[發(fā)明專利]天線測(cè)試系統(tǒng)以及方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201710473833.3
• 申請(qǐng)日: 2017-06-21
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN107335630B
• 公開(kāi)（公告）日: 2023-08-11
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 賀曉民;吳書(shū)鋒
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 深圳市信維通信股份有限公司
• 主分類號(hào): B07C5/344
• 分類號(hào): B07C5/344
• 代理公司: 深圳市博銳專利事務(wù)所 44275
• 代理人: 張明

1.一種天線測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，包括PC機(jī)、掃描槍、電阻測(cè)試儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀和測(cè)試治具，所述PC機(jī)包括相互連接的數(shù)據(jù)采集模塊、數(shù)據(jù)分析模塊和控制模塊；所述掃描槍、電阻測(cè)試儀和網(wǎng)絡(luò)分析儀與所述PC機(jī)的數(shù)據(jù)采集模塊通訊連接；所述測(cè)試治具包括測(cè)試平臺(tái)以及設(shè)置于測(cè)試平臺(tái)上方的第一氣缸和第二氣缸，所述第一氣缸和第二氣缸均與所述PC機(jī)的控制模塊通訊連接；所述第一氣缸的動(dòng)力輸出端連接于網(wǎng)絡(luò)分析儀的探針，所述第二氣缸的動(dòng)力輸出端連接于電阻測(cè)試儀的探針；

所述測(cè)試治具還包括第一開(kāi)關(guān)、第二開(kāi)關(guān)以及為所述第一氣缸和第二氣缸提供電能的電源，所述第一開(kāi)關(guān)、第二開(kāi)關(guān)和電源串聯(lián)；

還包括I/O接口盒、繼電器、不良品盒和設(shè)置于不良品盒中的光電耦合器，所述I/O接口盒包括USB接口、P2.0接口、P2.2接口、P1.1接口和P1.0接口，所述PC機(jī)連接于所述USB接口；所述P2.0接口連接于所述第一開(kāi)關(guān)和第二開(kāi)關(guān)的串聯(lián)回路中；所述P2.2接口連接于所述光電耦合器；P1.1接口和P1.0接口分別連接于所述繼電器的輸入接口，所述繼電器的輸出接口連接于所述第一氣缸和第二氣缸。

2.如權(quán)利要求1所述的天線測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，還包括交換機(jī)，所述交換機(jī)連接于所述PC機(jī)和網(wǎng)絡(luò)分析儀之間。

3.如權(quán)利要求2所述的天線測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，還包括服務(wù)器，所述服務(wù)器連接于所述交換機(jī)，所述服務(wù)器包括數(shù)據(jù)庫(kù)。

4.一種使用如權(quán)利要求1-3任意一項(xiàng)所述的天線測(cè)試系統(tǒng)的天線測(cè)試方法，其特征在于，包括如下步驟：

S1、用掃描槍掃描天線產(chǎn)品上的條碼，掃描槍將條碼信息傳送至PC機(jī)；

S2、將產(chǎn)品放入測(cè)試治具中，第一氣缸和第二氣缸分別帶動(dòng)網(wǎng)絡(luò)分析儀的探針和電阻測(cè)試儀的探針下壓接觸產(chǎn)品，網(wǎng)絡(luò)分析儀和電阻測(cè)試儀分別采集RF性能測(cè)試數(shù)據(jù)和電阻測(cè)試數(shù)據(jù)，并將數(shù)據(jù)傳送至PC機(jī)；

S3、PC機(jī)的數(shù)據(jù)分析模塊對(duì)采集到的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，若分析結(jié)果為PASS，則將該產(chǎn)品的條碼信息、RF性能測(cè)試數(shù)據(jù)和電阻測(cè)試數(shù)據(jù)放入一個(gè)文件中，然后將該文件存入數(shù)據(jù)庫(kù)中；

若分析結(jié)果為FAIL，則數(shù)據(jù)不存入，且PC機(jī)的控制模塊給出信號(hào)，使測(cè)試治具處于鎖定狀態(tài)。

5.如權(quán)利要求4所述的天線測(cè)試方法，其特征在于，步驟S1還包括：PC機(jī)收到條碼信息后從數(shù)據(jù)庫(kù)中尋找相同的條碼信息，若沒(méi)有找到，則進(jìn)行下一步測(cè)試；若找到，PC機(jī)界面出現(xiàn)警示，并停止該產(chǎn)品的測(cè)試。

6.如權(quán)利要求4所述的天線測(cè)試方法，其特征在于，步驟S3之后還包括步驟：將分析結(jié)果為FAIL的產(chǎn)品放入不良品盒中，光電耦合器發(fā)出的紅外光被阻擋，同時(shí)I/O接口盒收到低電平信號(hào)并將該信號(hào)傳送至PC機(jī)，PC機(jī)收到信號(hào)后解除測(cè)試治具的鎖定。

7.如權(quán)利要求4所述的天線測(cè)試方法，其特征在于，步驟S3中的數(shù)據(jù)分析具體包括：對(duì)RF性能測(cè)試數(shù)據(jù)和電阻測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行與處理，然后對(duì)與處理后的數(shù)據(jù)進(jìn)行真假判斷，若判斷結(jié)果為真，則顯示結(jié)果為PASS；若判斷結(jié)果為假，則顯示結(jié)果為FAIL。

8.如權(quán)利要求4所述的天線測(cè)試方法，其特征在于，步驟S2中網(wǎng)絡(luò)分析儀是通過(guò)交換機(jī)將RF性能測(cè)試數(shù)據(jù)傳送至PC機(jī)。