[發(fā)明專利]顯示面板測試設(shè)備及測試方法

有效

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• 申請日: 2017-06-05
• 公開（公告）號: CN107193139B
• 公開（公告）日: 2020-04-14
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 杜永剛;徐國華;張翼;吳斌;曾鵬;秦衛(wèi)
• 申請（專利權(quán)）人: 京東方科技集團(tuán)股份有限公司;合肥京東方光電科技有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13
• 代理公司: 北京銀龍知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11243
• 代理人: 許靜;劉偉

本發(fā)明涉及一種顯示面板測試設(shè)備，基臺，包括用于承載面板的彈性承載區(qū)域；旋轉(zhuǎn)裝置，與基臺連接，用于控制基臺在水平面旋轉(zhuǎn)第一預(yù)設(shè)角度，第一預(yù)設(shè)角度大于等于0度；施壓裝置，包括設(shè)置于基臺上用于承載面板的第一側(cè)、能夠?qū)γ姘迨┘拥谝环较虻牧Φ膲侯^，第一方向與豎直方向之間具有第二預(yù)設(shè)角度；壓力感應(yīng)裝置，與施壓裝置連接、能夠感應(yīng)壓頭對面板施加的力的大??；光源，設(shè)置于基臺上用于承載面板的第一側(cè)，用于對面板的受力位置提供透射光；光檢裝置，設(shè)置于基臺上與第一側(cè)相對的第二側(cè)、用于獲取施壓裝置對面板施壓產(chǎn)生的圖像信息；處理裝置，用于根據(jù)圖像信息確定面板產(chǎn)生不良的臨界條件。本發(fā)明還涉及一種顯示面板測試方法。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及液晶產(chǎn)品制作技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種顯示面板測試設(shè)備及測試方法。

背景技術(shù)

為了維持薄膜晶體管液晶顯示器(Thin Film Transistor Liquid CrystalDisplay，簡稱TFT-LCD)的彩膜基板和陣列基板之間的盒厚，通常在液晶面板CF側(cè)制作柱形隔墊物(Post Spacer，簡稱PS)以保持盒厚一致。柱形隔墊物PS通常包括較高的主隔墊物Main PS和較低的副隔墊物Sub PS。

在實際生產(chǎn)作業(yè)中，因為液晶面板受到各種不可控的外力，Main PS產(chǎn)生滑動，使Main PS所在的亞像素配向膜損傷，在黑畫面下產(chǎn)生像素漏光，即PS Mura不良。

目前沒有PS Mura的評價基準(zhǔn)，在新產(chǎn)品PS Mura風(fēng)險評估和不良改善過程中，無法準(zhǔn)確評價產(chǎn)品PS Mura的風(fēng)險水平，只能采用投入大量驗證品，通過驗證品PS Mura不良率的方法來評價風(fēng)險，此種方法的問題主要有：

成本高昂：為了減小數(shù)據(jù)統(tǒng)計的偶然性，需要投入大量產(chǎn)品比較不同生產(chǎn)條件的PS Mura發(fā)生率，每次驗證需要耗費大量的物料和加工費，并占用產(chǎn)線量產(chǎn)實際，使正常量產(chǎn)產(chǎn)能降低，損失較大。

時間周期長：PS Mura可能的發(fā)生工序很多，從Cell對盒后-Cut-減薄-ET-模組等各個工序都可能會產(chǎn)生PS Mura，所以統(tǒng)計PS Mura的發(fā)生率需要等待產(chǎn)品完全完成模組制作及信息電算，才能統(tǒng)計出準(zhǔn)確的良率對比，時間成本較大。

發(fā)明內(nèi)容

為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明提供一種顯示面板測試設(shè)備及測試方法，快速、準(zhǔn)確的確定出現(xiàn)PS Mura的條件。

為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明采用的技術(shù)方案是：一種顯示面板測試設(shè)備，包括：

基臺，包括用于承載面板的彈性承載區(qū)域；

旋轉(zhuǎn)裝置，與所述基臺連接，用于控制所述基臺在水平面旋轉(zhuǎn)第一預(yù)設(shè)角度，所述第一預(yù)設(shè)角度大于等于0度；

施壓裝置，包括設(shè)置于所述基臺上用于承載面板的第一側(cè)、能夠?qū)γ姘迨┘拥谝环较虻牧Φ膲侯^，所述第一方向與豎直方向之間具有第二預(yù)設(shè)角度；

壓力感應(yīng)裝置，與所述施壓裝置連接、能夠感應(yīng)所述壓頭對面板施加的力的大小；

光源，設(shè)置于所述基臺上用于承載面板的所述第一側(cè)，用于對面板的受力位置提供透射光；

光檢裝置，設(shè)置于所述基臺上與所述第一側(cè)相對的第二側(cè)、用于獲取所述施壓裝置對面板施壓產(chǎn)生的圖像信息；

處理裝置，用于根據(jù)所述圖像信息確定面板產(chǎn)生灰度不良的臨界條件。

進(jìn)一步的，所述光檢裝置包括：

灰度檢測單元，用于檢測面板受力位置的灰度變化；

圖像攝取單元，用于在面板的受力位置的灰度上升幅度超出預(yù)設(shè)范圍時、獲取面板受力位置的微觀圖片。

進(jìn)一步的，所述處理裝置包括：

第一處理單元，用于將所述微觀圖片與不良樣本圖片進(jìn)行對比；