[發(fā)明專利]金納米顆粒修飾的碳納米管的應(yīng)用有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710433586.4 | 申請日: | 2017-06-09 |
| 公開(公告)號: | CN109030448B | 公開(公告)日: | 2020-06-16 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 楊娟;張達奇;呂敏;李賀楠;李彥 | 申請(專利權(quán))人: | 北京大學(xué) |
| 主分類號: | G01N21/65 | 分類號: | G01N21/65;B82Y40/00 |
| 代理公司: | 北京康思博達知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11426 | 代理人: | 談俊;劉冬梅 |
| 地址: | 100871*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 納米 顆粒 修飾 應(yīng)用 | ||
1.利用金納米顆粒修飾的碳納米管進行表面增強拉曼檢測的方法,其特征在于,利用所述金納米顆粒修飾的碳納米管制作表面增強拉曼檢測基底,用于拉曼檢測,所述表面增強拉曼檢測基底如下制備:
步驟1、在鏤空溝槽(1)上生長或放置碳納米管(2),得到碳納米管載體(3);
步驟2、在碳納米管載體(3)上進行原位反應(yīng)生成金納米顆粒,得到金納米顆粒修飾的碳納米管載體(4),其包括位于溝槽上的懸空部分(41);
步驟3、將金納米顆粒修飾的碳納米管載體(4)中的懸空部分(41)轉(zhuǎn)移至硅片(5)上,得到表面增強拉曼檢測基底(6),
被測樣品為溶液,步驟3包括以下子步驟:
步驟3.1、將異丙醇滴加到硅片(5)上;
步驟3.2、將步驟2得到的金納米顆粒修飾的碳納米管載體(4)倒置于步驟3.1處理的硅片(5)上;
步驟3.3、將鏤空溝槽(1)去除,然后對硅片(5)進行干燥,得到表面增強拉曼檢測基底(6)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,在步驟3.1中,所述硅片(5)在使用前進行如下處理:先采用piranha溶液于80~150℃下處理10~30min,再依次用超純水、乙醇、超純水在超聲波清洗儀中清洗,最后用氮氣吹干。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于,在步驟3.1中,所述硅片(5)在使用前進行如下處理:先采用piranha溶液于100~130℃下處理15~25min,再依次用超純水、乙醇、超純水在超聲波清洗儀中清洗,最后用氮氣吹干。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法,其特征在于,在步驟3.1中,所述硅片(5)在使用前進行如下處理:先采用piranha溶液于120℃下處理20min,再依次用超純水、乙醇、超純水在超聲波清洗儀中清洗,最后用氮氣吹干。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,在步驟3.1中,所述硅片含有100~400nm厚的二氧化硅層;和/或
異丙醇的用量為0.5~5μL。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法,其特征在于,在步驟3.1中,所述硅片任選地含有300nm厚的二氧化硅層;和/或
異丙醇的用量為2μL。
7.根據(jù)權(quán)利要求1至6之一所述的方法,其特征在于,在步驟3.2中,將金納米顆粒修飾的碳納米管載體(4)中的鏤空溝槽(1)倒置于硅片(5)上,即,將懸空部分(41)貼于硅片(5)的表面。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法,其特征在于,在步驟3.2中,在硅片(5)上倒置0.5~5min。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法,其特征在于,在步驟3.2中,在硅片(5)上倒置1~3min。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法,其特征在于,在步驟3.2中,在硅片(5)上倒置2min。
11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,在步驟3.3中,所述干燥于80~150℃下進行0.5~5min。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的方法,其特征在于,在步驟3.3中,所述干燥于100~130℃下進行1~3min。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的方法,其特征在于,在步驟3.3中,所述干燥于120℃下進行2min。
14.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,被檢測樣品為溶液,采用步驟3得到的表面增強拉曼檢測基底進行檢測,如下進行:
(a)配制待檢測溶液;
(b)將所述表面增強拉曼檢測基底(6)浸入上述(a)配制的溶液中5~20h;
(c)取出所述表面增強拉曼檢測基底(6),采用保護性氣體吹干表面;
(d)進行拉曼檢測。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
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