[發明專利]卡氏光學組件裝調方法有效
| 申請號: | 201710447501.8 | 申請日: | 2017-06-14 |
| 公開(公告)號: | CN106990502B | 公開(公告)日: | 2019-11-22 |
| 發明(設計)人: | 朱紹純;坎金艷;李曉哲;徐松;馬天義 | 申請(專利權)人: | 上海航天控制技術研究所 |
| 主分類號: | G02B7/182 | 分類號: | G02B7/182 |
| 代理公司: | 31249 上海信好專利代理事務所(普通合伙) | 代理人: | 朱成之;周乃鑫<國際申請>=<國際公布> |
| 地址: | 200233 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 光學 組件 方法 | ||
1.一種卡氏光學組件裝調方法,所述卡氏光學組件包含待裝調的主反射鏡和次反射鏡,其特征在于,所述裝調方法,包含:
提供一個次反射鏡組件,其中具有不同傾角的多個次反射鏡;
選擇次反射鏡組件中的任意一個次反射鏡,與主反射鏡進行匹配;
使主反射鏡與次反射鏡的母線對準,判斷使用當前的次反射鏡時,探測到的卡氏光學組件的掃描圓的直徑是否符合設定閾值:
如果掃描圓的直徑不符合設定閾值,則從次反射鏡組件中選擇另一個次反射鏡,來與主反射鏡進行匹配,并重新進行母線對準及對掃描圓直徑的閾值判斷;直到選出掃描圓的直徑符合設定閾值的次反射鏡;
其中,對卡氏光學組件進行探測的調試設備,包含:
紅外平行光管,向卡氏光學組件出射紅外平行光;
能計量光斑大小、掃描圓直徑的探測系統,其設有紅外CCD探測器對卡氏光學組件成像在光敏面處的光斑進行探測,并設有顯示屏對光斑及掃描圓進行顯示;主反射鏡與次反射鏡的母線在同一個平面且對準時,光斑的形狀對稱,且掃描圓的直徑最大;
使主反射鏡與次反射鏡的母線對準,是指保持主反射鏡不動,旋轉次反射鏡,并對卡氏光學組件的掃描圓進行探測;直到掃描圓的直徑最大時,停止旋轉次反射鏡,并鎖緊次反射鏡組件;
使主反射鏡與次反射鏡的母線對準,進一步包含以下的過程:
A1、在已知主反射鏡母線位置的情況下,將卡氏光學組件整體旋轉直至光斑位于顯示屏上的垂直線位置;
A2、若主反射鏡母線不在垂直線位置,則旋轉次反射鏡,將次反射鏡朝主反射鏡母線刻線的位置旋轉設定的角度;
A3、重復A1~A2,直至將卡氏光學組件整體旋轉到光斑在顯示屏上的垂直線位置時,主鏡母線位置也在垂直線位置;
所述卡氏光學組件還包含立柱;
如果掃描圓的直徑不符合設定閾值,進一步通過調整次反射鏡組件與立柱之間的隔圈的厚度,來調整主反射鏡與次反射鏡之間的間隔,以減小光斑。
2.如權利要求1所述卡氏光學組件裝調方法,其特征在于,
所述次反射鏡組件中包含傾角以每隔0.5′一檔設置的多個次反射鏡。
3.如權利要求1所述卡氏光學組件裝調方法,其特征在于,
如果掃描圓的直徑大于設定閾值,則從次反射鏡組件中選擇傾角更小的另一個次反射鏡,來與主反射鏡進行匹配;
如果掃描圓的直徑小于設定閾值,則從次反射鏡組件中選擇傾角更大的另一個次反射鏡,來與主反射鏡進行匹配。
4.如權利要求1所述卡氏光學組件裝調方法,其特征在于,
選出掃描圓的直徑符合設定閾值的次反射鏡后,測量卡氏光學組件的彌散斑大小。
5.如權利要求1所述卡氏光學組件裝調方法,其特征在于,
將次反射鏡組件中的任意一個次反射鏡安裝到卡氏光學組件后,先調整紅外CCD探測器的位置進行調焦,直至顯示器上看到的光斑最小,再對掃描圓進行探測。
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