[發明專利]針對飽和工作狀態的相控陣天線的近場信號測試方法及裝置

有效

• 申請號: 201710473392.7
• 申請日: 2017-06-21
• 公開（公告）號: CN107132427B
• 公開（公告）日: 2019-09-13
• 發明（設計）人: 周昌杰;劉勝春;王茂澤;譚熾州
• 申請（專利權）人: 中國電子科技集團公司第二十九研究所
• 主分類號: G01R29/10
• 分類號: G01R29/10
• 代理公司: 成都九鼎天元知識產權代理有限公司 51214
• 代理人: 徐靜

本發明涉及相控陣天線近場測試技術領域。本發明針對現有技術存在的問題，提供測試方法或裝置。通過迭代加入加權值的方法，解決了飽和工作區域內波束合成效率的問題，使得實測的天線幅度值與相位值更加準確。本發明對各通道的實測幅度和實測相位數據分別做加權處理后，獲取各通道實測幅度值、實測相位值；根據所述各通道實測幅度值、相位值分別對應形成與目標幅度值的幅度差值、目標相位值的相位差值；判斷幅度差值，相位差值是否滿足結束迭代的條件，從而判斷是否需要根據幅度差值，相位差值對各通道實測幅度值、實測相位值進行加權處理，完成迭代處理；實測完成迭代處理后各通道數據，得到天線各通道實測幅度值與相位值。

技術領域

本發明涉及相控陣天線近場測試技術領域，尤其是一種針對飽和工作狀態的相控陣天線的近場信號測試方法及裝置。

背景技術

現有的相控陣天線近場測量通常基于二維移動控制機架采用小信號的方式進行測量。通過對各個通道獨立的射頻信號采集，結合phase-toggle算法進行解耦，并且對各個通道按照預先仿真的結果進行幅度或者相位加權，以達到使陣面合成指定波束的目的。

現有的近場測試技術通常在各通道的小信號線性工作區域進行近場測試。這樣的近場校準結果在飽和工作的時候由于各通道射頻信號幅度相位的非線性效應，影響了波束合成，會導致發射EIRP比最優值小約2dB，造成功率浪費和技術指標超差。

發明內容

本發明所要解決的技術問題是：針對現有技術存在的問題，提供一種針對飽和工作狀態的相控陣天線的近場信號測試方法或裝置。通過迭代加入加權值的方法，解決了飽和工作區域內波束合成效率的問題，使得實測的天線幅度值與相位值更加準確。

本發明采用的技術方案如下：

一種針對飽和工作狀態的相控陣天線的近場信號測試方法包括：

設置天線為飽和發射或接受狀態，對各通道的實測幅度和實測相位數據分別做加權處理后，獲取各通道實測幅度值、實測相位值；

根據所述各通道實測幅度值、相位值分別對應形成與目標幅度值的幅度差值ξ_i，n、目標相位值的相位差值ζ_i，n；

判斷幅度差值ξ_i，n，相位差值ζ_i，n是否滿足結束迭代的條件，從而判斷是否需要對各通道實測幅度值、實測相位值進行加權處理，完成迭代處理；

實測完成迭代處理后各通道數據，得到天線各通道實測幅度值與相位值。

進一步的，結束迭代的條件是ξ_i，n<α_i，ζ_i，n<β_i，α_i和β_i分別是第i通道的幅度和相位誤差容許最小量；幅度差值ξ_i，n指的是迭代過程中當前實時測量的天線幅度值與目標幅度值的差值；相位差值ζ_i，n指的是迭代過程中當前實時測量的天線相位值與目標相位值的差值。

進一步的，加權處理過程中通過幅度加權值A_i，n+1和相位加權值F_i，n+1進行迭代處理。