[發明專利]一種利用激光干涉測量位移的裝置

在審

• 申請號: 201710446072.2
• 申請日: 2017-06-14
• 公開（公告）號: CN106989678A
• 公開（公告）日: 2017-07-28
• 發明（設計）人: 宿秀娟;宿高明;姜自秀;鄒業國
• 申請（專利權）人: 山東同其智能科技有限公司
• 主分類號: G01B11/02
• 分類號: G01B11/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種利用激光干涉測量位移的裝置，包括外殼（1），其特征在于：所述外殼（1）內壁左部卡裝有支撐架（10），所述支撐架（10）上部卡裝有單頻激光發射器（11），所述支撐架（10）下端卡裝有光波接收分析儀（12），所述外殼（1）內壁下表面右中部膠結有下鏡座（2），所述外殼（1）內壁右端設有濾鏡架（3），所述濾鏡架（3）下部卡裝有回光濾鏡（4），所述濾鏡架（3）上部卡裝有射光濾鏡（5），所述外殼（1）上內壁又部膠結有上鏡座（13），所述上鏡座（13）與下鏡座（2）之間卡裝有分光鏡（10），所述外殼（1）外壁上表面右中部膠結有螺紋筒（8），所述螺紋筒（8）內部螺裝有轉殼（6），所述轉殼（6）內部卡裝有直角圓錐鏡（7）。

2.根據權利要求1所述的一種利用激光干涉測量位移的裝置，其特征在于：所述外殼（1）右壁處于射光濾鏡（5）與回光濾鏡（4）位置開有通孔。

3.根據權利要求1所述的一種利用激光干涉測量位移的裝置，其特征在于：所述分光鏡（10）傾斜角度為45度。

4.根據權利要求1所述的一種利用激光干涉測量位移的裝置，其特征在于：所述轉殼（6）與螺紋筒（8）之間設有匹配的細質螺紋。