[發明專利]陣列基板、顯示裝置以及傳感器電極的檢查方法

有效

• 申請號: 201710479813.7
• 申請日: 2017-06-22
• 公開（公告）號: CN107544720B
• 公開（公告）日: 2020-07-03
• 發明（設計）人: 福島俊明
• 申請（專利權）人: 株式會社日本顯示器
• 主分類號: G06F3/044
• 分類號: G06F3/044
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 張永明

1.一種陣列基板，具備：

基板；

傳感器電極，配置于所述基板，用于檢測靜電電容的變化；

引出布線，能夠與所述傳感器電極電連接，并且引出至所述基板的端部；

多個外部連接用焊盤，配置于所述基板的邊框區域；以及

邊框布線，連接所述傳感器電極和一個所述外部連接用焊盤之間，

其中，所述引出布線經由所述邊框布線和一個所述外部連接用焊盤，與所述傳感器電極連接，所述外部連接用焊盤的排列節距處于0.02mm以上0.6mm以下的范圍。

2.根據權利要求1所述的陣列基板，其中，

所述引出布線包括金屬層。

3.根據權利要求2所述的陣列基板，其中，

還具備柵極布線和源極布線，

所述金屬層包含與在所述柵極布線或者所述源極布線中包含的金屬材料相同的金屬材料。

4.根據權利要求2所述的陣列基板，其中，

還具備柵極布線和源極布線，

所述金屬層是與所述柵極布線或者所述源極布線相同的層。

5.根據權利要求2至4中任一項所述的陣列基板，其中，

所述引出布線的所述金屬層在所述基板的端部的切剖面中露出。

6.根據權利要求1所述的陣列基板，其中，

還具備像素電極、柵極布線、源極布線以及檢查所述像素電極、所述柵極布線以及所述源極布線中的任一個的多個顯示檢查用焊盤，

所述外部連接用焊盤的排列節距比所述顯示檢查用焊盤的排列節距窄。

7.根據權利要求1所述的陣列基板，其中，

所述外部連接用焊盤的寬度處于0.01mm以上0.50mm以下的范圍。

8.根據權利要求1所述的陣列基板，其中，

在所述外部連接用焊盤的最表面上還具備透光性導電層。

9.一種顯示裝置，其中，

貼合了權利要求1至4中任一項所述的陣列基板和相對基板。

10.一種傳感器電極的檢查方法，其是第一基板切出用的母基板中包括的傳感器電極的檢查方法，

所述母基板具備：

成為所述第一基板的第一基板區域；

傳感器電極，配置于所述第一基板區域，檢測靜電電容的變化；

端材區域，與所述第一基板區域鄰接；

傳感器電極檢查用焊盤，配置于所述端材區域；

引出布線，跨越所述第一基板區域和所述端材區域而配置，連接所述傳感器電極和所述傳感器電極檢查用焊盤；

多個外部連接用焊盤，配置于所述第一基板的邊框區域；以及

邊框布線，連接所述傳感器電極和一個所述外部連接用焊盤之間，

其中，所述引出布線經由所述邊框布線和一個所述外部連接用焊盤，與所述傳感器電極連接，所述外部連接用焊盤的排列節距處于0.02mm以上0.6mm以下的范圍，

在將所述第一基板區域和所述端材區域切斷分離而從母基板切出所述第一基板之前，從所述傳感器電極檢查用焊盤進行所述傳感器電極的導通確認。