[發明專利]一種測量500kV主變高壓套管介質損耗因數tanδ的方法在審
| 申請號： | 201710405481.8 | 申請日： | 2017-06-01 |
| 公開（公告）號： | CN106990297A | 公開（公告）日： | 2017-07-28 |
| 發明（設計）人： | 廖維東;李惠明;朱克然;曹罡;閔萬雄;李選建;吳勇;王璐 | 申請（專利權）人： | 貴州烏江水電開發有限責任公司構皮灘發電廠 |
| 主分類號： | G01R27/26 | 分類號： | G01R27/26 |
| 代理公司： | 貴陽中新專利商標事務所52100 | 代理人： | 商小川 |
| 地址： | 564408 貴州省*** | 國省代碼： | 貴州;52 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 測量 500 kv 高壓 套管 介質 損耗 因數 tan 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種測量500kV主變高壓套管介質損耗因數tanδ的方法，其特征在于：在解開主變中性點套管的一次接地銅排后，從中性點套管一次回路處施加變頻抗干擾介質損耗測量儀高壓屏蔽線交流試驗電壓10kV，所經一次回路包括主變中性點套管、高壓繞組、高壓套管、500kV GIS、高壓電纜，變頻抗干擾介質損耗測量儀的低壓芯線從主變高壓套管末屏處采集電流，變頻抗干擾介質損耗測量儀即可自動計算tanδ。
2.根據權利要求1所述的測量500kV主變高壓套管介質損耗因數tanδ的方法，其特征在于：所述變頻抗干擾介質損耗測量儀電容量為3pF～120000pF/10kV。
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