[發(fā)明專利]一種激光光束的波前凈化方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710400450.3 | 申請(qǐng)日: | 2017-05-31 |
| 公開(公告)號(hào): | CN107302171B | 公開(公告)日: | 2020-04-24 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 周壽桓;劉磊;王鋼;趙鴻 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第十一研究所 |
| 主分類號(hào): | H01S3/042 | 分類號(hào): | H01S3/042;H01S3/04 |
| 代理公司: | 工業(yè)和信息化部電子專利中心 11010 | 代理人: | 于金平 |
| 地址: | 100015*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 激光 光束 凈化 方法 | ||
1.一種激光光束的波前凈化方法,其特征在于,包括以下步驟:
將半導(dǎo)體制冷器貼合在光學(xué)材料上;
通過(guò)調(diào)整所述半導(dǎo)體制冷器的溫度和所述半導(dǎo)體制冷器在所述光學(xué)材料上的排布方式,改變所述光學(xué)材料中的折射率場(chǎng)分布,以使當(dāng)帶有波前畸變的激光光束通過(guò)所述光學(xué)材料時(shí),得到凈化的激光光束;
所述調(diào)整所述半導(dǎo)體制冷器的溫度包括以下步驟:
通過(guò)溫度控制單元控制所述半導(dǎo)體制冷器的溫度,當(dāng)帶有波前畸變的激光光束通過(guò)所述光學(xué)材料時(shí)得到補(bǔ)償后的波前畸變;
采集所述補(bǔ)償后的波前畸變,當(dāng)所述補(bǔ)償后的波前畸變達(dá)不到凈化的激光光束的要求時(shí),根據(jù)所述補(bǔ)償后的波前畸變的特點(diǎn)得到所述半導(dǎo)體制冷器下一次需要達(dá)到的溫度;
繼續(xù)通過(guò)溫度控制單元控制所述半導(dǎo)體制冷器的溫度為下一次需要達(dá)到的溫度并采集補(bǔ)償后的波前畸變,直到當(dāng)補(bǔ)償后的波前畸變達(dá)到凈化的激光光束的要求;
其中,所述補(bǔ)償后的波前畸變的特點(diǎn)包括波前畸變的幅值和變化頻率。
2.如權(quán)利要求1所述的激光光束的波前凈化方法,其特征在于,在所述采集補(bǔ)償后的波前畸變之前還包括:
對(duì)所述補(bǔ)償后的波前畸變進(jìn)行分光。
3.如權(quán)利要求1所述的激光光束的波前凈化方法,其特征在于,還包括以下步驟:
當(dāng)所述補(bǔ)償后的波前畸變?yōu)閮艋募す夤馐鴷r(shí),通過(guò)溫度傳感器探測(cè)并顯示所述半導(dǎo)體制冷器的溫度。
4.如權(quán)利要求3所述的激光光束的波前凈化方法,其特征在于,所述通過(guò)調(diào)整所述半導(dǎo)體制冷器的溫度改變所述光學(xué)材料中的折射率場(chǎng)分布,包括:
通過(guò)溫度控制單元控制所述半導(dǎo)體制冷器的溫度為所述溫度傳感器探測(cè)并顯示的溫度。
5.如權(quán)利要求3所述的激光光束的波前凈化方法,其特征在于,所述半導(dǎo)體制冷器貼合在導(dǎo)熱銅塊上,所述導(dǎo)熱銅塊通過(guò)導(dǎo)熱脂貼合在所述光學(xué)材料上,所述溫度傳感器放置在所述導(dǎo)熱銅塊內(nèi)。
6.如權(quán)利要求1或4所述的激光光束的波前凈化方法,其特征在于,所述溫度控制單元用于控制一個(gè)半導(dǎo)體制冷器的溫度,或用于控制由幾個(gè)半導(dǎo)體制冷器構(gòu)成的半導(dǎo)體制冷器組的溫度。
7.如權(quán)利要求1所述的激光光束的波前凈化方法,其特征在于,所述光學(xué)材料的出射面和入射面上均設(shè)有光學(xué)膜。
8.如權(quán)利要求7所述的激光光束的波前凈化方法,其特征在于,將半導(dǎo)體制冷器貼合在除所述出射面和所述入射面的光學(xué)材料的表面。
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