[發(fā)明專利]SoC片上NBTI退化檢測系統(tǒng)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201710414615.2
• 申請日: 2017-06-05
• 公開（公告）號: CN107202951B
• 公開（公告）日: 2019-08-06
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 陳義強(qiáng);潘偉鋒;恩云飛;池源;雷登云;黃云
• 申請（專利權(quán)）人: 中國電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn)研究所
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 廣州華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 44224
• 代理人: 黃曉慶

1.一種SoC片上NBTI退化檢測系統(tǒng)，其特征在于，包括測量環(huán)形振蕩器、參考環(huán)形振蕩器、第一計(jì)數(shù)器模塊和第二計(jì)數(shù)器模塊，所述測量環(huán)形振蕩器連接電源端和所述第一計(jì)數(shù)器模塊，所述參考環(huán)形振蕩器連接所述電源端和所述第二計(jì)數(shù)器模塊，

所述測量環(huán)形振蕩器用于接收表征與SoC片上的被測電路處于同種老化環(huán)境下的外部電路信號，并在停止接收所述外部電路信號后，與所述參考環(huán)形振蕩器同時(shí)接入電源端輸入的電壓并開始振蕩，所述測量環(huán)形振蕩器和所述參考環(huán)形振蕩器在振蕩時(shí)分別輸出波形至所述第一計(jì)數(shù)器模塊和所述第二計(jì)數(shù)器模塊，所述第一計(jì)數(shù)器模塊和所述第二計(jì)數(shù)器模塊對接收的波形進(jìn)行電平計(jì)數(shù)，得到用于對被測電路進(jìn)行NBTI退化檢測的電平數(shù)量；

所述測量環(huán)形振蕩器和所述參考環(huán)形振蕩器均包括環(huán)形振蕩器電路和整流濾波電路，各所述環(huán)形振蕩器電路均連接所述電源端，并通過對應(yīng)整流濾波電路分別連接所述第一計(jì)數(shù)器模塊和所述第二計(jì)數(shù)器模塊，所述測量環(huán)形振蕩器的環(huán)形振蕩器電路用于接收所述外部電路信號，并在停止接收所述外部電路信號后，與所述參考環(huán)形振蕩器的環(huán)形振蕩器電路同時(shí)接入電源端輸入的電壓并開始振蕩，所述測量環(huán)形振蕩器的整流濾波電路和所述參考環(huán)形振蕩器的整流濾波電路對對應(yīng)的環(huán)形振蕩器電路輸出的波形進(jìn)行整形濾波，并分別將整形濾波后的波形輸出至所述第一計(jì)數(shù)器模塊和所述第二計(jì)數(shù)器模塊；

所述測量環(huán)形振蕩器的環(huán)形振蕩器電路包括第一開關(guān)管、第二開關(guān)管、第三開關(guān)管、第四開關(guān)管、第五開關(guān)管、第六開關(guān)管、第七開關(guān)管、第一電容和第二電容，所述第一開關(guān)管的輸入端連接所述電源端，所述第一開關(guān)管的控制端用于接收所述外部電路信號，所述第一開關(guān)管的輸出端連接所述第二開關(guān)管的輸入端和所述第三開關(guān)管的輸入端，所述第二開關(guān)管的輸出端和所述第三開關(guān)管的輸出端連接所述第一計(jì)數(shù)器模塊；

所述第四開關(guān)管的輸入端連接所述第二開關(guān)管的輸出端，所述第四開關(guān)管的控制端接入偏置電壓，所述第四開關(guān)管的輸出端接地，所述第五開關(guān)管的輸入端和控制端均連接所述第二開關(guān)管的輸出端，所述第五開關(guān)管的輸出端接地；

所述第六開關(guān)管的輸入端和輸出端均連接所述第三開關(guān)管的輸出端，所述第六開關(guān)管的輸出端接地，所述第七開關(guān)管的輸入端連接所述第三開關(guān)管的輸出端，所述第七開關(guān)管的控制端接入偏置電壓，所述第七開關(guān)管的輸出端接地；

所述第一電容一端連接所述第二開關(guān)管的輸出端，另一端接地；所述第二電容一端連接所述第三開關(guān)管的輸出端，另一端接地。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的SoC片上NBTI退化檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述測量環(huán)形振蕩器的整流濾波電路包括第八開關(guān)管、第九開關(guān)管、第十開關(guān)管、第十一開關(guān)管、第十二開關(guān)管、第十三開關(guān)管、第一反相器和第二反相器，

所述第八開關(guān)管的控制端、所述第九開關(guān)管的控制端、所述第十開關(guān)管的控制端和所述第十一開關(guān)管的控制端均連接所述測量環(huán)形振蕩器的環(huán)形振蕩器電路，所述第八開關(guān)管的輸入端連接電源端，所述第八開關(guān)管的輸出端連接所述第九開關(guān)管的輸入端和所述第十二開關(guān)管的輸入端，所述第九開關(guān)管的輸出端連接所述第一反相器和所述第十開關(guān)管的輸入端，所述第十開關(guān)管的輸出端連接所述第十一開關(guān)管的輸入端和所述第十三開關(guān)管的輸出端，所述第十一開關(guān)管的輸出端接地；所述第十二開關(guān)管的控制端和所述第十三開關(guān)管的控制端均連接所述第九開關(guān)管的輸出端，所述第十二開關(guān)管的輸出端接地，所述第十三開關(guān)管的輸入端連接電源端；所述第一反相器連接所述第二反相器，所述第二反相器連接所述第一計(jì)數(shù)器模塊。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的SoC片上NBTI退化檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述第一反相器包括第十四開關(guān)管和第十五開關(guān)管，所述第二反相器包括第十六開關(guān)管和第十七開關(guān)管，

所述第十四開關(guān)管的控制端和所述第十五開關(guān)管的控制端均連接所述第九開關(guān)管的輸出端，所述第十四開關(guān)管的輸入端連接電源端，所述第十四開關(guān)管的輸出端連接所述第十五開關(guān)管的輸入端，所述第十五開關(guān)管的輸出端接地；所述第十六開關(guān)管的控制端和所述第十七開關(guān)管的控制端均連接所述第十四開關(guān)管的輸出端，所述第十六開關(guān)管的輸入端連接電源端，所述第十六開關(guān)管的輸出端連接所述第一計(jì)數(shù)器模塊和所述第十七開關(guān)管的輸入端，所述第十七開關(guān)管的輸出端接地。