[發明專利]一種基于磁通門磁強計的深層渦流檢測裝置及使用方法

在審

• 申請號: 201710441155.2
• 申請日: 2017-06-13
• 公開（公告）號: CN107271542A
• 公開（公告）日: 2017-10-20
• 發明（設計）人: 劉政豪
• 申請（專利權）人: 中國工程物理研究院材料研究所
• 主分類號: G01N27/90
• 分類號: G01N27/90
• 代理公司: 成都眾恒智合專利代理事務所(普通合伙)51239
• 代理人: 劉華平

1.一種基于磁通門磁強計的深層渦流檢測裝置，其特征在于，包括龍門式測量架(1)，設置在龍門式測量架(1)橫梁中間位置的磁通門磁強計探頭(2)，設置在龍門式測量架(1)橫梁上的線圈架(3)，安裝在線圈架(3)底部且中心位置法線與磁通門磁強計探頭(2)測量中心位置法線相重合的激勵線圈(4)，設置在龍門式測量架(1)橫梁上方用于調節線圈架(3)位置的微調螺桿(5)，設置在激勵線圈(4)下方用于放置樣品的二維移動平臺(6)，連接在二維移動平臺(6)上的控制器(7)，與控制器(7)相連的計算機(8)，連接激勵線圈(4)并產生低頻渦流電磁場的信號發生器(9)，設置在磁通門磁強計探頭(2)一端的磁通門磁強計(10)，以及同時與計算機(8)、信號發生器(9)、磁通門磁強計(10)連接的鎖相放大器(11)。

2.根據權利要求1所述的一種基于磁通門磁強計的深層渦流檢測裝置，其特征在于，所述二維移動平臺(6)內設有兩個分別控制二維移動平臺(6)沿X軸與Y軸移動的電機，其中控制器(7)分別與兩個電機相連。

3.根據權利要求2所述的一種基于磁通門磁強計的深層渦流檢測裝置，其特征在于，所述龍門式測量架(1)采用4040鋁型材。

4.根據權利要求3所述的一種基于磁通門磁強計的深層渦流檢測裝置，其特征在于，所述磁通門磁強計探頭(2)的量程大于地磁場。

5.根據權利要求4所述的一種基于磁通門磁強計的深層渦流檢測裝置，其特征在于，所述激勵線圈(4)的直徑為25mm。

6.根據權利要求5所述的一種基于磁通門磁強計的深層渦流檢測裝置，其特征在于，所述激勵線圈(4)產生300Hz以下的超低頻磁場。

7.根據權利要求6所述的裝置的使用方法，其特征在于，包括以下步驟：

(1)將被測樣品放在二維移動平臺上；

(2)開啟信號發生器，將正弦信號的頻率設置為72Hz，幅度設置為5Vpp，調節微調螺桿，選擇要掃描的區域；

(3)信號發生器產生低頻正弦信號，產生的交變磁場在樣品中產生低頻渦流，磁通門磁強計測得渦流磁場中平行于渦流平面的分量；

(4)計算機控制電機沿X軸或Y軸精確的移動，擴大掃描范圍；

(5)然后將掃描信息傳遞給計算機，繪制磁場二維圖像；

(6)對生成的磁場二維圖像進行分析，從而獲取深層渦流、缺陷等相關信息。