[發明專利]一種虹膜識別方法和終端

在審

• 申請號: 201710406100.8
• 申請日: 2017-05-31
• 公開（公告）號: CN107292242A
• 公開（公告）日: 2017-10-24
• 發明（設計）人: 林濤;李培華
• 申請（專利權）人: 華為技術有限公司
• 主分類號: G06K9/00
• 分類號: G06K9/00;H04M1/67;H04M1/725
• 代理公司: 北京中博世達專利商標代理有限公司11274
• 代理人: 申健

1.一種虹膜識別方法，其特征在于，包括：

終端對眼睛的虹膜區域進行內輪廓檢測，根據得到的所述內輪廓的位置確定外輪廓的位置；

所述終端通過眼睛的瞳孔間的連線與水平方向的角度確定雙眼的旋轉角度，并基于所述旋轉角度和所述外輪廓的位置對所述眼睛的眼瞼進行檢測，以得到所述眼瞼的拋物線；

所述終端根據所述外輪廓的位置和所述眼瞼的拋物線去除所述虹膜區域中的眼瞼區域，并對去除所述眼瞼區域以外的虹膜區域進行睫毛檢測和高亮干擾檢測，以去除所述虹膜區域中的睫毛區域和高亮點，得到虹膜圖像；

所述對去除所述眼瞼區域以外的虹膜區域進行睫毛檢測包括：

所述終端根據所述外輪廓的位置確定睫毛候選區域，生成上眼瞼以下、所述外輪廓以內、所述內輪廓以外的睫毛區域掩膜；

所述終端對所述睫毛區域掩膜進行預設角度的濾波并計算梯度幅值，將小于幅值閾值的梯度值以及非睫毛區域的梯度值置零，生成新的睫毛區域掩膜；

所述終端根據所述新的睫毛區域掩膜中每個像素點的梯度值和上眼瞼睫毛的延伸特性確定所述預設角度方向上的睫毛區域；

所述終端根據所述虹膜圖像生成掩膜圖像，并展開所述虹膜圖像得到虹膜展開圖像，以及展開所述掩膜圖像得到掩膜展開圖像；

所述終端根據所述虹膜展開圖像提取局部加權直方圖特征，對所述局部加權直方圖特征計算外積張量序特征，將所述外積張量序特征作為所述虹膜圖像的虹膜紋理；

所述終端根據建模得到的所述虹膜紋理和所述掩膜展開圖像進行特征匹配，以確定虹膜匹配結果。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述終端對眼睛的虹膜區域進行內輪廓檢測，根據得到的所述內輪廓的位置確定所述外輪廓的位置包括：

所述終端利用虹膜檢測器獲取所述眼睛的所述虹膜區域；

所述終端對所述虹膜區域進行邊緣檢測并進行篩選，以剔除所述虹膜區域的干擾點，確定所述內輪廓的圓心位置和半徑；

所述終端利用所述內輪廓的圓心和半徑確定檢測所述外輪廓所用的子圖像，在所述子圖像上確定所述外輪廓的圓心位置和半徑。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述旋轉角度和所述外輪廓的位置對所述眼睛的眼瞼進行檢測，以得到所述眼瞼的拋物線包括：

若所述終端確定所述連線與水平方向的角度大于預設閾值，則所述終端確定所述角度為所述旋轉角度，并將所述虹膜區域按照所述旋轉角度反向旋轉，得到反向旋轉后的所述虹膜區域；

所述終端根據所述反向旋轉后的所述虹膜區域的外輪廓位置確定所述眼瞼的上眼瞼檢測候選區域，濾除所述候選區域的睫毛區域，利用邊緣檢測得到所述上眼瞼的邊緣點并基于拋物線的霍夫變換得到所述上眼瞼的候選拋物線，通過比較各候選拋物線覆蓋的所有像素點的灰度值與灰度值均值的大小關系得到所述上眼瞼的拋物線；

所述終端截取所述眼瞼的下眼瞼檢測子圖像，利用排序濾波器對所述下眼瞼的子圖像濾波，再對濾波后的所述子圖像進行邊緣檢測和邊緣點篩選，并對篩選后的邊緣點進行所述霍夫變換得到所述下眼瞼的拋物線。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述對去除所述眼瞼區域以外的虹膜區域進行高亮干擾檢測包括：

所述終端獲取所述虹膜區域的子圖像，所述虹膜區域的子圖像包括以虹膜圓心為中心的正方形區域，所述正方形區域大于所述外輪廓的區域；

所述終端獲取所述虹膜區域的子圖像的灰度直方圖并進行高斯濾波，將所述灰度直方圖中大于高亮閾值的像素點周圍預設范圍內標記為高亮區域。

5.根據權利要求1-4任一項所述的方法，其特征在于，所述展開所述虹膜圖像得到虹膜展開圖像，以及展開所述掩膜圖像得到所述掩膜展開圖像包括：

所述終端采用彈性變換的方式將所述虹膜圖像由笛卡爾坐標系變換為極坐標系，獲取所述極坐標系中的每個坐標的灰度值，以得到所述虹膜展開圖像；

所述終端采用彈性變換的方式將所述掩膜圖像由笛卡爾坐標系變換為極坐標系，獲取所述極坐標系中的每個坐標的灰度值，以得到所述掩膜展開圖像。