[發明專利]外推法測雷達散射截面積有效
| 申請號： | 201710470620.5 | 申請日： | 2017-06-20 |
| 公開（公告）號： | CN107192990B | 公開（公告）日： | 2019-09-17 |
| 發明（設計）人： | 崔孝海;袁文澤;李勇;魏廣宇;高小珣 | 申請（專利權）人： | 中國計量科學研究院 |
| 主分類號： | G01S7/40 | 分類號： | G01S7/40 |
| 代理公司： | 北京清亦華知識產權代理事務所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 張潤 |
| 地址： | 100013 *** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 散射 被測目標 發射源 雷達 電磁波 測量位置 輻射功率 距離變化 空間輻射 面積測量 外推法 準確度 被測位置 無窮遠 正對 對準 測量 | ||
1.一種外推法測雷達散射截面積的方法，其特征在于，包括以下步驟：
S1：對發射源與被測目標體的位置進行對準，以使所述發射源正對所述被測目標體的被測位置，其中，所述發射源和所述被測目標體均設置在微波暗室中；
S2：在所述發射源遠離所述被測目標體的過程中，對應獲取在多個測量位置下所述發射源的輻射功率或電磁波幅度，以及接收到的目標散射的空間輻射功率或電磁波幅度；
S3：根據所述多個測量位置下所述發射源的輻射功率或電磁波幅度，以及接收到的目標散射的空間輻射功率或電磁波幅度，得到所述被測目標體的雷達散射截面積隨所述發射源和所述被測目標體之間的距離的變化而變化的雷達散射截面積測量曲線；
S4：根據所述雷達散射截面積測量曲線得到所述被測目標體的雷達散射截面積隨距離變化的函數；
S5：對所述雷達散射截面積隨距離變化的函數求距離無窮遠極限，得到所述被測目標體的雷達散射截面積。
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，步驟S2進一步包括：
對所述每個測量位置進行多次測量，對測量數據進行相參積累得到所述每個測量位置的所述發射源的輻射功率或電磁波幅度，以及接收到的目標散射的空間輻射功率或電磁波幅度。
3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，步驟S4進一步包括：
對所述雷達散射截面積測量曲線進行平滑處理，并采用多項式擬合的方式得到被測目標體的雷達散射截面積隨距離變化的函數。
4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，當所述被測目標體為非球面體時，還包括：
改變所述發射源和所述被測目標體之間的夾角并測量被測目標體的雷達散射截面積，以得到所述發射源和所述被測目標體之間不同的夾角對應的所述被測目標體的雷達散射截面積。
5.根據權利要求1或4所述的方法，其特征在于，使用矢量網絡分析儀將激光對準裝置連接發射源的波導口面，并使用所述激光對準裝置檢測所述發射源與所述被測目標體之間是否對準。
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