[發明專利]一種基于局部統計相關性的非均勻性校正方法及裝置有效
| 申請號： | 201710438956.3 | 申請日： | 2017-06-12 |
| 公開（公告）號： | CN107271046B | 公開（公告）日： | 2019-08-23 |
| 發明（設計）人： | 何斌;霍麗君;周達標 | 申請（專利權）人： | 中國科學院長春光學精密機械與物理研究所 |
| 主分類號： | G01J5/00 | 分類號： | G01J5/00 |
| 代理公司： | 深圳市科進知識產權代理事務所(普通合伙) 44316 | 代理人： | 趙勍毅 |
| 地址： | 130033 吉林省長春*** | 國省代碼： | 吉林;22 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 基于 局部 統計 相關性 均勻 校正 方法 裝置 | ||
1.一種基于局部統計相關性的非均勻性校正方法，其特征在于，包括以下步驟：
連續采集F幀圖像，所述連續采集F幀圖像是在保持被拍攝場景和焦平面陣列存在相對運動時采集；
標定所述采集的F幀圖像；
遞推計算F幀標定后圖像的均值得到均值圖像；
對均值圖像進行均值濾波得到濾波后圖像；
將所述濾波后圖像與均值圖像作差，得到校正系數矩陣。
2.如權利要求1所述的基于局部統計相關性的非均勻性校正方法，其特征在于，所述步驟：標定所述采集的F幀圖像，具體的計算公式為：
Jf(i,j)＝g(i,j)If(i,j)+o(i,j)
式中，If(i,j)代表第f幀圖像If中第i行第j列對應的像素點的灰度值，Jf(i,j)代表校正后圖像的灰度值，g(i,j)和o(i,j)是校正系數。
3.如權利要求1所述的基于局部統計相關性的非均勻性校正方法，其特征在于，所述步驟：遞推計算F幀標定后圖像的均值得到均值圖像，具體的計算公式為：
其中，代表累加F幀圖像Jf后得到的均值。
4.如權利要求1所述的基于局部統計相關性的非均勻性校正方法，其特征在于，所述步驟：對均值圖像進行均值濾波得到濾波后圖像，具體的計算公式為：
其中，M是均值濾波后的圖像，H是均值卷積模板。
5.一種基于局部統計相關性的非均勻性校正裝置，其特征在于，包括:
采集單元，所述采集單元用于連續采集F幀圖像，所述采集單元是在保持被拍攝場景和焦平面陣列存在相對運動時連續采集F幀圖像；
標定單元，所述標定單元用于將所述采集單元所述采集的F幀圖像進行標定；
計算單元，所述計算單元將所述標定單元標定后的F幀標定后圖像的均值進行遞推計算得到均值圖像；
濾波單元，所述濾波單元對所述計算單元得到的均值圖像進行均值濾波得到濾波后圖像；
校正單元，所述校正單元將所述濾波單元的濾波后圖像與計算單元的均值圖像作差，得到校正系數矩陣。
6.如權利要求5所述的基于局部統計相關性的非均勻性校正裝置，其特征在于，所述標定單元將所述采集單元所述采集的F幀圖像進行標定的具體的計算公式為：
Jf(i,j)＝g(i,j)If(i,j)+o(i,j)
式中，If(i,j)代表第f幀圖像If中第i行第j列對應的像素點的灰度值，Jf(i,j)代表校正后圖像的灰度值，g(i,j)和o(i,j)是校正系數。
7.如權利要求5所述的基于局部統計相關性的非均勻性校正裝置，其特征在于，所述計算單元將所述標定單元標定后的F幀標定后圖像的均值進行遞推計算得到均值圖像的具體的計算公式為：
其中，代表累加F幀圖像Jf后得到的均值。
8.如權利要求5所述的基于局部統計相關性的非均勻性校正裝置，其特征在于，所述校正單元將所述濾波單元的濾波后圖像與計算單元的均值圖像作差，得到校正系數矩陣具體的計算公式為：
其中，M是均值濾波后的圖像，H是均值卷積模板。
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