nèi)存參數(shù)的方法及裝置，能夠更加簡單地調(diào)整內(nèi)存參數(shù)。

一方面，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種調(diào)整國產(chǎn)處理器的內(nèi)存參數(shù)的方法，包括：

預(yù)先設(shè)置內(nèi)存參數(shù)的調(diào)整規(guī)則；

S1：部署在待調(diào)試設(shè)備中的調(diào)試模塊向調(diào)試端發(fā)送待調(diào)試信息，其中，所述待調(diào)試設(shè)備按照當(dāng)前內(nèi)存參數(shù)運(yùn)行；

S2：所述調(diào)試端根據(jù)所述待調(diào)試信息，向所述調(diào)試模塊發(fā)送內(nèi)存參數(shù)調(diào)試指令；

S3：所述調(diào)試模塊在接收到所述內(nèi)存參數(shù)調(diào)試指令后，根據(jù)所述內(nèi)存參數(shù)調(diào)試指令，獲取所述待調(diào)試設(shè)備的所述當(dāng)前內(nèi)存參數(shù)，將所述當(dāng)前內(nèi)存參數(shù)發(fā)送給所述調(diào)試端；

S4：所述調(diào)試端判斷所述當(dāng)前內(nèi)存參數(shù)中是否存在異常，如果是，根據(jù)所述當(dāng)前內(nèi)存參數(shù)和所述內(nèi)存參數(shù)的調(diào)整規(guī)則進(jìn)行調(diào)整處理，生成調(diào)整后的內(nèi)存參數(shù)，將所述調(diào)整后的內(nèi)存參數(shù)發(fā)送給所述調(diào)試模塊；

S5：所述調(diào)試模塊接收所述調(diào)整后的內(nèi)存參數(shù)，將所述調(diào)整后的內(nèi)存參數(shù)作為所述當(dāng)前內(nèi)存參數(shù)，重新啟動所述待調(diào)試設(shè)備，返回步驟S1。

進(jìn)一步地，

當(dāng)所述內(nèi)存參數(shù)為內(nèi)存阻抗時(shí)，

所述內(nèi)存參數(shù)調(diào)試指令為內(nèi)存阻抗調(diào)試指令；

所述當(dāng)前內(nèi)存參數(shù)為當(dāng)前內(nèi)存阻抗；

所述內(nèi)存參數(shù)的調(diào)整規(guī)則為內(nèi)存阻抗的調(diào)整規(guī)則；

所述S3，包括：

所述調(diào)試模塊在接收到所述內(nèi)存阻抗調(diào)試指令后，根據(jù)所述內(nèi)存阻抗調(diào)試指令，獲取所述待調(diào)試設(shè)備的所述當(dāng)前內(nèi)存阻抗，將所述當(dāng)前內(nèi)存阻抗發(fā)送給所述調(diào)試端；

所述調(diào)試模塊在接收到所述內(nèi)存阻抗調(diào)試指令后，進(jìn)一步包括：

對所述待調(diào)試設(shè)備的內(nèi)存進(jìn)行讀寫測試，確定讀寫測試的當(dāng)前第一測試結(jié)果，將所述當(dāng)前第一測試結(jié)果發(fā)送給所述調(diào)試端；

所述S4，包括：

所述調(diào)試端根據(jù)所述當(dāng)前第一測試結(jié)果，判斷所述當(dāng)前內(nèi)存阻抗是否存在異常，如果是，則根據(jù)所述當(dāng)前內(nèi)存阻抗和所述內(nèi)存阻抗的調(diào)整規(guī)則進(jìn)行調(diào)整處理，生成調(diào)整后的內(nèi)存阻抗，將所述調(diào)整后的內(nèi)存阻抗發(fā)送給所述調(diào)試模塊；

所述S5，包括：

所述調(diào)試模塊接收所述調(diào)整后的內(nèi)存阻抗，將所述調(diào)整后的內(nèi)存阻抗作為所述當(dāng)前內(nèi)存阻抗，重新啟動所述待調(diào)試設(shè)備，返回步驟S1。

進(jìn)一步地，

當(dāng)所述內(nèi)存參數(shù)為內(nèi)存電壓時(shí)，

所述內(nèi)存參數(shù)調(diào)試指令為內(nèi)存電壓調(diào)試指令；

所述當(dāng)前內(nèi)存參數(shù)為當(dāng)前內(nèi)存電壓；

所述內(nèi)存參數(shù)的調(diào)整規(guī)則為內(nèi)存電壓的調(diào)整規(guī)則；

所述S3，包括：

所述調(diào)試模塊在接收到所述內(nèi)存電壓調(diào)試指令后，根據(jù)所述內(nèi)存電壓調(diào)試指令，獲取所述待調(diào)試設(shè)備的所述當(dāng)前內(nèi)存電壓，將所述當(dāng)前內(nèi)存電壓發(fā)送給所述調(diào)試端；

所述調(diào)試模塊在接收到所述內(nèi)存電壓調(diào)試指令后，進(jìn)一步包括：

對所述待調(diào)試設(shè)備的內(nèi)存進(jìn)行讀寫測試，確定讀寫測試的當(dāng)前第二測試結(jié)果，將所述當(dāng)前第二測試結(jié)果發(fā)送給所述調(diào)試端；

所述S4，包括：

所述調(diào)試端根據(jù)所述當(dāng)前第二測試結(jié)果，判斷所述當(dāng)前內(nèi)存電壓是否存在異常，如果是，則根據(jù)所述當(dāng)前內(nèi)存電壓和所述內(nèi)存電壓的調(diào)整規(guī)則進(jìn)行調(diào)整處理，生成調(diào)整后的內(nèi)存電壓，將所述調(diào)整后的內(nèi)存電壓發(fā)送給所述調(diào)試模塊；

所述S5，包括：

所述調(diào)試模塊接收所述調(diào)整后的內(nèi)存電壓，將所述調(diào)整后的內(nèi)存電壓作為所述當(dāng)前內(nèi)存電壓，重新啟動所述待調(diào)試設(shè)備，返回步驟S1。

進(jìn)一步地，

當(dāng)所述調(diào)試端判斷出所述當(dāng)前內(nèi)存參數(shù)中不存在異常時(shí)，執(zhí)行：

A1：所述調(diào)試端向所述調(diào)試模塊發(fā)送正常啟動指令，以使所述待調(diào)試設(shè)備根據(jù)所述當(dāng)前內(nèi)存參數(shù)進(jìn)入操作系統(tǒng)；

A2：當(dāng)所述待調(diào)試設(shè)備成功進(jìn)入所述操作系統(tǒng)時(shí)，所述調(diào)試模塊向所述調(diào)試端發(fā)送系統(tǒng)啟動成功的信息；