[發(fā)明專利]一種Rack整機(jī)柜批量進(jìn)行NVME盤可靠性測試的方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201710458365.2
• 申請日: 2017-06-16
• 公開（公告）號: CN107248418A
• 公開（公告）日: 2017-10-13
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 鞏祥文
• 申請（專利權(quán)）人: 鄭州云海信息技術(shù)有限公司
• 主分類號: G11C29/56
• 分類號: G11C29/56
• 代理公司: 濟(jì)南誠智商標(biāo)專利事務(wù)所有限公司37105
• 代理人: 王汝銀

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及NVME SSD測試技術(shù)領(lǐng)域，尤其是一種Rack整機(jī)柜批量進(jìn)行NVME盤可靠性測試的方法。

背景技術(shù)

NVME全稱Non-Volatile Memory Express，非易失性存儲器標(biāo)準(zhǔn)，是使用PCI-E通道的SSD一種規(guī)范，NVME的設(shè)計之初就有充分利用到PCI-E SSD的低延時以及并行性，還有當(dāng)代處理器、平臺與應(yīng)用的并行性。SSD可被主機(jī)的硬件與軟件充分利用。NVME盤的主要優(yōu)勢是有更低的延時、更高的傳輸性能、更低的功耗控制，現(xiàn)有技術(shù)對NVME盤的性能測試，是直接進(jìn)行4k隨機(jī)讀寫、順序讀寫及256k隨機(jī)讀寫順序讀寫，而在批量生產(chǎn)的時候，發(fā)現(xiàn)單純的做4k讀寫及256k讀寫，有一些盤會出現(xiàn)性能不達(dá)標(biāo)的情況，經(jīng)分析可能是由于NVME測試中進(jìn)入了某種不穩(wěn)定狀態(tài)造成。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的是提供一種Rack整機(jī)柜批量進(jìn)行NVME盤可靠性測試的方法，可以實現(xiàn)批量進(jìn)行NVME盤可靠性測試，能有效的在測試中發(fā)現(xiàn)NVME盤在長時間讀測試后，是否存在性能降低的現(xiàn)象，利于在測試階段發(fā)現(xiàn)問題并提前解決。

為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用下述技術(shù)方案：

一種Rack柜批量進(jìn)行整機(jī)NVME盤可靠性測試的方法，包括以下步驟：

S1、抓取系統(tǒng)中NVME盤的盤符；

S2、設(shè)置fio測試所需conf文件中NVME盤的讀策略；

S3、使用fio命令調(diào)用conf文件執(zhí)行測試，保存測試結(jié)果；

S4、將篩選測試結(jié)果與NVME盤性能spec做對比；

S5、重復(fù)步驟S1至步驟S4，直至完成所有節(jié)點(diǎn)的測試，并輸出保存全部節(jié)點(diǎn)的測試結(jié)果。

進(jìn)一步地，步驟S1具體包括以下步驟：

S11、使用libaio工具進(jìn)行測試，如果系統(tǒng)中沒有，則導(dǎo)入工具包中的libaio工具；

S12、獲取系統(tǒng)中NVME的盤符并輸出到tmp.txt中。

進(jìn)一步地，步驟S2具體包括以下步驟：

S21、引用libaio工具；

S22、設(shè)置測試時間；

S23、設(shè)置測試順序讀以及單次io讀塊大小。

進(jìn)一步地，步驟S3具體包括以下步驟：

S31、執(zhí)行長時間讀過程中檢測NVME盤讀速率，并查看是否有性能下降現(xiàn)象，使用如下命令：iostat–mx 1；

S32、截取速率數(shù)據(jù)使用iostat–mx 1|tee–a***.txt,數(shù)據(jù)會存放于***.txt中。

本發(fā)明的有益效果是，

本發(fā)明可以實現(xiàn)批量進(jìn)行NVME盤可靠性測試，可以先使NVME盤進(jìn)入一定的穩(wěn)態(tài)，之后再進(jìn)行的性能測試，NVME盤不會再有性能下降現(xiàn)象。在測試中能有效發(fā)現(xiàn)NVME盤在長時間讀測試后，是否存在性能降低的現(xiàn)象，利于在測試階段發(fā)現(xiàn)問題并提前解決。

附圖說明

圖1是本發(fā)明方法流程圖；

圖2是系統(tǒng)中各硬盤傳輸速率的顯示效果圖。

具體實施方式

如圖1所示，一種Rack柜批量進(jìn)行整機(jī)NVME盤可靠性測試的方法，包括以下步驟：S1、搭建測試環(huán)境，然后安裝os，然后把測試用腳本復(fù)制到os下，配置所有的節(jié)點(diǎn)為無密碼訪問；在刷新Rack機(jī)柜所有節(jié)點(diǎn)BMC時，利用Rack機(jī)柜特有的機(jī)制，把SSH與linuxbash語言相結(jié)合，可以自動實現(xiàn)各節(jié)點(diǎn)間的無密碼訪問；S2、抓取系統(tǒng)中NVME盤的盤符；S3、設(shè)置fio測試所需conf文件中NVME盤的讀策略；S4、使用fio命令調(diào)用conf文件執(zhí)行測試，保存測試結(jié)果；S5、將篩選測試結(jié)果與NVME盤性能spec做對比；S6、重復(fù)步驟S2至步驟S5，直至完成所有節(jié)點(diǎn)的測試，并輸出保存全部節(jié)點(diǎn)的測試結(jié)果。

步驟S2中通過如下腳本抓取系統(tǒng)中nvme盤的盤符：

步驟S3中設(shè)置fio測試所需conf文件中nvme盤的讀策略(本策略以256k順序讀為例，可根據(jù)測試需要修改塊大小)內(nèi)容如下：

[global]

ioengine＝libaio#引用libaio工具

direct＝1#測試過程繞過機(jī)器自帶的buffer。使測試結(jié)果更真實。

runtime＝3600#測試時間

iodepth＝20

rw＝read#測試順序讀

bs＝256k#單次io讀的塊大小為256k

loops＝10

[/dev/nvme0n1]