[發明專利]一種基于直通線的多端口自動夾具損耗和相位補償方法

有效

• 申請號: 201710477917.4
• 申請日: 2017-06-09
• 公開（公告）號: CN107144738B
• 公開（公告）日: 2020-10-27
• 發明（設計）人: 袁國平;莊志遠;劉丹;楊明飛;梁勝利;李明太
• 申請（專利權）人: 中國電子科技集團公司第四十一研究所
• 主分類號: G01R27/28
• 分類號: G01R27/28;G01R35/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種基于直通線的多端口自動夾具損耗和相位補償方法，其特征在于，使用時域方法獲取相位偏移，結合徑向基神經網絡擬合直通線的損耗，將同軸參考面與被測件參考面之間的直通線夾具的影響去除，獲得多端口被測件散射參數；包括以下步驟：

步驟一：首先，對多端口矢量網絡分析儀進行校準，將測試端面校準到同軸參考面；然后，將多端口的直通線夾具通過同軸連接器或探針連接到多端口矢量網絡分析儀的測試端口上；再然后，進行測量獲得直通線夾具的頻域散射參數；

步驟二：使用快速傅里葉變換，將步驟一中得到的各端口直通線夾具的頻域散射參數S_ij變換為低通沖激響應，通過自動搜索響應的最大值得到各端口直通線夾具的延時Delay(i，j)，并根據下面的公式(1)變換為直通線夾具的相位偏移：

φ(i，j)＝360*Freq*Delay(i，j) (1)

其中，φ(i，j)代表多端口被測件的端口j到端口i的相位偏移，Freq為測試頻率點，Delay(i，j)代表多端口被測件的端口j到端口i的延時；

步驟三：直通線損耗通過式(2)的函數來表示：

Loss(Freq)＝Amp·Freq^b (2)

其中，Amp為損耗因子，b為損耗指數，通過步驟一測試得到散射參數S_ij計算得到；

步驟四：重復步驟二至步驟三，直至得到傳輸線夾具每個端口處的損耗和相位，則進行步驟五；

步驟五：將直通線夾具和多端口被測件連接到多端口矢量網絡分析儀上，將步驟一至步驟四得到的傳輸線夾具的損耗和相位加載到多端口矢量網絡分析儀去嵌入軟件模塊中，測試得到多端口被測件準確的頻域散射參數。

2.如權利要求1所述的一種基于直通線的多端口自動夾具損耗和相位補償方法，其特征在于，所述步驟三中，采用如式(3)所描述的徑向基神經網絡對損耗函數進行辨識和擬合：

其中，代表徑向基函數，c_n代表第n個神經元的中心向量，a_n代表神經元的權值。

3.如權利要求2所述的一種基于直通線的多端口自動夾具損耗和相位補償方法，其特征在于，所述徑向基函數選擇如式(4)的高斯基函數：

4.如權利要求2所述的一種基于直通線的多端口自動夾具損耗和相位補償方法，其特征在于，所述徑向基神經網絡采用兩步學習算法對損耗函數進行辨識和擬合，第一步是基于K-均值聚類方法得到神經元的中心向量c_n，第二步是使用最小二乘法求解得到神經元的權值。