[發明專利]一種調試微波器件的方法和設備

有效

• 申請號: 201710414164.2
• 申請日: 2017-06-05
• 公開（公告）號: CN107132471B
• 公開（公告）日: 2020-02-28
• 發明（設計）人: 陳超;張少林;孫昌盛;陳嘉達
• 申請（專利權）人: 深圳市威富通訊技術有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;H01P11/00
• 代理公司: 北京超凡志成知識產權代理事務所(普通合伙) 11371
• 代理人: 王術蘭

本發明實施例提出了一種調試微波器件的方法和設備，其中該方法包括：確定待調試微波器件的性能曲線以及性能曲線的通帶區域；選取性能曲線中諧振點的移動方向為接近通帶區域所對應的調試方式進行調試，以使諧振點全部處于通帶區域內；選取通帶區域內各取樣點的值大于對應標準值的數量越來多的趨勢所對應的調試方式進行調試，直至通帶區域內各取樣點的值都大于對應標準值以完成對待調試微波器件的調試。以此實現了一種自動化調試的方法，提高了調試的效率。

技術領域

本發明涉及調試領域，特別涉及一種調試微波器件的方法和設備。

背景技術

現在隨著微波通信技術的發展，雙工器、濾波器、合路器等微波器件的需求量以及使用量也越來越大。

而現階段許多微波器件都是無法直接使用，二是需要實現進行調試的，但目前的調試過程都是人工完成，這樣導致費時費力，效率低下，且很大程度提高了人力成本。

有鑒于此，現在拯待一種高效率的方式來對微波器件進行調試，以降低人力成本。

發明內容

以此，本發明提出了一種調試微波器件的方法和設備，用以提高調試的效率。

具體的，本發明提出了以下具體的實施例：

本發明實施例提出了一種調試微波器件的方法，包括：

確定待調試微波器件的性能曲線以及性能曲線的通帶區域；

選取性能曲線中諧振點的移動方向為接近通帶區域所對應的調試方式進行調試，以使諧振點全部處于通帶區域內；

選取通帶區域內各取樣點的值大于對應標準值的數量越來多的趨勢所對應的調試方式進行調試，直至通帶區域內各取樣點的值都大于對應標準值以完成對待調試微波器件的調試。

在一個具體的實施例中，所述“確定待調試微波器件的性能曲線以及性能曲線的通帶區域”包括：

通過網絡分析儀器對待調試微波器件進行測試，以獲取待調試微波器的性能曲線；

根據需求信息確定對應待調試微波器的標準性能曲線；其中不同的需求信息對應不同的標準性能曲線；

基于所獲取的標準性能曲線確定性能曲線的通帶區域。

在一個具體的實施例中，所述“選取性能曲線中諧振點的移動方向為接近通帶區域所對應的調試方式進行調試，以使諧振點全部處于通帶區域內”包括：

選取性能曲線中待調試的頻段區域進行取點，得到多個取樣點；

針對每一次對待調試微波器件的調試，確定此次調試之前各取樣點與此次調試之后各取樣點的數值的差值；

針對各取樣點，若所述差值大于預設值，則對該取樣點進行第一標識；

若所述差值不大于預設值，則對該取樣點進行第二標識；

根據各取樣點的第一標識與第二標識的移動方向確定諧振點的移動方向；

選取移動方向為接近通帶區域所對應的調試方式進行調試，直到諧振點全部處于通帶區域內。

在一個具體的實施例中，所述“選取通帶區域內各取樣點的值大于對應標準值的數量越來多的趨勢所對應的調試方式進行調試，直至通帶區域內各取樣點的值都大于對應標準值以完成對待調試微波器件的調試”包括：

針對通帶區域進行取點，得到多個取樣點；

針對每一次對待調試微波器件的調試，確定此次調試后各取樣點與預先獲取的標準性能曲線中相同的各取樣點的數值的差值；

針對各取樣點，若所述差值大于預設值，則對該取樣點進行第三標識；