[發(fā)明專利]一種控制硬件檢測波形輸出的電路及其物理通斷方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201710467762.6
• 申請日: 2017-06-20
• 公開（公告）號: CN107102183B
• 公開（公告）日: 2023-07-21
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 吳勇華;張國明;黃益峰;左苗峰;蔣勤峰;朱小弟;沈軍
• 申請（專利權(quán)）人: 海鹽新躍電器有限公司
• 主分類號: G01R1/28
• 分類號: G01R1/28
• 代理公司: 北京天奇智新知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11340
• 代理人: 韓洪

本發(fā)明公開了一種控制硬件檢測波形輸出的電路，包括測試回路，所述測試回路上連接有被檢設(shè)備，在測試回路上并聯(lián)一旁路回路，所述測試回路和旁路回路的輸入端均與電流信號輸入源連接，所述測試回路上設(shè)置有高速開關(guān)1，所述旁路回路上設(shè)置有高速開關(guān)2，還包括微處理器，所述微處理器的輸入端與電流信號輸入源連接，輸出端與高速開關(guān)1和高速開關(guān)2控制連接，還提出了一種控制硬件檢測波形輸出的電路的物理通斷方法。本發(fā)明通過獲取電流信號的過零點(diǎn)及拐點(diǎn)，分別控制高速開關(guān)1和高速開關(guān)2動作，當(dāng)為測試回路需要波形時(shí)，電流從測試回路流過；而非測試回路所需波形時(shí)，電流就不流經(jīng)測試回路，實(shí)現(xiàn)測試回路只流經(jīng)所需波形的要求。

【技術(shù)領(lǐng)域】

本發(fā)明涉及硬件檢測的技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種控制硬件檢測波形輸出的電路及其物理通斷方法。

【背景技術(shù)】

在一些特殊功能的測試中，電流需要正弦波的半波或者四分之一波，傳統(tǒng)方式是采用控制信號源輸出特殊波形來實(shí)現(xiàn)。但是在傳統(tǒng)采用控制信號源輸出特殊波形方式中由于電流功放、升流器等的失真，引起實(shí)際輸出波形與理論要求的有較大的差距。因此，有必要提出一種控制硬件檢測波形輸出的電路及其物理通斷方法，通過物理方式控制輸出的通斷，來實(shí)現(xiàn)特殊波形的輸出。

【發(fā)明內(nèi)容】

本發(fā)明的目的在于克服上述現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種控制硬件檢測波形輸出的電路及其物理通斷方法，其旨在解決現(xiàn)有技術(shù)中傳統(tǒng)采用控制信號源輸出特殊波形方式中由于電流功放、升流器等的失真，引起實(shí)際輸出波形與理論要求的有較大的差距的技術(shù)問題。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提出了一種控制硬件檢測波形輸出的電路，包括測試回路，所述的測試回路上連接有被檢設(shè)備，其特征在于：在所述的測試回路上并聯(lián)一旁路回路，所述的測試回路和旁路回路的輸入端均與電流信號輸入源連接，測試回路和旁路回路的輸出端均與檢測儀顯示器連接，所述的測試回路上設(shè)置有高速開關(guān)1，所述的旁路回路上設(shè)置有高速開關(guān)2，還包括微處理器，所述的微處理器的輸入端與電流信號輸入源連接，輸出端與高速開關(guān)1和高速開關(guān)2控制連接。

作為優(yōu)選，所述的高速開關(guān)1和高速開關(guān)2互鎖，當(dāng)高速開關(guān)1接通時(shí)，高速開關(guān)2關(guān)閉；當(dāng)高速開關(guān)2接通時(shí)，高速開關(guān)1關(guān)閉。

作為優(yōu)選，所述的高速開關(guān)K1和高速開關(guān)K2的動作時(shí)間小于0.1ms。

作為優(yōu)選，所述的測試回路上的高速開關(guān)1和被檢設(shè)備串聯(lián)。

作為優(yōu)選，所述的微處理器包含采樣檢測回路和控制回路，所述的采樣檢測回路的輸入端與電流信號輸入源通信連接，輸出端與控制回路的輸入端連接，所述的控制回路的輸出端與高速開關(guān)1和高速開關(guān)2連接。

作為優(yōu)選，所述的微處理器與檢測儀通信連接。

本發(fā)明還提出了一種控制硬件檢測波形輸出的電路的物理通斷方法，包括測試正半波、測試負(fù)半波、測試后四分之一波和測試前四分之一波四部分，所述的測試正半波、測試負(fù)半波、測試后四分之一波和測試前四分之一波的控制方法具體如下：

測試正半波：

(A1)當(dāng)采樣檢測及控制回路檢測到電流信號輸入源到達(dá)上升零點(diǎn)時(shí)，則采樣檢測及控制回路控制打開測試回路上的高速開關(guān)K1，關(guān)閉旁路回路上的高速開關(guān)K2，電流流經(jīng)了測試回路；

(A2)當(dāng)采樣檢測及控制回路檢測到電流信號輸入源到達(dá)下降零點(diǎn)時(shí)，則采樣檢測及控制回路控制打開旁路回路上的高速開關(guān)K2，關(guān)閉測試回路上的高速開關(guān)K1，電流不流經(jīng)測試回路，實(shí)現(xiàn)測試回路只流經(jīng)正半波；

測試負(fù)半波：

(B1)當(dāng)采樣檢測及控制回路檢測到電流信號輸入源到達(dá)下降零點(diǎn)時(shí)，則控制打開測試回路上的高速開關(guān)K1，關(guān)閉旁路回路上的高速開關(guān)K2，電流流經(jīng)了測試回路；