[發明專利]集成電路和應用程序處理器有效
| 申請號: | 201710420111.1 | 申請日: | 2017-06-06 |
| 公開(公告)號: | CN107894722B | 公開(公告)日: | 2022-08-30 |
| 發明(設計)人: | 禹炯日 | 申請(專利權)人: | 三星電子株式會社 |
| 主分類號: | G05B19/042 | 分類號: | G05B19/042 |
| 代理公司: | 華進聯合專利商標代理有限公司 44224 | 代理人: | 劉培培 |
| 地址: | 韓國京畿道水*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 集成電路 應用程序 處理器 | ||
1.一種集成電路,其特征在于,包括:
多個知識產權件,所述多個知識產權件中的每一個包括測試邏輯;
總線,其經配置以連接至所述多個知識產權件;
第一存儲器控制器,其經配置以控制第一存儲器,在第一操作模式中經由所述總線從所述多個知識產權件中的至少一個接收數據并且將所述數據提供到所述第一存儲器;
掃描器,其經配置以在第二操作模式中從所述多個知識產權件的所述測試邏輯中的至少一個搜集調試數據;以及
第二存儲器控制器,其經配置以控制所述第一存儲器,在所述第二操作模式中從所述掃描器接收所述調試數據并且將從所述掃描器接收的所述調試數據提供到所述第一存儲器,其中所述掃描器連接至所述多個知識產權件的每一個。
2.根據權利要求1所述的集成電路,其特征在于,還包括控制器,所述控制器經配置以響應于掃描請求信號而將指示所述第二操作模式的控制信號提供到所述多個知識產權件和所述掃描器。
3.根據權利要求2所述的集成電路,其特征在于,還包括缺陷檢測器,所述缺陷檢測器經配置以檢測所述集成電路的操作缺陷并且產生所述掃描請求信號。
4.根據權利要求2所述的集成電路,其特征在于,所述控制器將用于搜集所述調試數據的掃描信息提供到所述掃描器。
5.根據權利要求4所述的集成電路,其特征在于,其中所述掃描信息包括以下各者中的至少一個:用于搜集所述調試數據的目標知識產權件信息、目標知識產權件的測試邏輯信息,以及關于將存儲所述調試數據的所述第一存儲器的區域的地址信息。
6.根據權利要求1所述的集成電路,其特征在于,還包括:
調試時鐘產生器,其經配置以在所述第二操作模式中產生調試時鐘信號,其中
由所述第二存儲器控制器輸出的所述調試數據是響應于所述調試時鐘信號而發送到所述第一存儲器。
7.根據權利要求6所述的集成電路,其特征在于,所述調試時鐘產生器響應于從外部提供的參考時鐘信號而產生所述調試時鐘信號。
8.根據權利要求6所述的集成電路,其特征在于,在所述第一操作模式中,所述掃描器、所述第二存儲器控制器以及所述調試時鐘產生器處于閑置狀態。
9.根據權利要求1所述的集成電路,其特征在于,其中:
每一測試邏輯連同多個掃描觸發器構成掃描鏈,并且
所述調試數據包括由所述掃描鏈輸出的掃描數據。
10.根據權利要求9所述的集成電路,其特征在于,其中所述掃描器將對應于所述掃描鏈的長度的掃描時鐘信號提供到包含于所述多個知識產權件中所包含的至少一個目標知識產權件中的所述測試邏輯。
11.根據權利要求1所述的集成電路,其特征在于,其中所述掃描器將所述調試數據的格式轉換成適合于所述第二存儲器控制器的協議的數據格式。
12.根據權利要求1所述的集成電路,其特征在于,其中所述第一存儲器包含于所述集成電路中。
13.根據權利要求1所述的集成電路,其特征在于,其中所述第一存儲器包括位于所述集成電路外部的動態隨機存取存儲器。
14.根據權利要求1所述的集成電路,其特征在于,還包括:
功率管理單元,其經配置以管理提供到所述多個知識產權件的功率,其中
所述功率管理單元在所述第二操作模式中阻斷時鐘信號到所述多個知識產權件的應用,并且在所述調試數據被完全搜集并且存儲時產生系統重置信號。
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