[發明專利]用于化學發光檢測的探測單元、電子暗盒壓片裝置及其用途

在審

• 申請號: 201710449803.9
• 申請日: 2017-06-14
• 公開（公告）號: CN109085157A
• 公開（公告）日: 2018-12-25
• 發明（設計）人: 淳潔
• 申請（專利權）人: 淳潔
• 主分類號: G01N21/76
• 分類號: G01N21/76
• 代理公司: 上海光華專利事務所(普通合伙) 31219
• 代理人: 張新鑫;許亦琳

1.一種用于化學發光檢測的探測單元，其特征在于，所述探測單元包括暗盒，所述暗盒中設置平板探測單元，所述平板探測單元平置在暗盒中，所述暗盒包括上盒體和下盒體，所述上盒體和所述下盒體匹配，所述平板探測單元位于上盒體或者下盒體中；當所述平板探測單元位于上盒體中時，所述下盒體內還設有檢測平臺，所述檢測平臺平置于平板探測單元下方1～2mm處；當所述平板探測單元位于下盒體內時其本身作為檢測平臺。

2.根據權利要求1所述的用于化學發光檢測的探測單元，其特征在于，所述平板探測單元選自非晶硅光電晶體管陣列探測器、非晶硅光電二極管陣列探測器、低溫多晶硅光電晶體管陣列探測器或晶體硅光電晶體管陣列探測器中的任意一種。

3.根據權利要求1所述的用于化學發光檢測的探測單元，其特征在于，所述探測單元還包括信號讀出模塊，所述信號讀出模塊連接平板探測單元。

4.根據權利要求1所述的用于化學發光檢測的探測單元，其特征在于，所述平板探測單元封裝在透明保護層中。

5.根據權利要求1所述的用于化學發光檢測的探測單元，其特征在于，所述平板探測單元還包括以下技術特征中的任意一種或幾種：

(1)所述平板探測單元為矩形，更優選地，所述矩形的形狀為6cm x 8cm；

(2)所述暗盒的長10～20cm，寬8～15cm，高2～8cm；

(3)平板探測單元的像元間距為50um～300um。

6.一種用于化學發光檢測的電子暗盒壓片裝置，其特征在于，所述電子暗盒壓片裝置包含如權利要求1～5任一項所述的用于化學發光檢測的探測單元。

7.根據權利要求6所述的用于化學發光檢測的電子暗盒壓片裝置，其特征在于，所述電子暗盒壓片裝置至少包括：在暗盒內設置的電源和控制單元，所述控制單元至少包括主控制模塊、數據讀取模塊、數據傳輸模塊；所述平板探測單元連接主控制模塊，所述數據讀取模塊和所述數據傳輸模塊都連接所述主控制模塊，所述電源為整個裝置供電。

8.根據權利要求7所述的用于化學發光檢測的電子暗盒壓片裝置，其特征在于，所述數據讀取模塊中包括A/D轉換子模塊，所述A/D轉換子模塊連接所述平板探測單元。

9.根據權利要求7所述的用于化學發光檢測的電子暗盒壓片裝置，其特征在于，所述電源和控制單元設置在下盒體中。

10.如權利要求1～5任意項所述用于化學發光檢測的探測單元以及權利要求6～9任一項所述的用于化學發光檢測的電子暗盒壓片裝置在印跡膜化學發光檢測中的用途。