[發(fā)明專利]一種小發(fā)散角激光器及其制備工藝有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710439725.4 | 申請(qǐng)日: | 2017-06-12 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN107154580B | 公開(kāi)(公告)日: | 2019-06-07 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李馬惠;潘彥廷;師宇晨;王興;穆瑤;衛(wèi)思逸;張海超 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 陜西源杰半導(dǎo)體技術(shù)有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01S5/028 | 分類號(hào): | H01S5/028 |
| 代理公司: | 西安通大專利代理有限責(zé)任公司 61200 | 代理人: | 徐文權(quán) |
| 地址: | 712000 陜西省西安市西咸新區(qū)灃西*** | 國(guó)省代碼: | 陜西;61 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 發(fā)散 激光器 及其 制備 工藝 | ||
本發(fā)明公開(kāi)了一種小發(fā)散角激光器及其制備工藝,包括基板和和依次設(shè)置在基板上的有源區(qū)、第一包層和衍射光柵層,第一包層和衍射光柵層一端設(shè)置有端面刻蝕區(qū),端面刻蝕區(qū)底部位于基板內(nèi),且端面刻蝕區(qū)內(nèi)生長(zhǎng)有發(fā)散角改善層;衍射光柵層和發(fā)散角改善層上依次覆蓋有第二包層、接觸層和p?金屬電極層,基板下表面鍍有n?金屬電極層,發(fā)散角改善層的一端鍍上抗反射鍍膜層,另一端鍍上高反射鍍膜層,通過(guò)改變出光端面附件的材料而來(lái)改善發(fā)散角,由于其并不改變激光器原有結(jié)構(gòu)且不存在光波導(dǎo)形貌與耦光控制問(wèn)題,因此實(shí)現(xiàn)的工藝簡(jiǎn)單,可接受的容錯(cuò)范圍大,且不改變?cè)屑す馄鞅旧淼奶匦浴?/p>
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于激光器及其制造工藝技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種小發(fā)散角的激光器及其制備工藝。
背景技術(shù)
目前應(yīng)用于高速(10G,25G,100G速率)遠(yuǎn)距離傳輸?shù)募す馄餍酒髁鞫际嵌嗣娉龉獾脑O(shè)計(jì),這是因?yàn)槎嗣娉龉獾募す馄鞑还苁窃诠に嚨膹?fù)雜度與穩(wěn)定度或是器件的光電特性與可靠性都遠(yuǎn)遠(yuǎn)好于面射型激光器(VCSEL),一般正常端面出光的激光器如圖1所示,激光器的出光面位于激光器的自然解理面上。
對(duì)于端面發(fā)光型激光器來(lái)說(shuō),因?yàn)槠湓诔龉馄矫鎯?nèi)有源區(qū)上下材料的及不對(duì)稱分布,導(dǎo)致其在光傳播方向上光場(chǎng)與電場(chǎng)的不對(duì)稱,表現(xiàn)在光遠(yuǎn)場(chǎng)特性即大的發(fā)散角及很不對(duì)稱的光斑形狀,在器件封裝時(shí),不對(duì)稱光斑及大發(fā)散角激光器芯片發(fā)出來(lái)的光難于耦合到光纖中。為了達(dá)到預(yù)期的光纖耦光功率,封裝廠會(huì)對(duì)芯片的功率提出非常高的要求,并采用昂貴的透鏡來(lái)改善耦光效果;對(duì)于不對(duì)稱的光斑還需要手動(dòng)調(diào)節(jié)耦光角度,這使封裝廠的封裝效率與成本大幅增加。
為了提升耦光效果,跨國(guó)大公司以及各國(guó)研究機(jī)構(gòu)嘗試了各種方式,其中最主要的方案有兩種方式1、應(yīng)用區(qū)域選擇生長(zhǎng)技術(shù)(SAG)實(shí)現(xiàn)端面有源區(qū)在垂直結(jié)構(gòu)上的梯度分布以實(shí)現(xiàn)改善發(fā)散角;2、采用雙波導(dǎo)型(TWG)設(shè)計(jì),在出光端面去掉上方波導(dǎo),利用下方波導(dǎo)來(lái)實(shí)現(xiàn)改善發(fā)散角的目的;這些解決方案可以將發(fā)散角做到很小,解決客戶對(duì)耦光效率的需求,但是這些方案大大的增加了工藝的復(fù)雜性,芯片的制造工藝不穩(wěn)定,并存在光束的光軸會(huì)出現(xiàn)歪斜影響封裝生產(chǎn)效率,產(chǎn)品良率低的問(wèn)題。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一新的制造端面出光型小發(fā)散角激光器的方法,通過(guò)特定的刻蝕方式與出光端面MOCVD再生長(zhǎng)方式,來(lái)減小激光器遠(yuǎn)場(chǎng)發(fā)散角,具有較高的耦光效率,本發(fā)明制造工藝簡(jiǎn)單穩(wěn)定,可以大幅提高產(chǎn)出芯片的良率,同時(shí)也降低了客戶封裝過(guò)程中的成本。
為了實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明采用的技術(shù)方案是,一種小發(fā)散角激光器,包括基板和依次設(shè)置在基板上的有源區(qū)、第一包層和衍射光柵層,第一包層和衍射光柵層一端設(shè)置有端面刻蝕區(qū),端面刻蝕區(qū)底部位于基板內(nèi),且端面刻蝕區(qū)內(nèi)生長(zhǎng)有發(fā)散角改善層;衍射光柵層和發(fā)散角改善層上依次覆蓋有第二包層、接觸層和p-金屬電極層,基板下表面鍍有n-金屬電極層,發(fā)散角改善層的一端鍍上抗反射鍍膜層,另一端鍍上高反射鍍膜層。
發(fā)散角改善層為絕緣型InP材料。
端面刻蝕區(qū)的長(zhǎng)度Ls為5~20um;端面刻蝕區(qū)的刻蝕底面距有源區(qū)底面的深度Db為0*Dq-1.5*Dq,Dq為有源區(qū)11的厚度;端面刻蝕區(qū)在波導(dǎo)方向的側(cè)面與刻蝕底面的夾角α的角度為110°~90°。
端面刻蝕區(qū)的長(zhǎng)度Ls為15um,端面刻蝕區(qū)的刻蝕底面距有源區(qū)底面的深度Db與有源區(qū)的厚度Dq相等。
本發(fā)明的一種小發(fā)射角激光器的制備工藝,包括以下工序:
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于陜西源杰半導(dǎo)體技術(shù)有限公司,未經(jīng)陜西源杰半導(dǎo)體技術(shù)有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201710439725.4/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。





