[發明專利]一種基于精密針孔的局域輻射流測量系統

有效

• 申請號: 201710407489.8
• 申請日: 2017-06-02
• 公開（公告）號: CN107085233B
• 公開（公告）日: 2023-05-26
• 發明（設計）人: 謝旭飛;劉慎業;杜華冰;陳進文;任寬;侯立飛;李三偉;李志超;郭亮;楊冬;蔣曉華
• 申請（專利權）人: 中國工程物理研究院激光聚變研究中心
• 主分類號: G01T1/29
• 分類號: G01T1/29
• 代理公司: 中國工程物理研究院專利中心 51210
• 代理人: 翟長明;韓志英

1.一種基于精密針孔的局域輻射流測量系統，其特征在于：所述的測量系統包括開孔玻璃光闌（2）、瞄準節（3）、精密針孔（4）、開孔透鏡（5）、CMOS相機（6）、開孔熒光板（7）、平響應XRD探測器（8）、信號衰減器（9）、示波器（10）、采集計算機（11）；所述的開孔玻璃光闌（2）、精密針孔（4）、開孔透鏡（5）、開孔熒光板（7）、平響應XRD探測器（8）的中心依次設置在同一條光路上；所述的平響應XRD探測器（8）、信號衰減器（9）、示波器（10）、采集計算機（11）依次電連接；所述CMOS相機（6）與光路成一夾角，用于觀測開孔熒光板上的圖像；黑腔（1）置于開孔玻璃光闌（2）的前方，黑腔（1）的激光注入孔發射的X光通過開孔玻璃光闌（2）、瞄準節（3）、精密針孔（4），再穿過開孔熒光板（7）上的限孔到達平響應XRD探測器（8）的靈敏面，產生脈沖電流信號，脈沖電流信號經過信號衰減器（9）衰減至示波器（10）的量程范圍內，并由采集計算機（11）采集；開孔熒光板（7）上的限孔周圍區域記錄的X光圖像用于確定平響應XRD探測器（8）測得輻射流的來源區域。

2.根據權利要求1所述的基于精密針孔的局域輻射流測量系統，其特征在于：所述的CMOS相機（6）與光路之間的夾角范圍為20度-40度。

3.根據權利要求1所述的基于精密針孔的局域輻射流測量系統，其特征在于：所述的精密針孔（4）與開孔透鏡（5）的中心間距小于60?mm。

4.根據權利要求1所述的基于精密針孔的局域輻射流測量系統，其特征在于：所述的開孔玻璃光闌（2）的截止波長為450?nm。

5.根據權利要求1所述的基于精密針孔的局域輻射流測量系統，其特征在于：所述的精密針孔（4）的直徑為100?um、長度為100?um，精密針孔（4）的兩端面圓孔直徑差小于5?um。

6.根據權利要求1所述的基于精密針孔的局域輻射流測量系統，其特征在于：所述的瞄準節（3）的焦距為500?mm。

7.根據權利要求1所述的基于精密針孔的局域輻射流測量系統，其特征在于：所述的精密針孔（4）的材料采用鎳鈷合金。