[發明專利]一種檢測弧面反光鏡片表面缺陷的方法和裝置

有效

• 申請號: 201710428578.0
• 申請日: 2017-06-08
• 公開（公告）號: CN107169964B
• 公開（公告）日: 2020-11-03
• 發明（設計）人: 勞永革;段峰;何建枝
• 申請（專利權）人: 廣東嘉銘智能科技有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 張春水;唐京橋

1.一種檢測弧面反光鏡片表面缺陷的裝置，其特征在于，包括：對稱分布的兩排光源、對稱設置在所述光源前面的黑白條紋相間的兩塊光源膜、設置在所述光源后面的線掃相機，可移動的主體；

兩排所述光源之間設置有第一間隔；

兩排所述光源膜之間設置有第二間隔，且所述第二間隔的寬度與所述光源膜上的黑條紋及白條紋的寬度相等；

所述第二間隔和所述第一間隔之間的連線與所述光源膜所在的平面垂直；

兩塊所述光源膜的組合長度和寬度分別大于待測弧面反光鏡片的長度和寬度；

所述線掃相機的鏡頭設置在所述第一間隔和所述第二間隔之間連線的延長線上，用于獲取經所述待測弧面反光鏡片反射且依次穿過所述第二間隔和所述第一間隔的反射光；

兩排所述光源、兩排所述光源膜、所述線掃相機均固定設置在可移動的所述主體上；

所述主體用于移動兩排所述光源、兩排所述光源膜、所述線掃相機，使得所述線掃相機依次掃過整個所述待測弧面反光鏡片表面并獲取經所述待測弧面反光鏡片反射的反射光形成的明暗相間的完整反射光圖像；

通過分析所述反射光圖像上明暗相間的光帶分析所述待測弧面反光鏡片的表面缺陷。

2.根據權利要求1所述的檢測弧面反光鏡片表面缺陷的裝置，其特征在于，所述光源為LED光源。

3.一種檢測弧面反光鏡片表面缺陷的方法，其特征在于，包括：

通過對稱分布的兩排光源和對稱設置在兩排所述光源前面的黑白條紋相間的兩塊光源膜產生入射光并照射在待測弧面反光鏡片表面，其中兩塊所述光源膜的組合長度和寬度分別大于所述待測弧面反光鏡片的長度和寬度；

通過設置在所述光源后面的線掃相機獲取經所述待測弧面反光鏡片反射且依次穿過第二間隔和第一間隔的反射光圖像，所述第一間隔為兩排所述光源之間的間隙，所述第二間隔為兩排所述光源膜之間的間隙，所述線掃相機的鏡頭設置在所述第一間隔和所述第二間隔之間連線的延長線上，所述第二間隔和所述第一間隔之間的連線與所述光源膜所在的平面垂直，所述第二間隔的寬度與所述光源膜上的黑條紋及白條紋的寬度相等；

通過設置在所述光源后面的線掃相機獲取經所述待測弧面反光鏡片反射且依次穿過第二間隔和第一間隔的反射光圖像具體包括：

統一移動兩排所述光源、兩排所述光源膜、所述線掃相機，同時通過所述線掃相機獲取每個位置的經所述待測弧面反光鏡片反射且依次穿過第二間隔和第一間隔的反射光來獲取明暗相間的完整反射光圖像；

通過分析所述反射光圖像上明暗相間的光帶分析所述待測弧面反光鏡片的表面缺陷。