[發(fā)明專利]觸摸屏的觸摸掃描方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710444491.2 | 申請(qǐng)日: | 2017-06-13 |
| 公開(公告)號(hào): | CN107291293B | 公開(公告)日: | 2021-02-09 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 潘朝煌;賴國(guó)昌 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 廈門天馬微電子有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06F3/041 | 分類號(hào): | G06F3/041;G06F3/044 |
| 代理公司: | 北京晟睿智杰知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 11603 | 代理人: | 于淼 |
| 地址: | 361101 福建*** | 國(guó)省代碼: | 福建;35 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 觸摸屏 觸摸 掃描 方法 | ||
1.一種觸摸屏的觸摸掃描方法,所述觸摸屏包含呈陣列分布的多個(gè)自容式電極,每個(gè)所述自容式電極與至少一條觸控信號(hào)線電連接,其特征在于,觸摸掃描包括多個(gè)觸控掃描周期,各所述觸控掃描周期至少包括第一觸控階段和第二觸控階段,所述掃描方法包括:
在檢測(cè)到觸控時(shí),在所述第一觸控階段進(jìn)行粗略檢測(cè),通過所述觸控信號(hào)線對(duì)至多一半數(shù)量的所述自容式電極進(jìn)行觸控檢測(cè),獲取電容變化量最大的自容式電極,所述電容變化量最大的自容式電極為第一自容式電極;
在所述第二觸控階段進(jìn)行精確檢測(cè),通過所述觸控信號(hào)線對(duì)所述第一自容式電極及所述第一自容式電極周圍的多個(gè)自容式電極進(jìn)行觸控檢測(cè);
一個(gè)所述觸控掃描周期對(duì)應(yīng)1幀顯示,其中前半幀顯示包括所述第一觸控階段和所述第二觸控階段,后半幀包括第三觸控階段和第四觸控階段,所述第三觸控階段與所述第一觸控階段相同,所述第四觸控階段與所述第二觸控階段相同。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的觸摸屏的觸摸掃描方法,其特征在于:所述第二觸控階段包括多個(gè)第二觸控子階段。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的觸摸屏的觸摸掃描方法,其特征在于:將每幀顯示分為8個(gè)連續(xù)的1/8幀,所述第一觸控階段對(duì)應(yīng)第1個(gè)1/8幀,所述第二觸控階段對(duì)應(yīng)第2至4個(gè)1/8幀,所述第三觸控階段對(duì)應(yīng)第5個(gè)1/8幀,所述第四觸控階段對(duì)應(yīng)第6至8個(gè)1/8幀。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的觸摸屏的觸摸掃描方法,其特征在于:在所述第一觸控階段,對(duì)一半數(shù)量的所述自容式電極進(jìn)行觸控檢測(cè),所述一半數(shù)量的所述自容式電極均勻排布在所述觸摸屏上。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的觸摸屏的觸摸掃描方法,其特征在于:在所述第一觸控階段,對(duì)1/3數(shù)量的所述自容式電極進(jìn)行觸控檢測(cè),所述1/3數(shù)量的所述自容式電極均勻排布在所述觸摸屏上。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的觸摸屏的觸摸掃描方法,其特征在于:所述在所述第一觸控階段,通過所述觸控信號(hào)線對(duì)至多一半數(shù)量的所述自容式電極進(jìn)行觸控檢測(cè)為:通過所述觸控信號(hào)線向至多一半數(shù)量的所述自容式電極發(fā)送觸控檢測(cè)信號(hào),并接收所述自容式電極的反饋信號(hào),根據(jù)所述反饋信號(hào)獲取電容變化量最大的自容式電極。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的觸摸屏的觸摸掃描方法,其特征在于:所述在所述第二觸控階段,通過所述觸控信號(hào)線對(duì)以所述第一自容式電極為中心的多個(gè)自容式電極進(jìn)行觸控檢測(cè)為:通過所述觸控信號(hào)線對(duì)以所述第一自容式電極為中心的m*m個(gè)自容式電極發(fā)送觸控檢測(cè)信號(hào),并接收m*m個(gè)自容式電極的反饋信號(hào),根據(jù)所述反饋信號(hào)獲取精確的觸控位置,其中,m為整數(shù),3≤m≤5。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的觸摸屏的觸摸掃描方法,其特征在于:所述通過所述觸控信號(hào)線對(duì)以所述第一自容式電極為中心的m*m個(gè)自容式電極發(fā)送觸控檢測(cè)信號(hào),并接收m*m個(gè)自容式電極的反饋信號(hào),根據(jù)所述反饋信號(hào)獲取精確的觸控位置為:根據(jù)m*m個(gè)自容式電極的反饋信號(hào),判斷m*m個(gè)自容式電極所在區(qū)域中電容變化量最大的區(qū)域,所述電容變化量最大的區(qū)域?yàn)樗鼍_的觸控位置。
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G06F 電數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理
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