[發明專利]一種空間離軸共焦拉曼檢測探頭在審
| 申請號: | 201710401298.0 | 申請日: | 2017-05-31 |
| 公開(公告)號: | CN107421941A | 公開(公告)日: | 2017-12-01 |
| 發明(設計)人: | 董作人;戴艷;辛國鋒;孫延光;劉銘暉;瞿榮輝;蔡海文 | 申請(專利權)人: | 中國科學院上海光學精密機械研究所 |
| 主分類號: | G01N21/65 | 分類號: | G01N21/65 |
| 代理公司: | 上海恒慧知識產權代理事務所(特殊普通合伙)31317 | 代理人: | 張寧展 |
| 地址: | 201800 上海市*** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 間離 軸共焦拉曼 檢測 探頭 | ||
1.一種空間離軸共焦拉曼檢測探頭,其特征在于,包括:沿發射光路依次放置的發射光纖、第一準直透鏡、第一濾波片和聚焦透鏡,以及沿接收光路依次放置的聚焦透鏡、第二濾波片、第二準直透鏡和接收光纖,所述的第一準直透鏡的光軸、第二準直透鏡的光軸和聚焦透鏡的光軸互相平行且不重合,所述發射光纖的出射端面位于第一準直透鏡的焦點處,所述接收光纖的入射端面位于第二準直透鏡的焦點處;
激光通過發射光纖經第一準直透鏡準直,再經過第一濾波片濾波后,通過聚焦透鏡聚焦在被測物品上,該被測物品位于聚焦透鏡的焦點處,經激光激發被測物品的拉曼光依次經聚焦透鏡、第二濾波片和第二準直透鏡,聚焦到接收光纖的入射端面。
2.根據權利要求1所述的一種空間離軸共焦拉曼檢測探頭,其特征在于:所述的發射光路為單一發射光路或多路發射光路,所述的多路發射光路由多個互相平行的單一發射光路構成,所述的接收光路為單一接收光路或多路接收光路,所述的多路接收光路由多個互相平行的單一接收光路構成。
3.根據權利要求2所述的一種空間離軸共焦拉曼檢測探頭,其特征在于:所述的多路發射光路和多路接收光路以聚焦透鏡的光軸為中心按照一字排列或圓形排列。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于中國科學院上海光學精密機械研究所,未經中國科學院上海光學精密機械研究所許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201710401298.0/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





