[發明專利]含水量分析方法、裝置以及水分測量儀及測量方法在審
| 申請號： | 201710415545.2 | 申請日： | 2017-06-05 |
| 公開（公告）號： | CN107238611A | 公開（公告）日： | 2017-10-10 |
| 發明（設計）人： | 潘磊;許瑾 | 申請（專利權）人： | 默斯測控技術（長沙）有限公司 |
| 主分類號： | G01N22/04 | 分類號： | G01N22/04 |
| 代理公司： | 廣州華進聯合專利商標代理有限公司44224 | 代理人： | 林青中 |
| 地址： | 410000 湖南省長沙市高新開發*** | 國省代碼： | 湖南;43 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 含水量 分析 方法 裝置 以及 水分 測量儀 測量方法 | ||
1.一種含水量分析方法，其特征在于，包括步驟：
獲取微波信號穿過待測物料形成的回波信號相對于所述微波信號產生的相位差及振幅衰減；
獲取所述相位差與所述振幅衰減的比值；
根據所述比值獲得所述待測物料的含水量。
2.根據權利要求1所述的含水量分析方法，其特征在于，所述根據所述比值獲得所述待測物料的含水量的步驟為：
將所述比值代入預設函數關系式中，以得到所述含水量。
3.一種含水量分析裝置，其特征在于，包括：
獲取模塊，用于獲取微波信號穿過待測物料形成的回波信號相對于所述微波信號產生的相位差及振幅衰減；
比對模塊，用于獲取所述相位差與所述振幅衰減的比值；
分析模塊，用于根據所述比值獲得所述待測物料的含水量。
4.根據權利要求3所述的含水量分析裝置，其特征在于，所述分析模塊用于將所述比值代入預設函數關系式中，以得到所述含水量。
5.一種水分測量儀，其特征在于，包括：
發射天線，用于向待測物料發射微波信號；
接收天線，用于接收所述微波信號穿過所述待測物料形成的回波信號；及處理器，用于獲取所述回波信號相對于所述微波信號產生的相位差及振幅衰減；獲取所述相位差與所述振幅衰減的比值；根據所述比值獲得所述待測物料的含水量。
6.根據權利要求5所述的水分測量儀，其特征在于，所述處理器用于將所述比值代入預設函數關系式中，以得到所述含水量。
7.根據權利要求5所述的水分測量儀，其特征在于，還包括顯示器，所述顯示器用于顯示所述含水量。
8.一種水分測量方法，其特征在于，包括步驟：
發射天線向待測物料發射微波信號；
接收天線接收所述微波信號穿過所述待測物料形成的回波信號；
處理器獲取所述回波信號相對于所述微波信號產生的相位差及振幅衰減；
處理器獲取所述相位差與所述振幅衰減的比值；
處理器根據所述比值獲得所述待測物料的含水量。
9.根據權利要求8所述的水分測量方法，其特征在于，所述根據所述比值獲得所述待測物料的含水量的步驟為：
處理器將所述比值代入預設函數關系式中，以得到所述含水量。
10.根據權利要求8所述的水分測量方法，其特征在于，還包括顯示器對所述含水量進行顯示的步驟。
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