[發明專利]一種旋轉式光學層析成像系統及成像方法有效
| 申請號: | 201710405335.5 | 申請日: | 2017-05-31 |
| 公開(公告)號: | CN107314742B | 公開(公告)日: | 2019-08-23 |
| 發明(設計)人: | 李保生;權靚;岳翔;王易誠;劉善林;陶曉杰 | 申請(專利權)人: | 合肥工業大學 |
| 主分類號: | G01B11/00 | 分類號: | G01B11/00;G06T5/50 |
| 代理公司: | 合肥和瑞知識產權代理事務所(普通合伙) 34118 | 代理人: | 王挺 |
| 地址: | 230009 *** | 國省代碼: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 旋轉 光學 層析 成像 系統 方法 | ||
1.一種旋轉式光學層析成像系統的成像方法,其特征在于,旋轉式光學層析成像系統包括沿著待測物(10)待測面的正面方向依次順序布置的道威棱鏡(20)和陣列探測器(40);所述陣列探測器(40)連接計算機(50);所述道威棱鏡(20)以其光軸為旋轉軸,由電機帶動旋轉,所述電機與計算機(50)電連接;所述待測物(10)和陣列探測器(40)視場的中心點均位于道威棱鏡(20)的光軸所在直線上;所述電機采用步進的控制方式,電機每轉動一個設定的周期角度即帶動道威棱鏡(20)轉動一個所述周期角度,所述陣列探測器(40)獲取道威棱鏡(20)位于轉動后的位置時的待測物(10)的圖像投影數據;所述電機和所述陣列探測器(40)通過信號同步控制器實現同步;所述陣列探測器(40)設置為面陣工作模式;成像方法包括以下步驟:
S1,需要得到待測物(10)待測面分辨率為n*n的圖像時,將分辨率為n*n、黑底白點的標的圖像置于待測物(10)的位置,標的圖像表示為S(x,y),x、y分別表示水平方向和垂直方向上的坐標,x=1,2,3…,n,y=1,2,3…,n,點S(x,y)表示第x行、第y列的像素點;電機帶動道威棱鏡(20)繞其光軸旋轉一個α角度,所述α角度小于180°且180/α為整數,使標的圖像在光照下產生的反射光射入道威棱鏡(20),經過道威棱鏡(20)后所射出的光線射在陣列探測器(40)的靶面上形成另一個圖像投影,陣列探測器(40)采集圖像投影信息,獲得標的圖像的圖像投影數據;然后繼續使道威棱鏡(20)轉動α角度,直至道威棱鏡(20)旋轉180°,此時得到180/α個圖像投影,圖像投影表示為Si(x,y),i=1,2,3…,180/α,180/α表示道威棱鏡(20)旋轉180°所需的次數,x、y分別表示水平方向和垂直方向上的坐標,x=1,2,3…,n,y=1,2,3…,n,點Si(x,y)表示旋轉第i次獲得圖像投影的第x行、第y列的像素點;
S2,找出步驟S1中獲得的標的圖像的180/α個圖像投影Si(x,y)中白點的圓心,即白點的質心,質心坐標表示為(xi,yi),i=1,2,3…,180/α,其中第一張標的圖像的圖像投影S1(x,y)中白點的質心坐標為(x1,y1);然后通過采樣擬合圓曲線方法對180/α個質心坐標(xi,yi)擬合成圓,得到擬合圓的圓心(A,B),擬合圓的半徑為R;
S3,以步驟S2中得到的(A,B)為圓心,以質心坐標(x1,y1)為起始點將其圍繞圓心旋轉360°,每2α角度采集一次圖像信息,共得到180/α張質心坐標(x1,y1)的旋轉圖像Hi(corrxi,corryi),i=1,2,3…,180/α,Hi(corrxi,corryi)表示第i張旋轉圖像的坐標,具體公式如下:
corrxi=[(x1-A)cos(2ai)-(y1-B)sin(2ai)]
corryi=[(x1-A)sin(2ai)-(y1-B)cos(2ai)]
S4,對步驟S2中獲得的180/α個圖像投影Si(x,y)中的質心坐標(xi,yi)和步驟S3中得到的旋轉圖像Hi(corrxi,corryi),通過以下公式求差:
Vector(i,1)=corrxi-xi
Vector(i,2)=corryi-yi
其中,Vector(i,1)和Vector(i,2)分別表示第i張圖像在水平方向和垂直方向上的平移矢量;
S5,將步驟S1中的標的圖像換成待測物(10),待測物(10)的待測面表示為U(x,y),x、y分別表示水平方向和垂直方向上的坐標,x=1,2,3…,n,y=1,2,3…,n,點U(x,y)表示第x行、第y列的像素點,重復步驟S1,獲得待測物(10)的180/α個圖像投影,表示為Ui(x,y),i=1,2,3…,180/α,180/α表示道威棱鏡(20)旋轉180°的次數,x、y分別表示水平方向和垂直方向上的坐標,x=1,2,3…,n,y=1,2,3…,n,點Ui(x,y)表示旋轉第i次獲得圖像投影的第x行、第y列的像素點;
S6,將待測物(10)待測面的180/α個圖像投影Ui(x,y)均在水平方向上平移Vector(i,1)、在垂直方向上平移Vector(i,2),得到校正后的180/α個圖像投影Vi(corrxi,corryi),i=1,2,3…,180/α;
S7,對步驟S6中獲得的待測物(10)待測面的多個圖像投影Vi(corrxi,corryi)進行濾波處理,得到多個經過修正的線投影,再將此修正后的線投影做反投影運算,即進行反投影重建,得到多個投影圖像,將此多個投影圖像整合重建成最終的重構圖像。
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