[發明專利]探測器增益校正系統及方法

有效

• 申請號: 201710433000.4
• 申請日: 2017-06-09
• 公開（公告）號: CN107015267B
• 公開（公告）日: 2018-10-09
• 發明（設計）人: 李高峰;楊慶坤
• 申請（專利權）人: 河北格物儀器設備有限公司
• 主分類號: G01T7/00
• 分類號: G01T7/00
• 代理公司: 北京超凡志成知識產權代理事務所(普通合伙) 11371
• 代理人: 王術蘭

1.一種探測器增益校正系統，其特征在于，應用于探測器的增益校正，所述系統包括：

由輻射屏蔽材料組成的用于密封放射源的密封容器，以及用于使所述探測器相對所述密封容器移動的傳送放置臺，其中：

所述探測器包括若干呈線性排布的探測單元，所述傳送放置臺包括用于放置所述密封容器和所述探測器的放置部，使所述探測器的所述探測單元線性排布的方向與所述密封容器相對所述探測器的運動方向平行；

所述密封容器上開設有供所述放射源發出射線粒子的縫隙，所述縫隙朝向所述探測單元，所述密封容器和所述探測器在相對運動過程中，每個所述探測單元實際采集的所述射線粒子的注量率相同，以根據接收的相同注量率的射線粒子調整所述探測單元的輸出增益。

2.根據權利要求1所述的系統，其特征在于，所述傳送放置臺包括底座，以及設置在所述底座上的直線滑軌，所述直線滑軌包括直線滑道、滑動設置在直線滑道上用于放置所述探測器、所述密封容器中的一個的滑塊，所述底座一側設置有凸出于所述底座的用于放置所述探測器、所述密封容器中的另一個的承載臺，所述承載臺與所述滑塊相配合，以使所述放射源從所述密封容器的縫隙發出的射線粒子被所述探測單元接收。

3.根據權利要求2所述的系統，其特征在于，所述滑塊上設置有用于固定所述探測器或所述密封容器的固定件。

4.根據權利要求1所述的系統，其特征在于，所述密封容器包括容器本體以及蓋體，所述蓋體蓋設在所述容器本體開設有開口的一端，所述縫隙開設在所述容器本體的側壁。

5.根據權利要求4所述的系統，其特征在于，所述密封容器還包括與所述縫隙配合的用于密封所述縫隙的密封塞，所述密封塞由所述輻射屏蔽材料組成。

6.根據權利要求1所述的系統，其特征在于，所述傳送放置臺包括承載板、傳送帶、電動機以及至少一個用于支撐所述承載板的支撐件，所述支撐件設置在所述承載板上，所述傳送帶設置在所述承載板上，所述傳送帶的一端與所述電動機的轉軸傳動連接。

7.根據權利要求6所述的系統，其特征在于，所述承載板設置有避免所述探測器或密封容器滑落的擋板。

8.根據權利要求6所述的系統，其特征在于，所述支撐件遠離所述承載板的一端設置有用于移動的輪。

9.根據權利要求1-8中任意一項所述的系統，其特征在于，所述輻射屏蔽材料包括鉛、硫酸鉛、硫酸鋇、有機玻璃中的一種或任意組合。

10.一種探測器增益校正方法，其特征在于，應用于基于探測器增益校正系統的探測器的增益校正，所述探測器增益校正系統包括由輻射屏蔽材料組成的用于密封放射源的密封容器，以及用于使所述探測器相對所述密封容器移動的傳送放置臺，所述探測器包括若干呈線性排布的探測單元，所述方法包括：

在所述密封容器上開設供所述放射源發出射線粒子的縫隙；

通過所述傳送放置臺使容納有放射源的密封容器相對所述探測器運動，且所述縫隙朝向所述探測單元，以使每個所述探測單元實際采集的所述射線粒子的注量率相同；

根據接收的相同注量率的射線粒子調整所述探測單元的輸出增益，使每個所述探測單元采的輸出計數率相同。