[發明專利]制作AP1000核電站中堆內構件用定位鑲塊的方法

有效

• 申請號: 201710404111.2
• 申請日: 2017-06-01
• 公開（公告）號: CN107093481B
• 公開（公告）日: 2019-03-01
• 發明（設計）人: 郭強;李建;董培科;龔鳳成;姜國國;甘銳;皮興剛;邱承乾
• 申請（專利權）人: 中國核工業第五建設有限公司
• 主分類號: G21C21/00
• 分類號: G21C21/00
• 代理公司: 北京市邦道律師事務所 11437
• 代理人: 薛艷;王麗影

本發明涉及核電站建造領域。為減少工作量，縮短制作耗時，提高制作精度，本發明提出一種制作AP1000核電站中堆內構件用定位鑲塊的方法，布設RV控制點和RV測量點；布設堆內構件控制點和堆內構件測量點；利用激光跟蹤儀對測量點進行測量，根據測量數據在三維建模軟件中建立壓力容器的筒體基準模擬坐標系和基礎模型，建立下部堆內構件的安裝模型；將下部堆內構件的安裝模型導入到壓力容器的基礎模型中并進行對中和管嘴組對；分析計算得出定位鑲塊的加工數據加工得到出定位鑲塊。該制作AP1000核電站中堆內構件用定位鑲塊的方法的制作精度高，工作量小，耗時短。

技術領域

本發明涉及核電站建造領域，尤其涉及一種制作在安裝AP1000核電站中的 下部堆內構件時用到的定位鑲塊的方法。

背景技術

在AP1000核電站中，由于堆內構件與壓力容器是由不同廠家制造的，為滿 足堆內構件與壓力容器之間的裝配要求，需在安裝現場根據實際需要加工制作 安裝在壓力容器上的徑向支撐鍵槽內的定位鑲塊。

目前，常用的制作定位鑲塊時，需先將下部堆內構件吊入壓力容器中并對 下部堆內構件和壓力容器進行對中，然后測量出下部堆內構件中的徑向支撐鍵 與徑向支撐鍵槽之間的間隙的形狀及尺寸，最后根據該間隙的形狀和尺寸制作 定位鑲塊。

由此可見，在采用現有技術制作定位鑲塊時，必須先完成下部堆內構件的 吊裝和對中工作，才能對位于徑向支撐鍵和徑向支撐鍵槽之間用于安裝定位鑲 塊的間隙的形狀和尺寸進行測量，工作量大，測量困難，耗費時間長，且吊裝 會產生一定的偏差，導致測量數據精度低，進而導致加工得到的定位鑲塊的安 裝精度低。

發明內容

為減少制作AP1000核電站中下部堆內構件用定位鑲塊的工作量，縮短制作 耗時，提高制作精度，本發明提出一種制作AP1000核電站中堆內構件用定位鑲 塊的方法，該方法包括如下步驟：

步驟S1、在壓力容器附近及所述壓力容器的筒體內壁上布設RV控制點， 在所述壓力容器上布設RV測量點，且該RV測量點包括RV法蘭測量點、堆芯 支撐面測量點、相接內壁測量點、徑向支撐鍵槽測量點、定位銷槽測量點以及 RV管嘴測量點；將激光跟蹤儀架設在所述RV控制點上，對所述RV法蘭測量 點、所述堆芯支撐面測量點、所述相接內壁測量點、所述徑向支撐鍵槽測量點、 所述定位銷槽測量點以及所述RV管嘴測量點進行測量并得到測量數據，根據所 述RV法蘭測量點的測量數據得出所述壓力容器的上部法蘭的內圓面和內圓中心 點，并以該內圓中心點為坐標原點、所述上部法蘭的內圓面的法線為Z軸建立 所述壓力容器的筒體基準坐標系；

在所述下部堆內構件的四周和所述下部堆內構件的法蘭面上布設堆內構件 控制點，在所述下部堆內構件上布設堆內構件測量點，該堆內構件測量點包括 頂部法蘭上表面測量點、頂部法蘭下表面測量點、頂部法蘭圓柱測量點、徑向 支撐鍵測量點、定位銷測量點以及堆內構件管嘴測量點；將激光跟蹤儀架設在 所述堆內構件控制點上，對所述頂部法蘭上表面測量點、所述頂部法蘭下表面 測量點、所述頂部法蘭圓柱測量點、所述徑向支撐鍵測量點以及所述堆內構件 管嘴測量點進行測量，得到測量數據；根據所述頂部法蘭上表面測量點、所述 頂部法蘭下表面測量點以及所述頂部法蘭圓柱測量點的測量數據得出頂部法蘭 圓面和法蘭圓心，并以該法蘭圓心為坐標原點，所述頂部法蘭圓面的法線為Z 軸建立所述下部堆內構件的基準坐標系；

步驟S2、在三維建模軟件中，建立模擬所述壓力容器的筒體基準坐標系的 筒體基準模擬坐標系，并根據所述堆芯支撐面測量點的測量數據在所述筒體基 準模擬坐標系中建立堆芯支撐面模型并擬合出所述壓力容器的中心點，根據所 述相接內壁測量點的測量數據在所述筒體基準模擬坐標系中建立所述壓力容器 的筒體內壁模型，根據所述定位銷槽測量點的測量數據在所述筒體基準模擬坐 標系中建立所述壓力容器上的定位銷槽模型，根據所述徑向支撐鍵槽測量點的 測量數據在所述筒體基準模擬坐標系中建立所述壓力容器上的徑向支撐鍵槽模 型、根據所述RV管嘴測量點的測量數據在所述筒體基準模擬坐標系中建立所述 RV管嘴模型，得到所述壓力容器的基礎模型；