[發(fā)明專利]阻抗測(cè)試裝置

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201710445415.3
• 申請(qǐng)日: 2017-06-13
• 公開（公告）號(hào): CN109142869A
• 公開（公告）日: 2019-01-04
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 賀文輝
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 神訊電腦（昆山）有限公司
• 主分類號(hào): G01R27/02
• 分類號(hào): G01R27/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發(fā)明提供一種阻抗測(cè)試裝置，用于測(cè)試電鍍件的阻抗，所述電鍍件上具有待測(cè)點(diǎn)，所述阻抗測(cè)試裝置包括：測(cè)試探頭，與電鍍件的待測(cè)點(diǎn)接觸，測(cè)試電鍍件的實(shí)際阻抗值；設(shè)置模塊，設(shè)置符合要求的標(biāo)準(zhǔn)阻抗值；控制處理模塊，與測(cè)試探頭及設(shè)置模塊連接，采集測(cè)試探頭測(cè)試到的實(shí)際阻抗值，并將實(shí)際阻抗值與設(shè)置模塊的標(biāo)準(zhǔn)阻抗值做比較；顯示模塊，與控制處理模塊連接，顯示處理結(jié)果；電源模塊，其為控制處理模塊及顯示模塊供電。利用本發(fā)明的阻抗測(cè)試裝置，通過控制處理模塊將實(shí)際阻抗值與設(shè)置模塊的標(biāo)準(zhǔn)阻抗值做比較，并將處理結(jié)構(gòu)從顯示模塊中顯示，由此可以直觀地從顯示模塊中觀察到測(cè)試結(jié)果，無需人為判斷測(cè)試結(jié)果，簡(jiǎn)單直觀且省時(shí)省力。

【技術(shù)領(lǐng)域】

本發(fā)明涉及阻抗測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，具體是涉及一種阻抗測(cè)試裝置。

【背景技術(shù)】

許多機(jī)構(gòu)件，例如3C產(chǎn)品的塑膠外殼，需要用到電鍍制程，使金屬或其他材料制作的表面附著一層金屬膜的工藝從而起到防止金屬氧化，提高耐磨性、導(dǎo)電性、抗腐蝕性等作用。然而，電鍍的好壞會(huì)直接影響到射頻(RF)信號(hào)及防電磁干擾(EMI)的效果。因此，需要對(duì)機(jī)構(gòu)件的外殼的阻抗進(jìn)行測(cè)試，以檢測(cè)電鍍件電鍍的狀況。

請(qǐng)參閱圖1，其繪示為現(xiàn)有技術(shù)的阻抗測(cè)量示意圖。通常情況下，測(cè)試阻抗采用萬用表11的測(cè)試探頭12對(duì)電鍍件10進(jìn)行四角的對(duì)角量測(cè)。該檢測(cè)采用人工量阻抗的方式，不僅費(fèi)時(shí)費(fèi)力，而且判斷容易出現(xiàn)漏失。

于現(xiàn)有技術(shù)中設(shè)置有阻抗測(cè)試裝置進(jìn)行測(cè)量，然而，現(xiàn)有技術(shù)中的阻抗測(cè)試裝置只能對(duì)固定的兩個(gè)待測(cè)點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試，如果需要對(duì)其他測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試，需要通過切換開關(guān)切換，仍然費(fèi)事費(fèi)力，判斷容易出現(xiàn)漏失。

有鑒于此，實(shí)有必要開發(fā)一種阻抗測(cè)試裝置，以解決上述使用萬用表測(cè)量費(fèi)時(shí)、費(fèi)力，且判斷容易出現(xiàn)漏失的問題。

【發(fā)明內(nèi)容】

因此，本發(fā)明的目的是提供一種阻抗測(cè)試裝置，能夠直接顯示測(cè)試結(jié)果，無需人為判斷檢測(cè)結(jié)果，簡(jiǎn)單直觀且省時(shí)省力。

為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明的阻抗測(cè)試裝置，用于測(cè)試電鍍件的阻抗，所述電鍍件上具有待測(cè)點(diǎn)，所述阻抗測(cè)試裝置包括：

測(cè)試探頭，與電鍍件的待測(cè)點(diǎn)接觸，測(cè)試電鍍件的實(shí)際阻抗值；

設(shè)置模塊，設(shè)置符合要求的標(biāo)準(zhǔn)阻抗值；

控制處理模塊，與測(cè)試探頭及設(shè)置模塊連接，采集測(cè)試探頭測(cè)試到的實(shí)際阻抗值，并將實(shí)際阻抗值與設(shè)置模塊的標(biāo)準(zhǔn)阻抗值做比較；

顯示模塊，與控制處理模塊連接，顯示處理結(jié)果；

電源模塊，其為控制處理模塊及顯示模塊供電。

可選地，所述電鍍件為金屬件或3C產(chǎn)品的塑膠外殼。

可選地，所述顯示模塊為顯示器，顯示處理結(jié)果。

可選地，所述顯示模塊可根據(jù)實(shí)際情況的設(shè)置而顯示不同的處理結(jié)果

可選地，所述實(shí)際阻抗值小于或等于標(biāo)準(zhǔn)阻抗值時(shí)，顯示模塊顯示PASS，并顯示出實(shí)際阻抗值。

可選地，所述實(shí)際阻抗值大于標(biāo)準(zhǔn)阻抗值時(shí)，顯示模塊顯示FAIL，并顯示出實(shí)際阻抗值。

可選地，所述測(cè)試探頭的數(shù)量為四個(gè)。

相較于現(xiàn)有技術(shù)，利用本發(fā)明的阻抗測(cè)試裝置，通過控制處理模塊將實(shí)際阻抗值與設(shè)置模塊的標(biāo)準(zhǔn)阻抗值做比較，并將處理結(jié)構(gòu)從顯示模塊中顯示，由此可以直觀地從顯示模塊中觀察到測(cè)試結(jié)果，無需人為判斷測(cè)試結(jié)果，簡(jiǎn)單直觀且省時(shí)省力。

【附圖說明】

圖1繪示現(xiàn)有技術(shù)的阻抗測(cè)量示意圖。

圖2繪示本發(fā)明阻抗測(cè)試裝置的一較佳實(shí)施例的模塊示意圖。

【具體實(shí)施方式】