[發明專利]一種基于螺栓自定位的膜厚監測方法

有效

• 申請號: 201710429916.2
• 申請日: 2017-05-28
• 公開（公告）號: CN107187001B
• 公開（公告）日: 2019-03-08
• 發明（設計）人: 陳利紅
• 申請（專利權）人: 浙江凱利新材料股份有限公司
• 主分類號: B29C48/92
• 分類號: B29C48/92;B29L7/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發明公開了一種基于螺栓自定位的膜厚監測方法，由計算單元基于采集單元采集的厚度曲線數據計算曲線各點厚度值和各螺栓位置，判識單元檢索和識別待處理螺栓，在調節單元對待處理螺栓進行溫度調節后比較調節前后膜厚零偏差點的移動，并根據移動量對各螺栓估計位置進行調整。本發明通過選定一組螺栓進行厚度調節和反饋判識，實現對薄膜厚度的實時有效監測，準確的螺栓自定位為膜厚控制提供了依據，且自定位過程的調節動作量小。

技術領域

本發明涉及薄膜制造技術領域，具體涉及一種基于螺栓自定位的膜厚監測方法。

背景技術

BOPP薄膜即雙向拉伸聚丙烯薄膜是由雙向拉伸所制得的，它是經過物理、化學和機械等手段特殊成型加工而成的塑料產品。BOPP生產線是一個非線性、時變、大延遲的復雜系統。其工藝流程主要包括：原料熔融、擠出、冷卻成型、縱向拉伸、橫向拉伸、切邊、電暈處理、卷取等。

作為BOPP薄膜產品質量指標的物理機械性能如拉伸強度、斷裂伸長率、濁度、光澤等，因主要決定于材料本身的屬性，所以都易達到要求。而作為再加工性和使用性能的主要控制指標，即薄膜厚度偏差和薄膜平均厚度偏差，則主要決定于薄膜的制造過程。即使制造過程中薄膜厚度控制在在標準允許的偏差范圍內，但經數千層膜收卷累計后，厚度偏差大的位置上就可能形成箍、暴筋或凹溝等不良缺陷，這些缺陷直接影響到用戶的再加工使用，如彩印套色錯位或涂膠不勻起皺等現象，使其降低或失去使用價值。所以BOPP薄膜生產中最關鍵的質量間題是如何提高和穩定薄膜厚度精度。

薄膜厚度檢測技術主要采用紅外線、X射線、β射線等的透射式檢測方式。如申請號為2012204848603的中國專利通過對激光透射圖像的分析來判斷被檢薄膜的厚度，申請號為2012202105502的中國專利則通過紅外檢測來獲得薄膜厚度。申請號為2007201517097的中國專利采用了X射線的方法，其同時指出，為了得到厚度均勻的薄膜，必須要實現厚度測量值和測量位置精確定位，申請號為2014204575910的中國專利則通過定邊裝置來進行基膜的對齊。

目前，為實時監測薄膜厚度，對測厚儀輸出的厚度數據進行螺栓對應的常用方法主要有以下兩種，一是在不同螺栓處劃線做記號，然后在測厚儀掃描架上找到對應的地方，以確定螺栓的位置；二是在用測厚儀檢測剖面的同時，也測量出膜幅的實際寬度，參照模頭的寬度來計算薄膜的縮頸量，進而對模頭螺栓進行對應。這兩種方法均需要人工根據實際生產情況進行輔助標識、測量和判斷，人工判斷不但不精確，也無法穩定。由于缺乏對薄膜剖面的連續準確監測，薄膜的厚度控制效果及所生產產品的質量往往受到影響。為此，需要解決通過對擠出機模頭螺栓準確定位來對薄膜剖面厚度進行有效監測的問題。

發明內容

有鑒于此，本發明的目的在于提供一種能輔助測厚儀對螺栓進行自定位的監測系統，通過動態調節一組選定的螺栓，對測厚儀輸出的薄膜剖面厚度曲線進行處理和計算，判斷螺栓定位的偏差并相應調整螺栓位置估計，從而對擠出機模頭螺栓進行準確定位，輸出薄膜剖面各點厚度值，并在厚度曲線上標記各模頭螺栓位置，用來對BOPP薄膜生產進行在線式薄膜厚度監測。

本發明的技術解決方案是，提供一種基于螺栓自定位的膜厚監測方法，包括如下步驟：

P1)采集單元從測厚儀獲取薄膜剖面厚度曲線數據，計算單元計算出曲線上各點薄膜厚度，進行螺栓初始定位；

P2)判識單元進行螺栓檢索，選定一組相鄰螺栓作為待處理螺栓，檢索、記錄兩個螺栓之間厚度偏差為零的點的橫坐標XP；同時，由調節單元通過執行機構對該兩個螺栓進行按各自厚度偏差的比例控制，通過調節螺栓溫度來改變擠出機唇口的開度；

P3)等待比例控制完成，判識單元再次檢索所述一組相鄰螺栓之間的零偏差點，記其橫坐標為XQ；