[發明專利]試劑吸樣機構及樣本分析儀

在審

• 申請號: 201710452481.3
• 申請日: 2017-06-15
• 公開（公告）號: CN107703322A
• 公開（公告）日: 2018-02-16
• 發明（設計）人: 唐勇;邵建輝;李鵬;沈向鋒
• 申請（專利權）人: 邁克醫療電子有限公司
• 主分類號: G01N35/10
• 分類號: G01N35/10;G01N35/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種試劑吸樣機構，包括試劑針和試劑容器，所述試劑針的下端為吸樣口，所述試劑容器的內腔底部具有斜坡面，所述斜坡面在試劑容器的底部形成一個能夠匯聚試劑的低洼區域，所述吸樣口在伸入到試劑容器內以后沿預設的運動軌跡朝向所述低洼區域移動以吸移試劑，其特征在于：所述吸樣口的運動方向與所述斜坡面的傾斜方向之間的夾角隨吸樣口與斜坡面之間距離的減小而減小。

2.根據權利要求1所述的試劑吸樣機構，其特征在于：所述吸樣口的運動軌跡為圓弧形。

3.根據權利要求1所述的試劑吸樣機構，其特征在于：所述吸樣口的運動軌跡高于所述斜坡面或相切于所述斜坡面。

4.根據權利要求1所述的試劑吸樣機構，其特征在于：所述吸樣口在貼合或靠近斜坡面時的運動方向平行于所述斜坡面的傾斜方向。

5.根據權利要求1所述的試劑吸樣機構，其特征在于：所述試劑針的延伸方向與所述吸樣口的運動軌跡相同。

6.根據權利要求1所述的試劑吸樣機構，其特征在于：所述試劑容器的頂部設置有供試劑針伸入的瓶口，所述吸樣口在所述瓶口位置的運動方向與瓶口的軸向相一致。

7.根據權利要求1所述的試劑吸樣機構，其特征在于：所述試劑針連接有導向機構，所述導向機構包括滑塊和滑槽，所述試劑針的上端與滑塊連接，所述滑塊連接并限位于滑槽上。

8.根據權利要求7所述的試劑吸樣機構，其特征在于：所述導向機構設置有位置保持結構，所述位置保持結構能夠在吸樣口移動到上極位或下極位的時候向滑塊施力，以使得吸樣口保持于上極位或下極位。

9.根據權利要求8所述的試劑吸樣機構，其特征在于：所述位置保持機構包括第一磁性部件、第二磁性部件和設置于滑塊上的連接板，當吸樣口移動到上極位時，所述連接板與第一磁性部件磁力連接；當吸樣口移動到下極位時，所述連接板與第二磁性部件磁力連接。

10.根據權利要求7所述的試劑吸樣機構，其特征在于：所述滑塊連接有推手，所述推手從滑槽內部向外延伸，所述推手與滑塊同步移動。

11.根據權利要求10所述的試劑吸樣機構，其特征在于：還包括容納腔，所述試劑容器安裝在容納腔內，所述容納腔具有一個朝外的敞口結構，所述滑塊連接有遮擋板，所述遮擋板與滑塊同步移動，當吸樣口移動到上極位時，所述遮擋板上移至所述敞口結構的上方，當吸樣口移動到下極位時，所述遮擋板下降至所述敞口結構并將其遮擋。

12.根據權利要求1所述的試劑吸樣機構，其特征在于：所述試劑容器的斜坡面包括第一斜面段和第二斜面段，所述第一斜面段和第二斜面段相互傾斜，所述第一斜面段的最低端與第二斜面段的最低端相互連接以形成所述低洼區域。

13.根據權利要求12所述的試劑吸樣機構，其特征在于：所述試劑容器的底部端面形狀與斜坡面形狀相適配，所述試劑容器的底部端面在所述低洼區域的下方具有向下凸出的定位凸出部，所述容納腔的內底部設置有用于容納該定位凸出部的定位凹槽。

14.根據權利要求13所述的試劑吸樣機構，其特征在于：所述試劑容器的外部頂面設置有定位卡槽，所述容納腔的頂部設置有壓板，所述壓板設置于試劑容器的上方，當所述定位凹槽與所述定位凸出部相互配合時，所述壓板能夠伸入到定位卡槽內、施力將定位凸出部抵接于定位凹槽內。

15.一種樣本分析儀，其特征在于：包括如權利要求1～14所述的試劑吸樣機構。