[發(fā)明專(zhuān)利]基于圓跡變換的圖像不變特征提取方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201710422068.2
• 申請(qǐng)日: 2017-06-07
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN107358239B
• 公開(kāi)（公告）日: 2018-05-18
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 汪宇玲;黎明;陳昊;張聰炫;李軍華;張君;王艷
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 南京航空航天大學(xué)
• 主分類(lèi)號(hào): G06K9/46
• 分類(lèi)號(hào): G06K9/46;G06K9/62
• 代理公司: 南京經(jīng)緯專(zhuān)利商標(biāo)代理有限公司 32200
• 代理人: 曹蕓

1.一種基于圓跡變換的圖像不變特征提取方法，其特征在于，包括以下步驟：

1）對(duì)原始圖像灰度級(jí)量化，將量化后的灰度圖像F映射到圓跡空間S（, ρ, r, c），所述圓跡空間S（, ρ, r, c），其中圓跡的半徑r、圓的中心點(diǎn)Q與坐標(biāo)原點(diǎn)O的距離ρ和跡線t的法線與水平軸x的夾角三個(gè)參數(shù)確定了一個(gè)圓跡線，在該圓跡線上定義參數(shù)c，則將圖像F映射到一個(gè)四維空間S（, ρ, r, c），S命名為圓跡空間，圓跡空間上的點(diǎn)對(duì)應(yīng)圖像F上的唯一一點(diǎn)，所述圓跡空間S中的每一點(diǎn)對(duì)應(yīng)圖像F上唯一點(diǎn)，每張圖像唯一對(duì)應(yīng)一個(gè)圓跡空間投影數(shù)據(jù)；

假設(shè)圓跡空間S中的一點(diǎn)（, ρ, r, c）與圖像F上一點(diǎn)（x，y）對(duì)應(yīng)，則它們之間的變換關(guān)系如下

（2）

其中是跡線t的法線與水平軸x的夾角， c是定義在圓跡上起始點(diǎn)位于E的變量， 為c與圓心Q連線與水平軸x的夾角；

2）經(jīng)圓跡線泛函R作用去除參數(shù)c得到一重特征，獲得三維特征數(shù)據(jù)；

3）在步驟2）所得三維特征數(shù)據(jù)基礎(chǔ)上經(jīng)半徑泛函T作用去除參數(shù)r得到二重特征，獲得二維特征矩陣；

4）在步驟3）所得特征矩陣基礎(chǔ)上經(jīng)直徑泛函D作用去除參數(shù)ρ得到三重特征，獲得一維特征向量；

5）在步驟4）所得特征向量基礎(chǔ)上經(jīng)圓周泛函C作用去除參數(shù)得到四重特征，獲得一個(gè)標(biāo)量，即一個(gè)實(shí)數(shù)；經(jīng)步驟2）—步驟5）的泛函組合作用得到最終的一個(gè)圖像特征；

6）重復(fù)步驟2）—步驟5）步，選擇不同R、T、D、C泛函組合，獲得圖像不同的多維圓跡變換紋理特征。