[發(fā)明專利]環(huán)境傳感器的制造方法及使用該方法制造的環(huán)境傳感器在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710434366.3 | 申請(qǐng)日: | 2017-06-09 |
| 公開(公告)號(hào): | CN107356637A | 公開(公告)日: | 2017-11-17 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 賴建文 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上海申矽凌微電子科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N27/12 | 分類號(hào): | G01N27/12;G01N27/22;G01N27/04;G01K7/01 |
| 代理公司: | 上海漢聲知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司31236 | 代理人: | 郭國(guó)中 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 環(huán)境 傳感器 制造 方法 使用 | ||
1.一種環(huán)境傳感器的制造方法,其特征在于,包括如下步驟:
步驟1,在硅片襯底上制備檢測(cè)器件;
步驟2,在檢測(cè)器件上制備溫敏器件、氣敏器件和濕敏器件并形成溫度傳感區(qū)、氣敏傳感區(qū)和濕敏傳感區(qū);
步驟3,封裝。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的環(huán)境傳感器的制造方法,其特征在于,步驟2包括:
步驟2.1,在檢測(cè)器件上淀積第四氧化層,在第四氧化層上設(shè)有貫穿第四氧化層的第一接觸孔,在第一接觸孔內(nèi)填充第一接觸體;
步驟2.2,在第四氧化層上用物理氣相沉積法淀積第四金屬薄膜層,第一接觸體連接第四金屬薄膜層與第三層金屬薄膜層;
步驟2.3,對(duì)第四金屬薄膜層進(jìn)行光刻和干法刻蝕,刻出加熱電阻層圖形;
步驟2.4,在第四金屬薄膜層用等離子體增強(qiáng)化學(xué)氣相沉積法淀積氮化硅層;
步驟2.5,對(duì)氮化硅層進(jìn)行光刻和干法刻蝕,在氮化硅層上開設(shè)貫穿氮化硅層的第二接觸孔,在第二接觸孔內(nèi)填充第二接觸體;
步驟2.6,在氮化硅層上用物理氣相沉積法淀積第五金屬薄膜層,第二接觸體連接第五金屬薄膜層與在第四金屬薄膜層;
步驟2.7,在第五金屬薄膜層上用物理氣相沉積法淀積第六金屬薄膜層;
步驟2.8,對(duì)氣敏傳感區(qū)的第五金屬薄膜層和第六金屬薄膜層進(jìn)行光刻和干法刻蝕,在第五金屬薄膜層和第六金屬薄膜層上刻出第一圖形;
步驟2.9,對(duì)氣敏傳感區(qū)的第六金屬薄膜層進(jìn)行光刻和干法刻蝕,在第六金屬薄膜層上刻出第二圖形;
步驟2.10,在第五金屬薄膜層和第六金屬薄膜層上用等離子體增強(qiáng)化學(xué)氣相沉積法淀積氧化硅層;
步驟2.11,在氧化硅層上涂布光刻膠;
步驟2.12,在氣敏傳感區(qū)的氧化硅層上用光刻開設(shè)貫穿光刻膠、氧化硅層的第三接觸孔;
步驟2.13,在光刻膠上面用物理氣相沉積法淀積金屬氧化物薄膜層;
步驟2.14,使用溶劑去除光刻膠,位于第三接觸孔內(nèi)的金屬氧化物薄膜層形成氣敏電阻;
步驟2.15,進(jìn)行真空烘烤,使金屬氧化物薄膜層結(jié)晶;
步驟2.16,在濕敏傳感區(qū)的氧化硅層上涂布高分子濕敏材料;
步驟2.17,在高分子濕敏材料上用光刻做出濕敏電容的圖形;
步驟2.18,進(jìn)行真空烘烤,使高分子濕敏材料固化;
步驟2.19,對(duì)溫度傳感區(qū)的氧化硅層進(jìn)行光刻及干法刻蝕,形成貫穿氧化硅層的第四接觸孔;
步驟2.20,連接線的一端伸入第四接觸孔內(nèi)與第六金屬薄膜層連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的環(huán)境傳感器的制造方法,其特征在于,第四金屬薄膜層的厚度為200納米~1微米,第四金屬薄膜層的材質(zhì)為金屬鎢或鎢鈦合金;
第五金屬薄膜層的厚度為100納米~1微米,第五金屬薄膜層的材質(zhì)為金屬鎢或鎢鈦合金;
第六金屬薄膜層的厚度為100納米~3微米,第六金屬薄膜層的材質(zhì)為金屬鋁或鋁銅合金。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的環(huán)境傳感器的制造方法,其特征在于,加熱電阻層的阻值為20歐姆~200歐姆。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的環(huán)境傳感器的制造方法,其特征在于,氮化硅層的厚度為10納米~200納米。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的環(huán)境傳感器的制造方法,其特征在于,氧化硅層的厚度為100納米~500納米。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的環(huán)境傳感器的制造方法,其特征在于,光刻膠的厚度為500納米~2微米。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的環(huán)境傳感器的制造方法,其特征在于,金屬氧化物薄膜層的厚度為100納米至800納米,金屬氧化物薄膜層的材質(zhì)為SnO2、ZnO、TiO2或經(jīng)過Fe、Zn、Pt、Pd元素參雜的氣敏物質(zhì)。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的環(huán)境傳感器的制造方法,其特征在于,步驟15中,真空烘烤的溫度為300℃~500℃,時(shí)間為10分鐘~4小時(shí);
步驟18中,真空烘烤的溫度為300℃~400℃,時(shí)間為10分鐘~4小時(shí)。
10.一種環(huán)境傳感器,其特征在于,所述傳感器采用權(quán)利要求1至9任意一項(xiàng)所述的環(huán)境傳感器的制造方法制造。
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