[發明專利]發光器件的老化測試方法和老化測試系統

有效

• 申請號: 201710457024.3
• 申請日: 2017-06-16
• 公開（公告）號: CN107018603B
• 公開（公告）日: 2019-05-17
• 發明（設計）人: 孔超;鄭克寧;陳棟;梁逸南
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司
• 主分類號: H05B33/08
• 分類號: H05B33/08;G01R31/26
• 代理公司: 北京天昊聯合知識產權代理有限公司 11112
• 代理人: 汪源;陳源

1.一種發光器件的老化測試方法，其特征在于，包括：

S1、在對發光器件進行老化的過程中，采集所述發光器件的多個第一特征參數和與每個第一特征參數對應的測試時間；

S2、根據所述第一特征參數和與每個第一特征參數對應的測試時間生成特征線，并生成所述特征線的斜率；

S3、判斷所述特征線的斜率是否大于或等于設定閾值且小于0，若判斷出所述特征線的斜率大于或等于0時執行步驟S4；若判斷出所述特征線的斜率大于或等于設定閾值且小于0時執行步驟S5，若判斷出所述特征線的斜率小于設定閾值時繼續執行步驟S1；

S4、將特征線的斜率大于或等于0時對應的第一特征參數清零以及將初始特征參數設置為特征線的斜率大于或等于0時對應的第一特征參數中的最大值，并繼續執行步驟S1；

S5、停止對發光器件進行老化。

2.根據權利要求1所述的發光器件的老化測試方法，其特征在于，所述S2包括：

S21、將所述第一特征參數和設置的初始特征參數相除，計算出第二特征參數；

S22、根據所述第二特征參數和與每個所述第二特征參數對應的測試時間生成特征線。

3.根據權利要求2所述的發光器件的老化測試方法，其特征在于，所述初始特征參數等于采集的多個第一特征參數中第一個第一特征參數。

4.根據權利要求2所述的發光器件的老化測試方法，其特征在于，所述第一特征參數為第一亮度值，所述初始特征參數為初始亮度值。

5.根據權利要求1所述的發光器件的老化測試方法，其特征在于，所述S5之后還包括：

S6、記錄老化時間和/或老化量。

6.根據權利要求1所述的發光器件的老化測試方法，其特征在于，所述特征線為曲線或者直線。

7.一種發光器件的老化測試系統，其特征在于，包括：

采集模塊，用于在對發光器件進行老化的過程中，采集所述發光器件的多個第一特征參數和與每個第一特征參數對應的測試時間；

生成模塊，用于根據所述第一特征參數和與每個第一特征參數對應的測試時間生成特征線，并生成所述特征線的斜率；

判斷模塊，用于判斷所述特征線的斜率是否大于或等于設定閾值且小于0，若判斷出所述特征線的斜率小于設定閾值時，觸發所述采集模塊，由所述采集模塊繼續執行所述在對發光器件進行老化的過程中，采集所述發光器件的多個第一特征參數的步驟；

老化控制模塊，用于若所述判斷模塊判斷出所述特征線的斜率大于或等于設定閾值且小于0時，停止對發光器件進行老化；

設置模塊，用于若所述判斷模塊判斷出所述特征線的斜率大于或等于0時，將特征線的斜率大于或等于0時對應的第一特征參數清零以及將初始特征參數設置為特征線的斜率大于或等于0時對應的第一特征參數中的最大值，并觸發所述采集模塊，由所述采集模塊繼續執行所述在對發光器件進行老化的過程中，采集所述發光器件的多個第一特征參數的步驟。

8.根據權利要求7所述的發光器件的老化測試系統，其特征在于，所述生成模塊包括：

計算子模塊，用于將所述第一特征參數和設置的初始特征參數相除，計算出第二特征參數；

生成子模塊，用于根據所述第二特征參數和與每個所述第二特征參數對應的測試時間生成特征線。

9.根據權利要求8所述的發光器件的老化測試系統，其特征在于，所述初始特征參數等于采集的多個第一特征參數中第一個第一特征參數。

10.根據權利要求8所述的發光器件的老化測試系統，其特征在于，所述第一特征參數為第一亮度值，所述初始特征參數為初始亮度值。